Detail publikace

Příspěvek k problematice termomechanického namáhání v mikroelektronických strukturách

PULEC, J. SZENDIUCH, I.

Originální název

Příspěvek k problematice termomechanického namáhání v mikroelektronických strukturách

Český název

Příspěvek k problematice termomechanického namáhání v mikroelektronických strukturách

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

cs

Originální abstrakt

Článek pojednává o modelování termomechanického namáhání v moderních mikroelektronických strukturách. Počítačové simulace jsou prováděny za využití výpočetního systému ANSYS, který je založen na metodě konečných prvků (FEM). Po simulaci byla získána data vyhodnocena a bylo provedeno porovnání získaných výsledků za účelem určení rozdílu mezi pnutím v různých částech modelované struktury a mezi různými strukturami.

Český abstrakt

Článek pojednává o modelování termomechanického namáhání v moderních mikroelektronických strukturách. Počítačové simulace jsou prováděny za využití výpočetního systému ANSYS, který je založen na metodě konečných prvků (FEM). Po simulaci byla získána data vyhodnocena a bylo provedeno porovnání získaných výsledků za účelem určení rozdílu mezi pnutím v různých částech modelované struktury a mezi různými strukturami.

Klíčová slova

ANSYS, namáhání , 3D struktury

Rok RIV

2011

Vydáno

07.01.2011

Nakladatel

NOVPRESS

Místo

BRNO

ISBN

978-80-214-4229-0

Kniha

MIKROSYN. Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích. (id 15937)

Edice

1

Číslo edice

1

Strany od

19

Strany do

24

Strany počet

115

BibTex


@inproceedings{BUT34874,
  author="Jiří {Pulec} and Ivan {Szendiuch}",
  title="Příspěvek k problematice termomechanického namáhání v mikroelektronických strukturách",
  annote="Článek pojednává o modelování termomechanického namáhání v moderních mikroelektronických strukturách. Počítačové simulace jsou prováděny za využití výpočetního systému ANSYS, který je založen na metodě konečných prvků (FEM). Po simulaci byla získána data vyhodnocena a bylo provedeno porovnání získaných výsledků za účelem určení rozdílu mezi pnutím v různých částech modelované struktury a mezi různými strukturami.",
  address="NOVPRESS",
  booktitle="MIKROSYN. Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích. (id 15937)",
  chapter="34874",
  edition="1",
  howpublished="print",
  institution="NOVPRESS",
  year="2011",
  month="january",
  pages="19--24",
  publisher="NOVPRESS",
  type="conference paper"
}