Detail publikace

Šum mikroplazmy v PN přechodu a její vliv na tvar VA charakteristiky

Raška Michal, Koktavý Pavel

Originální název

Šum mikroplazmy v PN přechodu a její vliv na tvar VA charakteristiky

Anglický název

Microplasma noise in PN junction and its influence on course of a VA characteristic

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

The occurence of microplasma regions in PN junctions is attributed to crystal lattice imperfections. As a rule, these regions feature lower strong-field avalanche ionization breakdown voltages than other homogenous PN junction regions. The existence of such regions may lead to local avalanche breakdowns occuring in reverse-biased PN junctions at certain voltage. These local avalanche breakdowns are represented by two level current impuls noise and affect course of VA characteristics. VA characteristics can exhibit regions with negative differential resistance in certain conditions.

Klíčová slova v angličtině

Microplasma, noise, PN junction, VA characteristic, breakdown, avalanche

Autoři

Raška Michal, Koktavý Pavel

Rok RIV

2006

Vydáno

30. 10. 2006

Nakladatel

Západočeská universita v Plzni

ISBN

80-7043-473-2

Kniha

elektrotechnika a informatika 2006

Číslo edice

1

Strany od

85

Strany do

88

Strany počet

4

BibTex

@inproceedings{BUT20224,
  author="Michal {Raška} and Pavel {Koktavý}",
  title="Šum mikroplazmy v PN přechodu a její vliv na tvar VA charakteristiky",
  booktitle="elektrotechnika a informatika 2006",
  year="2006",
  volume="7",
  number="1",
  pages="4",
  publisher="Západočeská universita v Plzni",
  isbn="80-7043-473-2"
}