Detail publikace

Life Time of Surface Mount Devices

Originální název

Life Time of Surface Mount Devices

Anglický název

Life Time of Surface Mount Devices

Jazyk

en

Originální abstrakt

Cílem práce je zlepšení životnosti pájených SMD součástek, pomocí programu ANSYS. Testovaná struktura je podrobena zkoušce teplotního cyklování v rozmezí od -40 do 120 °C. Dále potom se určí nejvíce namáhané místo v pájeném spoji.

Anglický abstrakt

Cílem práce je zlepšení životnosti pájených SMD součástek, pomocí programu ANSYS. Testovaná struktura je podrobena zkoušce teplotního cyklování v rozmezí od -40 do 120 °C. Dále potom se určí nejvíce namáhané místo v pájeném spoji.

BibTex


@inproceedings{BUT15363,
  author="Marek {Novotný} and Jindřich {Bulva} and Ivan {Szendiuch}",
  title="Life Time of Surface Mount Devices",
  annote="Cílem práce je zlepšení životnosti pájených SMD součástek, pomocí programu ANSYS. Testovaná struktura je podrobena zkoušce teplotního cyklování v rozmezí od -40 do 120 °C. Dále potom se určí nejvíce namáhané místo v pájeném spoji.",
  address="VUT Brno",
  booktitle="EDS 05 IMAPS CS INTERNATIONAL CONFERENCE PROCEEDINGS",
  chapter="15363",
  institution="VUT Brno",
  year="2005",
  month="january",
  pages="344",
  publisher="VUT Brno",
  type="conference paper"
}