Detail publikace

Zlepšenie limitov detekcie nanočasticami zosilnenej spektrometrie laserom budenej (mikro)plazmy

Originální název

Zlepšenie limitov detekcie nanočasticami zosilnenej spektrometrie laserom budenej (mikro)plazmy

Jazyk

sk

Originální abstrakt

Spektrometria laserom budenej (mikro)plazmy (LIBS) je metódou atómovej emisnej spektrometrie, ktorá v súčasnosti naberá na popularite. Medzi hlavné výhody tejto metódy patria rýchlosť a viacprvková analýza. K obmedzeniam metódy patria o niečo vyššie limity detekcie (LOD) oproti ostatným prvkovým analytickým metódam, ako sú napr. rentgenová fluorescenčná spektrometria (XRF) a metódy indukčne viazanej plazmy (ICP). Jedným zo spôsobov, ako dosiahnuť zníženie limitov detekcie pri zachovaní hlavných výhod metódy, je aplikácia nanočastíc na povrch študovanej vzorky, tzv. nanočasticami zosilnená spektrometria laserom budenej (mikro)plazmy (NELIBS). V tejto práci je prezentované zlepšenie detekčných limitov pri aplikácii strieborných nanočastíc na povrch študovaných vzoriek v porovnaní s klasickou LIBS metódou. Súčasne je sledovaný aj vplyv dvoch rôznych vlnových dĺžok Nd:YAG lasera, 532 nm a 1064 nm, na zlepšenie LOD vybraných prvkov študovaných vzoriek v LIBS a NELIBS experimente. Nakoniec boli sledované parametre kráterov, priemer a objem, a to v porovnaní LIBS vs. NELIBS pre obe vybrané vlnové dĺžky ablačných laserov.

Dokumenty

BibTex


@article{BUT127030,
  author="Lucia {Sládková} and Pavel {Pořízka} and David {Prochazka} and Pavlína {Modlitbová} and Jan {Novotný} and Lenka {Klakurková} and Jozef {Kaiser}",
  title="Zlepšenie limitov detekcie nanočasticami zosilnenej spektrometrie laserom budenej (mikro)plazmy",
  annote="Spektrometria laserom budenej (mikro)plazmy (LIBS) je metódou atómovej emisnej spektrometrie, ktorá v súčasnosti naberá na popularite. Medzi hlavné výhody tejto metódy patria rýchlosť a viacprvková analýza. K obmedzeniam metódy patria o niečo vyššie limity detekcie (LOD) oproti ostatným prvkovým analytickým metódam, ako sú napr. rentgenová fluorescenčná spektrometria (XRF) a metódy indukčne viazanej plazmy (ICP). Jedným zo spôsobov, ako dosiahnuť zníženie limitov detekcie pri zachovaní hlavných výhod metódy, je aplikácia nanočastíc na povrch študovanej vzorky, tzv. nanočasticami zosilnená spektrometria laserom budenej (mikro)plazmy (NELIBS). V tejto práci je prezentované zlepšenie detekčných limitov pri aplikácii strieborných nanočastíc na povrch študovaných vzoriek v porovnaní s klasickou LIBS metódou. Súčasne je sledovaný aj vplyv dvoch rôznych vlnových dĺžok Nd:YAG lasera, 532 nm a 1064 nm, na zlepšenie LOD vybraných prvkov študovaných vzoriek v LIBS a NELIBS experimente. Nakoniec boli sledované parametre kráterov, priemer a objem, a to v porovnaní LIBS vs. NELIBS pre obe vybrané vlnové dĺžky ablačných laserov.",
  address="Nakladatelství Fyzikálního ústavu Akademie věd České republiky, v.v.i.",
  chapter="127030",
  howpublished="print",
  institution="Nakladatelství Fyzikálního ústavu Akademie věd České republiky, v.v.i.",
  number="6",
  volume="61",
  year="2016",
  month="july",
  pages="151--157",
  publisher="Nakladatelství Fyzikálního ústavu Akademie věd České republiky, v.v.i.",
  type="journal article - other"
}