Detail publikace

Scanning Probe Microscopy in Technology of Solar Cells Production

MOJROVÁ, B. BAŘINKOVÁ, P. BOUŠEK, J. HÉGR, O. BAŘINKA, R. HOFMAN, J.

Originální název

Scanning Probe Microscopy in Technology of Solar Cells Production

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

This article deals with implementation of SPM techniques (AFM and KPFM) to the characterization of crystalline silicon solar cells.

Klíčová slova

atomic force microscopy, solar cell, texture, roughness, Kelvin probe force microscopy, back surface field

Autoři

MOJROVÁ, B.; BAŘINKOVÁ, P.; BOUŠEK, J.; HÉGR, O.; BAŘINKA, R.; HOFMAN, J.

Rok RIV

2014

Vydáno

5. 12. 2014

Nakladatel

ElectroScope

Místo

Plzeň

ISSN

1802-4564

Periodikum

ElectroScope - http://www.electroscope.zcu.cz

Ročník

2014

Číslo

3

Stát

Česká republika

Strany od

1

Strany do

6

Strany počet

6

URL

http://www.electroscope.zcu.cz

BibTex

@article{BUT111341,
  author="Barbora {Mojrová} and Pavlína {Bařinková} and Jaroslav {Boušek} and Ondřej {Hégr} and Radim {Bařinka} and Jiří {Hofman}",
  title="Scanning Probe Microscopy in Technology of Solar Cells Production",
  journal="ElectroScope - http://www.electroscope.zcu.cz",
  year="2014",
  volume="2014",
  number="3",
  pages="1--6",
  issn="1802-4564",
  url="http://www.electroscope.zcu.cz"
}