Detail publikace
Nedestruktivní spektroskopické metody testování optoelektronických součástek a materiálů
GRMELA, L.
Originální název
Nedestruktivní spektroskopické metody testování optoelektronických součástek a materiálů
Anglický název
Non-destructive spectroscopy testing methodes of optoelectronic devices and materials
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
čeština
Originální abstrakt
Teze přednášky k profesorskému jmenovacímu řízení v oboru elektrotechnická a elektronická technologie
Anglický abstrakt
Teze přednášky k profesorskému jmenovacímu řízení v oboru elektrotechnická a elektronická technologie
Klíčová slova
spektrální šumová hustota, transport nosičů, pohyblivost, 1/f šum, poměr sigálúšum, spolehlivost, evanescentní pole, nanometrologie, fotoproud
Klíčová slova v angličtině
Sspectral noise density, transporrt charges, mobility, 1/f noise, signal / noise ratio, reliability, degradation, evanescent fiel, nanometrology, photocurrent
Autoři
GRMELA, L.
Rok RIV
2012
Vydáno
2. 1. 2012
ISSN
1213-418X
Periodikum
Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně Edice Habilitační a inaugurační spisy
Ročník
2012
Číslo
401
Stát
Česká republika
Strany od
1
Strany do
35
Strany počet
35
BibTex
@article{BUT96594,
author="Lubomír {Grmela}",
title="Nedestruktivní spektroskopické metody testování optoelektronických součástek a materiálů",
journal="Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně Edice Habilitační a inaugurační spisy",
year="2012",
volume="2012",
number="401",
pages="1--35",
issn="1213-418X"
}