Detail publikace

Nedestruktivní spektroskopické metody testování optoelektronických součástek a materiálů

GRMELA, L.

Originální název

Nedestruktivní spektroskopické metody testování optoelektronických součástek a materiálů

Český název

Nedestruktivní spektroskopické metody testování optoelektronických součástek a materiálů

Anglický název

Non-destructive spectroscopy testing methodes of optoelectronic devices and materials

Typ

článek v časopise

Jazyk

cs

Originální abstrakt

Teze přednášky k profesorskému jmenovacímu řízení v oboru elektrotechnická a elektronická technologie

Český abstrakt

Teze přednášky k profesorskému jmenovacímu řízení v oboru elektrotechnická a elektronická technologie

Anglický abstrakt

Teze přednášky k profesorskému jmenovacímu řízení v oboru elektrotechnická a elektronická technologie

Klíčová slova

spektrální šumová hustota, transport nosičů, pohyblivost, 1/f šum, poměr sigálúšum, spolehlivost, evanescentní pole, nanometrologie, fotoproud

Rok RIV

2012

Vydáno

02.01.2012

Strany od

1

Strany do

35

Strany počet

35

BibTex 


@article{BUT96594,
  author="Lubomír {Grmela}",
  title="Nedestruktivní spektroskopické metody testování optoelektronických součástek a materiálů",
  annote="Teze přednášky k profesorskému jmenovacímu řízení v oboru elektrotechnická a elektronická technologie",
  chapter="96594",
  number="401",
  volume="2012",
  year="2012",
  month="january",
  pages="1--35",
  type="journal article"
}