Detail publikace

VÝZKUM VLASTNOSTÍ NELINEÁRNÍCH KAPACITORŮ V TECHNOLOGII CMOS

SUTORÝ, T.

Originální název

VÝZKUM VLASTNOSTÍ NELINEÁRNÍCH KAPACITORŮ V TECHNOLOGII CMOS

Český název

VÝZKUM VLASTNOSTÍ NELINEÁRNÍCH KAPACITORŮ V TECHNOLOGII CMOS

Typ

výzkumná zpráva

Jazyk

cs

Originální abstrakt

Cílem projektu je vytvoření metodiky měření integrovaných nelineárních kondenzátorů a vývoj měřícího zařízení pro testovací čip ovládaného z počítače typu PC určeného k tomuto účelu.

Český abstrakt

Cílem projektu je vytvoření metodiky měření integrovaných nelineárních kondenzátorů a vývoj měřícího zařízení pro testovací čip ovládaného z počítače typu PC určeného k tomuto účelu.

Rok RIV

2005

Vydáno

01.01.2005

Místo

Brno

Strany od

1

Strany do

16

Strany počet

16

Dokumenty

BibTex


@techreport{BUT57557,
  author="Tomáš {Sutorý}",
  title="VÝZKUM VLASTNOSTÍ NELINEÁRNÍCH KAPACITORŮ V TECHNOLOGII CMOS",
  annote="Cílem projektu je vytvoření metodiky měření integrovaných nelineárních kondenzátorů a vývoj měřícího zařízení pro testovací čip ovládaného z počítače typu PC určeného k tomuto účelu.",
  chapter="57557",
  edition="1",
  year="2005",
  month="january",
  pages="1",
  type="report"
}