Optimalizace testu pro nízký příkon

Test optimization for low power consumption

článek ve sborníku mimo WoS a Scopus

čeština

Příspěvek se zabývá optimalizací testu pro nízký příkon. V příspěvku je představena metoda umožňuje stanovení příkonu obvodu během aplikace testu s využitím metrik NTC, WNTC, WSA, P a E. Metoda využívá knihovnu sestavenou z výsledků měření fyzické realizace prvků. Prezentovaná metoda umožňuje současně optimalizovat pořadí registrů v řetězcích scan a pořadí aplikace testovacích vektorů. Pro prohledávání stavového prostoru je použito genetického algoritmu. Výhodou metody je přímá vazba s realizační technologií, díky čemuž lze dosáhnout kvalitnějších výsledků ve srovnání s běžně používanými metodami.

The paper deals with the test optimization for low power consumption. At first the methodology for power consumption estimation during the test application is presented. The methodology can be used for power consumption estimation in NTC, WNTC, WSA, P and E metrics. The technological library is utilized in the methodology. In next part of the paper, the methodology for test vectors and scan chain reordering is presented. In the methodology all reorderings are performed simultaneously. The genetic algorithm is utilized in the process. The advantage of the methodology is direct binding with realization technology that renders more accurate results in comparison with general methods.

testování číslicových obvodů, nízký příkon, optimalizace pořadí aplikace testovacích vektorů, optimalizace pořadí zapojení registrů v řetězci scan

digital circuit testing, low power consumption, test vectors reordering, scan chain reordering

ŠKARVADA, J.

2008

1. 9. 2008

Technická univerzita v Liberci

Liberec

978-80-7372-378-1

Počítačové architektury a diagnostika 2008

103

111

9