Detail publikace

Skenování materiálů lokální optickou sondou v blízkém poli

ŠKARVADA, P. TOMÁNEK, P. MACKŮ, R.

Originální název

Skenování materiálů lokální optickou sondou v blízkém poli

Český název

Skenování materiálů lokální optickou sondou v blízkém poli

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

cs

Originální abstrakt

V článku je popsán základní princip a možnosti mikroskopie se skenující lokální optickou sondou v blízkém poli. Je ukázáno spektrum fotoluminiscence kvantových teček InAs/GaAs, topografie a lokální odrazivost povrchu téhož vzorku. Vzhledem ke stejnému místu na povrchu vzorku při pořízení snímku topografie a lokální odrazivosti lze pozorovat korelaci mezi zmíněnými obrázky. Dále je předvedeno možné schéma mikroskopu pro měření lokální fotoluminiscence s detekcí ve vzdáleném poli. Spektrum generované fotoluminiscence vzorku kvantových teček při buzení zeleným laserovým světlem o vlnové délce lambda= 488 nm je dominantní na vlnové délce 1325 nm při teplotě okolí 300 K.

Český abstrakt

V článku je popsán základní princip a možnosti mikroskopie se skenující lokální optickou sondou v blízkém poli. Je ukázáno spektrum fotoluminiscence kvantových teček InAs/GaAs, topografie a lokální odrazivost povrchu téhož vzorku. Vzhledem ke stejnému místu na povrchu vzorku při pořízení snímku topografie a lokální odrazivosti lze pozorovat korelaci mezi zmíněnými obrázky. Dále je předvedeno možné schéma mikroskopu pro měření lokální fotoluminiscence s detekcí ve vzdáleném poli. Spektrum generované fotoluminiscence vzorku kvantových teček při buzení zeleným laserovým světlem o vlnové délce lambda= 488 nm je dominantní na vlnové délce 1325 nm při teplotě okolí 300 K.

Klíčová slova

SNOM, mikroskopie, fotoluminiscence

Rok RIV

2007

Vydáno

29.11.2007

Nakladatel

Brno University of Technology

Místo

Brno

ISBN

978-80-7204-549-5

Kniha

5th Workshop NDT 2007. Non-destructive testing in engineering practice

Číslo edice

1

Strany od

150

Strany do

154

Strany počet

4

BibTex


@inproceedings{BUT25514,
  author="Pavel {Škarvada} and Pavel {Tománek} and Robert {Macků}",
  title="Skenování materiálů lokální optickou sondou v blízkém poli",
  annote="V článku je popsán základní princip a možnosti mikroskopie se skenující lokální optickou sondou v blízkém poli. Je ukázáno spektrum fotoluminiscence kvantových teček InAs/GaAs, topografie a lokální odrazivost povrchu téhož vzorku. Vzhledem ke stejnému místu na povrchu vzorku při pořízení snímku topografie a lokální odrazivosti lze pozorovat korelaci mezi zmíněnými obrázky. Dále je předvedeno možné schéma mikroskopu pro měření lokální fotoluminiscence s detekcí ve vzdáleném poli. Spektrum generované fotoluminiscence vzorku kvantových teček při buzení zeleným laserovým světlem o vlnové délce lambda= 488 nm je dominantní na vlnové délce 1325 nm při teplotě okolí 300 K.",
  address="Brno University of Technology",
  booktitle="5th Workshop NDT 2007. Non-destructive testing in engineering practice",
  chapter="25514",
  howpublished="print",
  institution="Brno University of Technology",
  year="2007",
  month="november",
  pages="150--154",
  publisher="Brno University of Technology",
  type="conference paper"
}