Detail publikace

Dynamické testování solárních článků.

J.Boušek

Originální název

Dynamické testování solárních článků.

Anglický název

Dynamic testing of solar cells

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Characterization of solar cells based on evaluation of solar cell response to fast transients is described. The measurement and evaluation procedure is very simple and no expensive devices are needed. The parameters as the reverse breakdown voltage, depletion layer width and capacitance, serial and parallel resistance and minority carrier lifetime can be acquired easily. To cancel the influence of the depletion layer capacitance a voltage bias in the range 400 – 500 mV was used. The voltage bias was made with dark current bias or with light bias. The measurement and evaluation scheme is given and some parameters of different quality solar cells are discussed.

Klíčová slova

solar cells, reverse breakdown voltage, minority carrier lifetime, recombination, diffusion capacitance

Autoři

J.Boušek

Rok RIV

2005

Vydáno

15. 12. 2005

Nakladatel

Nakl. Novotný

Místo

Brno

ISBN

80-214-3116-4

Kniha

Mikrosyn. Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích. Sborník seminare

Strany od

168

Strany do

173

Strany počet

6

BibTex

@inproceedings{BUT20900,
  author="Jaroslav {Boušek}",
  title="Dynamické testování solárních článků.",
  booktitle="Mikrosyn. Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích. Sborník seminare",
  year="2005",
  pages="6",
  publisher="Nakl. Novotný",
  address="Brno",
  isbn="80-214-3116-4"
}