Detail publikace

THE IMPACT OF CRITICAL FLOW IN DIFFERENTIALLY PUMPED CHAMBER

HLAVATÁ, P. BAYER, R.

Originální název

THE IMPACT OF CRITICAL FLOW IN DIFFERENTIALLY PUMPED CHAMBER

Anglický název

THE IMPACT OF CRITICAL FLOW IN DIFFERENTIALLY PUMPED CHAMBER

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Environmentální rastrovací elektronový mikroskop (EREM), který je konstruován pro vysoký tlak plynů v komoře vzorku namísto vakua, umožňuje studovat vzorky obsahující vodu nebo živé biologické vzorky bez nutnosti jejich speciální úpravy. To z důvodu, že mezi komoru vzorku a tubus je vložena diferenciálně čerpaná komora. Vzhledem k velkým tlakovým spádům u této konstrukce dochází při čerpání plynu k nadzvukovému proudění za clonou oddělující komoru vzorku od diferenciálně čerpané komory. To se projevuje specifickým jevem kritického proudění ve cloně a poklesem tlaku v proudu v nadzvukové oblasti. Vhodnou konstrukční úpravou je možné využít daný jev a docílit snížení průměrného tlaku plynu ve dráze primárního svazku. To má za následek snížení rozptylu primárního svazku a zvýšení ostrosti výsledného obrazu.

Anglický abstrakt

Environmentální rastrovací elektronový mikroskop (EREM), který je konstruován pro vysoký tlak plynů v komoře vzorku namísto vakua, umožňuje studovat vzorky obsahující vodu nebo živé biologické vzorky bez nutnosti jejich speciální úpravy. To z důvodu, že mezi komoru vzorku a tubus je vložena diferenciálně čerpaná komora. Vzhledem k velkým tlakovým spádům u této konstrukce dochází při čerpání plynu k nadzvukovému proudění za clonou oddělující komoru vzorku od diferenciálně čerpané komory. To se projevuje specifickým jevem kritického proudění ve cloně a poklesem tlaku v proudu v nadzvukové oblasti. Vhodnou konstrukční úpravou je možné využít daný jev a docílit snížení průměrného tlaku plynu ve dráze primárního svazku. To má za následek snížení rozptylu primárního svazku a zvýšení ostrosti výsledného obrazu.

Klíčová slova

ANSYS Fluent, Electron microscopy, Environmental scanning electron microscope, ESEM, Shock wave, SolidWorks

Klíčová slova v angličtině

ANSYS Fluent, Electron microscopy, Environmental scanning electron microscope, ESEM, Shock wave, SolidWorks

Autoři

HLAVATÁ, P.; BAYER, R.

Vydáno

27. 4. 2017

Nakladatel

Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních

Místo

Brno

ISBN

978-80-214-5496-5

Kniha

Proceedings of the 23rd Conference STUDENT EEICT 2017

Číslo edice

1

Strany od

105

Strany do

107

Strany počet

3

BibTex

@inproceedings{BUT135731,
  author="Pavla {Šabacká} and Robert {Bayer}",
  title="THE IMPACT OF CRITICAL FLOW IN DIFFERENTIALLY PUMPED CHAMBER",
  booktitle="Proceedings of the 23rd Conference STUDENT EEICT 2017",
  year="2017",
  number="1",
  pages="105--107",
  publisher="Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních",
  address="Brno",
  isbn="978-80-214-5496-5"
}