Detail patentu

Interferometrický systém

KOLMAN, P. CHMELÍK, R.

Typ patentu

užitný vzor

Abstrakt

Interferometrický systém k využití v digitální holografické mikroskopii k pozorování vzorků v odraženém i procházejícím záření a k pozorování luminiscenčních vzorků.

Klíčová slova

fluorescence; interferometry; tomography; fluorescence coherence tomography; nanoscale profiling

Číslo patentu

28139

Datum přihlášky

20. 10. 2014

Datum zápisu

28. 4. 2015

Vlastník

Vysoké učení technické v Brně, Brno, CZ

Možnosti využití

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

Licenční poplatek

Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek

www