Detail produktu

Tester pro dynamické zkoušky spolehlivosti výkonových MOS buněk

ŠOTNER, R. GÖTTHANS, T. DŘÍNOVSKÝ, J. PETRŽELA, J. KRATOCHVÍL, T.

Typ produktu

funkční vzorek

Abstrakt

Tester slouží pro experimentální testování spolehlivosti výkonových CMOS buněk při dynamickém pulzním buzení. Umožňuje budit buňku napětím a současně měření průběhů napětí na tranzistorovém stupni a signálu indikujícího interní teplotu čipu za pomoci vestavěného senzoru teploty. Ve spolupráci s automatizovaným měřícím pracovištěm a obslužným softwarem je dovoleno ovládat měřící proceduru a zajistit záznam všech dat spolu s vizuálním stavem degradace čipu díky mikroskopu s webkamerou. Přípravek pracuje s pouzdry DIP28 (poskytl ON Semiconductor BVBA, Oudenaarde) a jako takový dovoluje připojení k běžnému laboratornímu vybavení (není nutná speciální měřící karta) komunikujícímu pomocí GPIB.

Klíčová slova

výkonová buňka, dynamické testování, CMOS, spolehlivost

Datum vzniku

13.11.2015

Umístění

Ústav Radioelektroniky, FEKT VUT v Brně, Technická 3082/12, SD6.86

Možnosti využití

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

Licenční poplatek

Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje licenční poplatek

www