Detail publikace

Charakterizace kontaktních vrstev konektorů

WASSERBAUER, J.

Originální název

Charakterizace kontaktních vrstev konektorů

Anglický název

Characterization of contact layers of connectors

Typ

zpráva odborná

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Tloušťka kontaktních vrstev (cínu a stříbra) byla stanovena pomocí strukturní analýzy.

Anglický abstrakt

The thickness of contact layer (tin and silver) was determined using of structural analysis.

Klíčová slova

Cín, stříbro, vrstvy, strukturní analýza.

Klíčová slova v angličtině

Tin, silver, layers, structural analysis.

Autoři

WASSERBAUER, J.

Vydáno

29. 11. 2012

Strany od

1

Strany do

18

Strany počet

18

BibTex

@techreport{BUT106319,
  author="Jaromír {Wasserbauer}",
  title="Charakterizace kontaktních vrstev konektorů",
  year="2012",
  pages="1--18"
}