Detail projektu

Nanoelectronic COupled Problems Solutions (nanoCOPS) - evropský projekt FP7 STREP č. 619166

Období řešení: 01.01.2014 — 31.12.2016

O projektu

Designs in nanoelectronics often lead to large-size simulation problems and include strong feedback couplings. Industry demands the provisions of variability to guarantee quality and yield. It also requires the incorporation of higher abstraction levels to allow for system simulation in order to shorten the design cycles, while at the same time preserving accuracy. The nanoCOPS project addresses the simulation of two technically and commercially important problem classes identified by our industrial partners.

Klíčová slova
Co-simulation, Model Order Reduction (MOR), Monolithic time integration, Multirate time integration, Uncertainty Quantification (UQ)

Označení

FP7 nanoCOPS

Originální jazyk

angličtina

Řešitelé

Kratochvíl Tomáš, prof. Ing., Ph.D.
- hlavní řešitel (01.01.2014 - 31.10.2016)
Dřínovský Jiří, Ing., Ph.D.
- spoluřešitel (01.01.2014 - 31.10.2016)
Götthans Tomáš, doc. Ing., Ph.D.
- spoluřešitel (01.01.2014 - 31.10.2016)
Petržela Jiří, doc. Ing., Ph.D.
- spoluřešitel (01.01.2014 - 24.10.2016)
Šotner Roman, doc. Ing., Ph.D.
- spoluřešitel (01.01.2014 - 24.10.2016)

Útvary

Ústav radioelektroniky
- příjemce (01.01.2014 - 31.12.2016)
oddělení-REL-SIX
- spolupříjemce (01.01.2014 - 31.12.2016)

Zdroje financování

Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR - Podpora projektů sedmého rámcového programu Evropského společenství pro výzkum, technologický rozvoj a demonstrace (2007 až 2013) podle zákona č. 171/2007 Sb.
- plně financující (2014-01-01 - 2016-10-31)

Výsledky

ŠOTNER, R.; PETRŽELA, J.; GÖTTHANS, T.; DŘÍNOVSKÝ, J.; KRATOCHVÍL, T.: Bondwire tester; Šestikanálový tester bondovacích vodičů. Ústav Radioelektroniky, FEKT VUT v Brně, Technická 3082/12, SD6.86. URL: http://www.urel.feec.vutbr.cz/web_documents/produkty/2014/Sotner_bondwire_tester_CZ.pdf. (funkční vzorek)
Detail

ŠOTNER, R.; GÖTTHANS, T.; DŘÍNOVSKÝ, J.; PETRŽELA, J.; KRATOCHVÍL, T.: Powercell tester; Tester pro dynamické zkoušky spolehlivosti výkonových MOS buněk. Ústav Radioelektroniky, FEKT VUT v Brně, Technická 3082/12, SD6.86. URL: http://www.urel.feec.vutbr.cz/web_documents/produkty/2015/Sotner_powercell_tester_CZ.pdf. (funkční vzorek)
Detail

GÖTTHANS, T.; DŘÍNOVSKÝ, J.; PETRŽELA, J.; ŠOTNER, R.; KRATOCHVÍL, T.: nanocops SW powercell; Program pro automatizovanou pro lokalizaci prasklin zatížených tranzistorových buněk. Ústav Radioelektroniky, FEKT VUT v Brně, Technická 3082/12. URL: http://www.urel.feec.vutbr.cz/web_documents/software/2015/Gotthans_NANOCOPS_SW_CZ.pdf. (software)
Detail

GÖTTHANS, T.: 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE). Drážďany (14.03.2016)
Detail