Detail projektu

Struktury pro nanofotoniku a nanoelektroniku

Období řešení: 01.03.2006 — 31.12.2010

Zdroje financování

Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR - Centra základního výzkumu

- plně financující (2006-03-01 - 2010-12-31)

O projektu

Cílem je nalézt nebo vytvořit nanostruktury s možným uplatněním ve fotonických nebo elektronických součástkách a vytypovat funkčních vlastností těchto nanostruktur.Indikátory dosažení A) Nalezení a zavedení nových metod tvorby: Selektivní růst nanostruktur na bázi řízeného samouspořádávání. Tvorba nanodrátů zejména elektrolýzou, respektive pomocí katalytických nanočástic. B) Získání poznatků a zkušeností o principech a zákonitostech určujících vlastnosti a chování nanostrutur: Charakterizace lokálních elektrických vlastností nanodrátů. Charakterizace rozhraní mezi nanostrukturami. Lokální měření fotoodezvy nanostruktur. Plazmonové polaritony v kovových nanostrukturách. Vlastnosti rezonančních plazmonických nanoantén. Povrchově funkcionalizované nanostruktury pro cílené řízení interakce nanostruktur navzájem a se svým okolím. Prostředky ověření Výsledky budou publikovány formou článků a prezentovány na konferencích.

Popis anglicky
The main goal is to fabricate nanostructures with a potential application in photonic and/or electronic devices and to specify functional properties of these nanostructures.Indicators of achievements A) Finding and introduction of novel methods of fabrication: Selective growth of nanostructures utilizing a guided self-assembly. Preparation of nanowires, especially by electrolysis or by catalytic nanoparticles. B) Acquiring knowledge and experience on principles responsible for properties and behaviour of nanostructures: Characterisation of local electric properties of nanowires.Characterisation of interfaces between nanostructures. Local measurements of photoresponse of nanostructures Plasmon polaritons in metallic nanostructures. Properties of resonant plasmonic nanoantennas. Surface functionalised nanostructures for the targeted control of interactions between them and with the surroundings.

Klíčová slova
nanostruktury, lokální anodická oxidace (LAO), SPM, řízené samouspořádávání, lokální vodivost, plazmonika, nanofotonika, nanoelektronika

Klíčová slova anglicky
Nanostructures, local anodic oxidation (LAO), SPM, guided self-assembly, local conductivity, plasmonics, nanofotonics, nanoelectronics

Označení

LC06040

Originální jazyk

čeština

Řešitelé

Útvary

Ústav fyzikálního inženýrství
- příjemce (01.03.2006 - 31.12.2010)

Výsledky

ČECHAL, J.; MACH, J.; VOBORNÝ, S.; KOSTELNÍK, P.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. A study of Ga layers on Si(100)-(2x1) by SR-PES: influence of adsorbed water. Surface Science, 2007, vol. 601, no. 9, p. 2047-2053. ISSN: 0039-6028.
Detail

KOLÍBAL, M.; KALOUSEK, R.; NOVÁK, L.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. Controlled faceting in (110) germanium nanowire growth by switching between vapor-liquid-solid and vapor-solid-solid growth. Applied Physics Letters, 2012, vol. 100, no. 20, p. 203102-1 (203102-4 p.)ISSN: 0003-6951.
Detail

SCHMID, M.; REICHO, A.; STIERLE, A.; COSTINA, I.; KLIKOVITS, J.; KOSTELNÍK, P.; DUBAY, O.; KRESSE, G.; GUSTAFSON, J.; LUNDGREN, E.; ANDERSEN, J.; DOSCH, H.; VARGA, P. Structure of Ag(111)-p(4x4)-O: No Silver Oxide. Physical Review Letters, 2006, vol. 96, no. 14, p. 146102-4. ISSN: 0031-9007.
Detail

ČERVENKA, J.; KALOUSEK, R.; BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; ŠIKOLA, T. Fabrication of nanostructures on Si(100) and GaAs(1 0 0) by local anodic oxidation. Applied Surface Science, 2006, vol. 253, no. 5, p. 2373-2378. ISSN: 0169-4332.
Detail

ČECHAL, J.; KOLÍBAL, M.; KOSTELNÍK, P.; ŠIKOLA, T. Gallium structure on the Si(111)-(7 x 7) surface: influence of Ga coverage and temperature. Journal of Physics: Condensed Matter, 2007, vol. 19, no. 1, p. 016011 ( p.)ISSN: 0953-8984.
Detail

BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. The influence of humidity on the kinetics of local anodic oxidation. Journal of Physics: Conference Series, 2007, vol. 61, no. 0, p. 75-79. ISSN: 1742-6588.
Detail

PRIMETZHOFER, D.; MARKIN, S.; ZEPPENFELD, P.; BAUER, P.; PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Quantitative analysis of ultra thin layer growth by time-of-flight low energy ion scattering. Applied Physics Letters, 2008, vol. 92, no. 1, p. 011929-1 (011929-3 p.)ISSN: 0003-6951.
Detail

KOLÍBAL, M.; TOMANEC, O.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; MARKIN, S.; DITTRICHOVÁ, L.; SPOUSTA, J.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. TOF-LEIS spectra of Ga/Si: Peak shape analysis. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2007, vol. 265, no. 2, p. 569-575. ISSN: 0168-583X.
Detail

KOSTELNÍK, P.; SERIANI, N.; KRESSE, G.; MIKKELSEN, A.; LUNDGREN, E.; BLUM, V.; ŠIKOLA, T.; VARGA, P.; SCHMID, M. The Pd(100)-(SQRT(5)xSQRT(5))R27-O surface oxide: a LEED, DFT and STM study. Surface Science, 2007, vol. 601, no. 6, p. 1574-1581. ISSN: 0039-6028.
Detail

MACH, J.; ČECHAL, J.; KOLÍBAL, M.; POTOČEK, M.; ŠIKOLA, T. Atomic hydrogen induced gallium nanocluster formation on the Si(100) surface. Surface Science, 2008, vol. 602, no. 10, p. 1898-1902. ISSN: 0039-6028.
Detail

POTOČEK, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Využití termální desorpční spektroskopie při studiu povrchové kontaminace. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 217-218. ISSN: 0447-6441.
Detail

ČECHAL, J.; POLČÁK, J.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Formation of copper islands on a native SiO2 surface at elevated temperatures. Applied Surface Science, 2010, vol. 256, no. 11, p. 3636-3641. ISSN: 0169-4332.
Detail

KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Stability of hydrogen-terminated silicon surface under ambient atmosphere. Applied Surface Science, 2010, vol. 256, no. 11, p. 3423-2426. ISSN: 0169-4332.
Detail

KOLÍBAL, M.; ČECHAL, T.; KOLÍBALOVÁ, E.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Self-limiting cyclic growth of gallium droplets on Si(111). NANOTECHNOLOGY, 2008, vol. 19, no. 46, p. 475606-1 (475606-5 p.)ISSN: 0957-4484.
Detail

URBÁNEK, M.; UHLÍŘ, V.; BÁBOR, P.; KOLÍBALOVÁ, E.; HRNČÍŘ, T.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Focused ion beam fabrication of spintronic nanostructures: an optimization of the milling process. NANOTECHNOLOGY, 2010, vol. 21, no. 14, p. 145304-1 (145304-7 p.)ISSN: 0957-4484.
Detail

ČECHAL, J.; LUKSCH, J.; KOŇÁKOVÁ, K.; URBÁNEK, M.; KOLÍBALOVÁ, E.; ŠIKOLA, T. Morphology of cobalt layers on native SiO2 surfaces at elevated temperatures: formation of Co islands. Surface Science, 2008, vol. 602, no. 15, p. 2693-2698. ISSN: 0039-6028.
Detail

KOSTELNÍK, P.; ŠIKOLA, T.; SCHMID, M.; VARGA, P. A LEED study of NO superstructures on the Pd(111) surface. Journal of Physics: Condensed Matter, 2009, vol. 21, no. 13, p. 134005-1 (134005-7 p.)ISSN: 0953-8984.
Detail

POLČÁK, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; URBÁNEK, M.; PRŮŠA, S.; ŠIKOLA, T. Angle-resolved XPS depth profiling of modeled structures: testing and improvement of the method. Surface and Interface Analysis, 2010, vol. 42, no. 5-6, p. 649-652. ISSN: 0142-2421.
Detail

ŠIKOLA, T.; KEKATPURE, R.; BARNARD, E.; WHITE, J.; VAN DORPE, P.; BŘÍNEK, L.; TOMANEC, O.; ZLÁMAL, J.; LEI, D.; SONNEFRAUD, Y.; MAIER, S.; HUMLÍČEK, J.; BRONGERSMA, M. Mid-IR plasmonic antennas on silicon-rich oxinitride absorbing substrates: Nonlinear scaling of resonance wavelengths with antenna length. Applied Physics Letters, 2009, vol. 95, no. 25, p. 253109-1 (253109-3 p.)ISSN: 0003-6951.
Detail

POLČÁK, J.; BÁBOR, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Manipulátor vzorku pro rentgenovou fotoelekronovou spektroskopii do velmi vysokého vakua. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 215-216. ISSN: 0447-6441.
Detail

PLŠEK, R.; UHLÍŘ, V.; URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Měření magnetických vlastností tenkých vrstev pomocí magnetooptického Kerrova jevu. Jemná mechanika a optika, 2008, roč. 52, č. 6, s. 184-186. ISSN: 0447-6441.
Detail

TOMANEC, O.; HRNČÍŘ, T.; LOVICAR, L.; ŠUSTR, L.; BŘÍNEK, L.; KALOUSEK, R.; CHMELÍK, R.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Studium vlastností mikro- a nanostruktur v oblasti plazmoniky na Ústavu fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně. Jemná mechanika a optika, 2008, roč. 52, č. 6, s. 187-189. ISSN: 0447-6441.
Detail

BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; KALOUSEK, R.; NEUMAN, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Mechanika iontů jako prostředek k analýze nanosvěta. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 209-214. ISSN: 0447-6441.
Detail

BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Role of humidity in local anodic oxidation: A study of water condensation and electric field distribution. PHYSICAL REVIEW B, 2009, vol. 79, no. 19, p. 195406-195412. ISSN: 1098-0121.
Detail

ČECHAL, J.; TOMANEC, O.; ŠKODA, D.; KOŇÁKOVÁ, K.; HRNČÍŘ, T.; MACH, J.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Selective growth of Co islands on ion beam induced nucleation centers in a native SiO2 film. Journal of Aplied Physics, 2009, vol. 105, no. 8, p. 084314-1 (084314-6 p.)ISSN: 0021-8979.
Detail

ČECHAL, J.; POLČÁK, J.; TOMANEC, O.; ŠIKOLA, T. Řízený růst kobaltových ostrůvků na křemíkovém substrátu. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 222-224. ISSN: 0447-6441.
Detail

ŠKODA, D.; KALOUSEK, R.; TOMANEC, O.; BARTOŠÍK, M.; BŘÍNEK, L.; ŠUSTR, L.; ŠIKOLA, T. Studium optických vlastností nanostruktur pomocí mikroskopie blízkého pole. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 219-222. ISSN: 0447-6441.
Detail

SPOUSTA, J.; ZLÁMAL, J.; URBÁNEK, M.; BĚHOUNEK, T.; PLŠEK, R.; KALOUSEK, R.; ŠIKOLA, T. Citlivostní analýza vyhodnocování optických parametrů tenkých vrstev (aneb jaké jsou naše šance získat věrohodný výsledek fitováním spekter odrazivosti). Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 225-228. ISSN: 0447-6441.
Detail

BARTOŠÍK, M.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Selective growth of metallic nanostructures on surfaces patterned by AFM local anodic oxidation. JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY, 2009, vol. 9, no. 10, p. 5887-5890. ISSN: 1533-4880.
Detail

ČECHAL, J.; MATLOCHA, T.; POLČÁK, J.; KOLÍBAL, M.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Characterization of oxidized gallium droplets on silicon surface: an ellipsoidal droplet shape model for angle resolved X-ray photoelectron spectroscopy analysis. Thin Solid Films, 2009, vol. 517, no. 6, p. 1928-1934. ISSN: 0040-6090.
Detail

MATLOCHA, T.; PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; PRIMETZHOFER, D.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. A study of a LEIS azimuthal scan behavior: Classical dynamics simulation. Surface Science, 2010, vol. 604, no. 21-22, p. 1906-1911. ISSN: 0039-6028.
Detail

KOLÍBAL, M.; MATLOCHA, T.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. Low energy focused ion beam milling of silicon and germanium nanostructures. NANOTECHNOLOGY, 2011, vol. 22, no. 10, p. 105304-1 (105304-8 p.)ISSN: 0957-4484.
Detail

KOH, A.; TOMANEC, O.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T.; MAIER, S.; MCCOMB, D. HRTEM and EELS of nanoantenna structures fabricated using focused ion beam techniques. Journal of Physics: Conference Series, 2010, vol. 241, no. 1, p. 012041-1 (012041-4 p.)ISSN: 1742-6588.
Detail

BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Depth resolution enhancement by combined DSIMS and TOF-LEIS profiling. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2011, vol. 269, no. 3, p. 369-373. ISSN: 0168-583X.
Detail

PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Analysis of thin films by TOF-LEIS. ACTA PHYSICA POLONICA A, 2007, vol. 111, no. 3, p. 335-341. ISSN: 0587-4246.
Detail

BÁBOR, P.; MAŠEK, K. Metody povrchové a tenkovrstvové analýzy prvkového složení (XPS, AES, SIMS), dirfrakce elektronů. Materials Structure, 2011, roč. 2011, č. 18, s. 251-257. ISSN: 1211-5894.
Detail

MACH, J.; ŠAMOŘIL, T.; VOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; ŠIKOLA, T. An ultra-low energy (30–200 eV) ion-atomic beam source for ion-beam-assisted deposition in ultrahigh vacuum. Review of Scientific Instruments, 2011, vol. 82, no. 8, p. 083302-1 (083302-7 p.)ISSN: 0034-6748.
Detail

KOLÍBAL, M.; VYSTAVĚL, T.; NOVÁK, L.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. In-situ observation of <110> oriented Ge nanowire growth and associated collector droplet behavior. Applied Physics Letters, 2011, vol. 99, no. 14, p. 143113-1 (143113-3 p.)ISSN: 0003-6951.
Detail

MACH, J.; PROCHÁZKA, P.; SEREGIN, A.: Pec; Vysokoteplotní vakuová pec pro růst grafenových struktur. A2/518. (funkční vzorek)
Detail

MACH, J.; ŠIKOLA, T.: Efuzní cela (Ag); Efuzní cela-zdroj atomů o termální energii (Ag). A2/518. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (funkční vzorek)
Detail

LOVICAR, L.; VOBORNÝ, S.; ŠAMOŘIL, T.: Fotoluminiscenční sestava; Sestava pro měření integrálních a lokálních (foto)luminiscenčních vlastností souborů nanostruktur. A2/218. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (funkční vzorek)
Detail

ŠKODA, D.; OSTŘÍŽEK, P.; MINARIKOVÁ, M.; ŠIKOLA, T.: Aparatura na výrobu nanovláken; Aparatura na výrobu kovových nanovláken. A2/518. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (funkční vzorek)
Detail

BÁBOR, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T.: Ježek; Ultravakuová aparatura pro přípravu nanostruktur metodou MBE. A2/518. (funkční vzorek)
Detail