Detail předmětu

Diagnostics and Testing

FEKT-MPA-DMEAk. rok: 2021/2022

Diagnostické metody pro stanovení vlastností a parametrů elektroizolačních materiálů a systémů. Mikroskopické, spektroskopické a difraktometrické diagnostické metody, fyzikální principy a použití. Diagnostika a princip funkce elektrochemických zdrojů elektrické energie. Zpracování a vyhodnocení naměřených údajů.

 

Jazyk výuky

angličtina

Počet kreditů

6

Garant předmětu

Výsledky učení předmětu

Po absolvování předmětu je student schopen:

  • popsat teoretické základy elektrických a fyzikálních diagnostických metod používaných pro stanovení vlastností, parametrů, struktur a složení elektrotechnických materiálů.
  • vysvětlit obecné základy postupů zpracování a vyhodnocení naměřených údajů.
  • orientovat se v diagnostických metodách a navrhnout použití vhodné metody pro konkrétní aplikaci, včetně jednoduché interpretace získaných informací.

 

Prerekvizity

Znalost matematiky a fyziky na úrovni bakaláře studujícího magisterský obor na technické vysoké škole.

Práce v laboratoři je podmíněna platnou kvalifikací „pracovníka znalého pro samostatnou činnost“ dle Vyhl. 50/1978 Sb., kterou musí studenti získat před zahájením výuky. Informace k této kvalifikaci jsou uvedeny ve Směrnici děkana Seznámení studentů s bezpečnostními předpisy.

 

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Metody vyučování zahrnují přednášky, numerická a laboratorní cvičení. Předmět využívá e-learning. Student odevzdává jeden samostatný projekt.

Způsob a kritéria hodnocení

Až 40 bodů v průběhu semestru (20 bodů za laboratorní cvičení a 20 bodů za samostatnou práci a její prezentaci)

až 60 bodů za písemnou závěrečnou zkoušku

Zkouška je zaměřena na ověření znalostí a orientaci v oblasti diagnostických metod a organizaci zkušebnictví.

 

Osnovy výuky

  • Přehled metod optické mikroskopie. Geometrie a vady čoček. Objektiv a okulár. Charakteristické hodnoty optického mikroskopu. Mikroskopická pozorování.
  • Elektronová mikroskopie rastrovací a transmisní. Metody environmentální rastrovací elektronové mikroskopie. Zdroje elektronů, fyzikální vlastnosti elektronů, elektronová optika, vady elektromagnetických čoček, charakteristické hodnoty rastrovacího elektronového mikroskopu.
  • Diagnostické metody založené na interakci elektronů s pevnou látkou. Pružný nepružný rozptyl. Emise zpětně odražených a sekundárních elektronů, jejich detekce a využití v rastrovací elektronové mikroskopii. Metoda EBIC.
  • Spektroskopické metody a jejich přehled. Princip buzení spekter. Vznik charakteristického a spojitého rentgenového záření. Rentgenová spektrální mikroanalýza. Metody EDS a WDS.
  • Metody mikroskopie rastrujícím hrotem. Rastrovací tunelová mikroskopie a mikroskopie atomárních sil. Fyzikální principy. Možnosti využití v diagnostice fyzikálních vlastností materiálů.
  • Difrakce, difraktografie a difraktometrické metody. Rentgenové difrakční metody, elektronová a neutronová difraktografie.
  • Prášková rentgenová difrakční spektroskopie, teoretické předpoklady, aplikační rádius, instrumentace, interpretace difrakčního spektra, příprava vzorků
  • Přehled diagnostických metod spojených s bezpečností a odolností elektrických předmětů a zařízení.
  • Diagnostika, spolehlivost a zkušebnictví. Organizace zkušebnictví a certifikace v ČR. Základní pojmy technické diagnostiky, přehled diagnostických metod.
  • Princip funkce lithno-iontových a jiných druhů baterií. Analýza životnosti a diagnostika.

 

Učební cíle

Cílem předmětu je seznámit studenty s různými diagnostickými metodami. Studenti se seznámí s diagnostikou elektrochemických zdrojů elektrické energie na bázi Li-Ion, s diagnostikou materiálů metodami rastrovací elektronové mikroskopie, resp. environmentální rastrovací elektronové mikroskopie, energiově disperzní spektroskopie, optické mikroskopie, mikroskopie rastrující sondou a rentgenové difrakce. Získají informace o různých fyzikálních metodách používaných pro stanovení fyzikálních vlastností, parametrů, struktur a chemického složení různých materiálů.

 

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Povinná účast ve výuce.

Základní literatura

OĆonnor, D.J. and others: Surface Analysis Methods in Materials Science. Springer Berlin 2003. ISBN0931-5195 (EN)
Reimer,L.:Scanning electron microscopy,Springer Verlag Berlin,2005 (EN)
Van Zant, P.: Microchip fabrication. Fourth edition. McGraw-Hill Publication. New York, 2000. (EN)
Ifan Hughes, Thomas Hase; Measurements and their Uncertainties: A practical guide to modern error analysis; Oxford University Press; 2010 (EN)
C. J. Gilmore, J. A. Kaduk and H. Schenk: International Tables for Crystallography Volume H: Powder diffraction, 2019 (EN)

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program MPC-EVM magisterský navazující, libovolný ročník, zimní semestr, povinně volitelný
  • Program MPA-EEN magisterský navazující, 2. ročník, zimní semestr, povinně volitelný

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

26 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Laboratorní cvičení

39 hod., povinná

Vyučující / Lektor