Detail předmětu

Vybrané metody strukturní analýzy

FSI-9VMSAk. rok: 2020/2021

Obsah předmětu, u kterého se nepředpokládá klasická přednášková forma ale pouze konsultace, je přizpůsobován zaměření budoucí disertační práce doktoranda. V rámci předmětu se student seznámí se základy všech běžně požívaných metod k charakterizaci struktur(světelná mikroskopie,transmisní a rastrovací elektronová mikroskopie,metody lokální chemické analýzy v elektronové mikroskopii,metody s rastrující sondou, rentgenostrukturní analýza atd.) Dále se pak velmi detailně seznámí s těmi metodami, které bude používat při tvorbě své disertační práce.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

0

Garant předmětu

doc. Ing. Vít Jan, Ph.D.

Zajišťuje ústav

Ústav materiálových věd a inženýrství (ÚMVI)

Výsledky učení předmětu

Získání hlubokých znalostí experimentálních metod,používaných při přípravě disertační práce.

Prerekvizity

Předpokladem pro studium tohoto předmětu jsou velmi dobré znalosti materiálových věd v celé jejich šíři, získané v průběhu bakalářského studia a zejména pak při studiu magisterské specializace.

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Předmět je vyučován formou přednášek, které mají charakter výkladu základních principů a teorie dané disciplíny. V případě že je méně jak pět studentů, probíhají pouze konzultace

Způsob a kritéria hodnocení

Zkouška-písemná i ústní

Učební cíle

Cílem předmětu je poskytnout doktorandovi kvalitní přehled metod,které jsou k disposici pro analýzu struktury(morfologie,fázového i lokálního chemického složení)kovových i nekovových materiálů.Dále pak hluboké znalosti těch metod,které student bude využívat v rámci své experimentální činnosti při přípravě disertační práce.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Výuka je nepovinná a obvykle probíhá pouze formou konzultací .Pouze pokud je přihlášeno více jak 5 studentů, probíhají přednášky

Základní literatura

P.B.Hirsch et al.Electron Microscopy of Thin Crystals
P.E.J.Flewit,R.K.Wild,Physical Methods for Materials Characterization
D.Brandon-Microstructural Characterization of Materials
V.Radle,O.Engler-Tecture Analysis
J.I.Goldstein,et al. Scanning Electron Micriscopy and X-Ray Microanalysis
Shon Ling Wang-Characterization of Nanophase Materials

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program D-MAT-P doktorský, 1. ročník, zimní semestr, doporučený

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

20 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

doc. Ing. Vít Jan, Ph.D.

Osnova

1. Úvod do strukturní a fázové analýzy(metody zobrazovací a analytické).
2. Světelná mikroskopoie(metody zvýšení fázového kontrastu).
3. Kvantitativní hodnocení fází,tvrdost a mikrotvrdost.
4. Úvod do elektronové mikroskopie.
5. Strukturní faktor,reciproká mřížka,elektronová difrakce.
6. Mikroskopie s vysokým rozlišením,nekonvenční zdroje elektronů,difrakce kovergentním svazkem elektronů.
7. Vysokonapěťová transmisní elektronová mikroskopie,rastrovací elektronová mikroskopie.
8. Environmentální rastrovací elektron.mikroskopie,úvod k analytickým metodám.
9. Energiově a vlnově dispersní spektrometry(EDS a VDS)-obecné charakteristiky.
10. Analýza s využitím energiových ztrát elektronů(EELS),další možnosti analýzy v elektron.mikroskopii.
11. Problémy s aplikací EDS a VDS,ZAF korekce,analýza submikron.objemů.
12. Obrazová analýza ve světelné a elektronové mikroskopii.
13. Difrakční metody v transmisní a rastrovací elektron. mikroskopii. Rtg. difrakční analýza.
Výběr experimentálních metod je přizpůsobován zaměření disertační práce.Proto se nepředpokládá výuka formou přednášek celé skupině studentů, ale pouze konzultační forma výuky.