Detail předmětu

Speciální praktikum I

FSI-TSAk. rok: 2019/2020

Praktikum obsahuje náročné experimentální úkoly, které vyžadují komplexní přípravu studenta k řešení zadaného tématu. Úlohy zahrnují oblast vakuové fyziky a techniky, světelné optiky, iontové a elektronové optiky, fyzikálních technologií a měření vlastností a analýzy materiálů.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

3

Výsledky učení předmětu

Schopnost samostatně experimentovat a komunikovat výsledky na odpovídající úrovni písemnou a verbální formou.

Prerekvizity

Atomová fyzika, fyzika pevných látek, kvantová fyzika, statistická fyzika a termodynamika, vakuová fyzika a technologie, geometrická a vlnová optika.

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Výuka je založena na individuální praktické činnosti na vybraných experimentálních sestavách. Každí téma má svoji úvodní a pokročilou část, která navazuje ve druhém týdnu.

Způsob a kritéria hodnocení

Hodnocení bude provedeno na základě předložených protokolů z měření a následné diskuse získaných výsledků. Účast je povinná, v případě závažných důvodů lze některá z měření po individuální domluvě nahradit.

Učební cíle

Studenti nabudou praktickou zběhlost při experimentální činnosti, získávání a zpracování výsledků a jejich následné analýze a interpretaci.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Přítomnost na cvičení je povinná a je sledována vyučujícím. Způsob nahrazení zmeškané výuky ve cvičení bude stanovena vyučujícím na základě rozsahu a obsahu zmeškané výuky.

Základní literatura

ECKERTOVÁ, L.: Diagnostics of Thin Films
BROŽ, J.: Základy fyzikálních měření

Doporučená literatura

Autoři jednotlivých úloh: sylaby k jednotlivým úlohám

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program B3A-P bakalářský

    obor B-FIN , 3. ročník, letní semestr, povinný

Typ (způsob) výuky

 

Laboratorní cvičení

39 hod., povinná

Vyučující / Lektor

Osnova

Na výuce se podílejí také studenti doktorského studia.

Rastrovací elektronová mikroskopie.
Rastrovací tunelovací mikroskopie.
Mikroskopie atomárních sil.
Rentgenová difrakční spektroskopie.
Měření transportních vlastností grafenu.
Měření magnetické susceptibility.