Detail předmětu

Metody a prostředky technické diagnostiky

FSI-XTD-KAk. rok: 2018/2019

Obsahem kurzu je seznámení účastníků s pokročilými metodami a prostředky měření s nanometrovým rozlišením.

Výsledky učení předmětu

Osvojení vybraných fyzikálních jevů z hlediska jejich použití jako podstaty zobrazovacích a měřicích metod.

Prerekvizity

Úspěšné studium vyžaduje znalosti a dovednosti, které odpovídají předmětům Fyzika I, Fyzika II a Metrologická fyzika.

Doporučená nebo povinná literatura

DOEBELIN, O.D. Measurement Systems. Application and Design. 4. vydání. New York: McGraw-Hill, 1990. 960 s. ISMN 0-07-100697-4.
HALLIDAY, D., RESNICK, R. and WALKER, J. Fyzika. 1198 s. Brno-Praha:VUTIUM-PROMETHEUS, 2000. Přeloženo z: Fundamentals of Physics, 5.vydání: Wiley,1997 (s přihlédnutím ke změnám pro 6. vydání pro rok 2001).
ANTHONY, D.M. Engineering Metrology. New York: Pergamon Press, 1987.
DOEBELIN, O.D. Measurement Systems. Application and Design. 4. vydání. New York: McGraw-Hill, 1990. 960 s. ISMN 0-07-100697-4.
Električeskije izměrenija nelekričeskich veličin. P.V. Novickij, ed. Leningrad: Energie, 1075. 575 s.
SERWAY, R.A. and BEICHNER, R.J. Physics for Scientist and Engineers with Modern Physics. 5. vydání. Orlando: Saunders College Publisching, 2000. 1551 s.
JENČÍK, J., KUHN, L. a další. Technická měření ve strojírenství. Praha: SNTL, 1982. 580 s.
ORNATSKIJ, P.P. Teoretičeskije osnovy informacionno-izměritělnoj techniki. Kijev: Vyšča škola, 1976. 431 s.

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Předmět je vyučován formou přednášek podpořených sadou laboratorních cvičení.

Způsob a kritéria hodnocení

Zkouška skládající se z ústní a písemné části. Aktivní účast na cvičeních a vypracování písemných zpráv.

Jazyk výuky

čeština

Cíl

Vyložit fyzikální principy vybraných zobrazovacích a měřicích metod a činnosti měřicích přístrojů a zařízení.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Účast na cvičeních je povinná.

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program M2I-K magisterský navazující

    obor M-KSB , 2. ročník, letní semestr, 4 kredity, povinný

Typ (způsob) výuky

 

Konzultace

4 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Osnova

Obecné pojmy a teorie. Statistika měření a zpracování chyb: rozdělení náhodných veličin: normální rozdělení, rovnoměrné rozdělení. Zákon přenosu chyb. Zpracování výsledků přímých a nepřímých měření.

Senzory: senzory obecná klasifikace. Kapacitní senzory. Indukční a indukčnostní senzory.

Diagnosticko-zobrazovací techniky: Michelsonova interferometrie, rentgenovská analýza a radiační defektoskopie, rastrovací elektronová mikroskopie, mikroskopie atomárních sil, rastrovací tunelová mikroskopie.

Laboratorní cvičení

9 hod., povinná

Vyučující / Lektor

Osnova

Laboratorní úlohy:
Polarizace
Difrakce
Fotometrie
Vláknová optika
LCD display

Kolektivní demonstrace:
CT - Počítačová tomografie pro průmyslová využití
LIBS – laserová ablace
SEM – rastrovací elektronová mikroskopie
AFM – mikroskopie atomárních sil
STM – rastrovací tunelová mikroskopie

Řízené samostudium

26 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Osnova

Obecné pojmy a teorie. Statistika měření a zpracování chyb: rozdělení náhodných veličin: normální rozdělení, rovnoměrné rozdělení. Zákon přenosu chyb. Zpracování výsledků přímých a nepřímých měření.

Senzory: senzory obecná klasifikace. Kapacitní senzory. Indukční a indukčnostní senzory.

Diagnosticko-zobrazovací techniky: Michelsonova interferometrie, rentgenovská analýza a radiační defektoskopie, rastrovací elektronová mikroskopie, mikroskopie atomárních sil, rastrovací tunelová mikroskopie.