Detail předmětu

Diagnostika a testování elektronických systémů

FEKT-BDTSAk. rok: 2018/2019

Diagnostika a testování elektronických obvodů. Druhy poruch. Detekce a lokalizace poruch. Typy poruch a mechanismy vzniku poruch. Diagnostický systém. Fyzikální metody technické diagnostiky. Funkční metody technické diagnostiky. Diagnostika analogových obvodů. Diagnostika digitálních obvodů. Vestavěné testovací systémy, boundary scan, logické analyzátory. Navrhování obvodů pro snadné testování a diagnostiku.

Výsledky učení předmětu

Student se po úspěšném absolvování předmětu orientuje v základní terminologii používané v oboru technické diagnostiky. Chápe rozdíl mezi fyzikálními a funkčními metodami diagnostiky. Zná možné příčiny chyb vzikajících při měření elektrotechnických obvodů a ví jak jim předcházet. Chápe na jakém principu je založeno testovací rozhranní JTAG. Dokáže vyjmenovat zásady návrhu elektronických systémů s ohledem na snadnou diagnostikovatelnost.

Prerekvizity

Jsou požadovány znalosti na úrovni středoškolského studia.

Doporučená nebo povinná literatura

Loveday,G.C.: Electronic testing and fault diagnosis, Longman, 1995 (EN)
Lenk,J.D.: McGraw-Hill electronic troubleshooting handbook, McGraw-Hill, 1995 (EN)
Pain,R.: Practical electronic fault finding and troubleshooting, Newnes, 1995 (EN)
Bushnell M.L., Agrawal V. D.: Essentials of Electronic Testing, Kluwer Academic Publishers, Boston, 2000 (EN)
Hurst L.S.: VLSI testing, The Institution of EE, London, 1998 (EN)
Miczo A.: Digital Logic Testing and Simulation, Wiley-Interscience, Hoboken,N.J., 2003 (EN)
Mourad S.: Principles of Testing Electronic Systems, John Wiley & Sons Inc., New York, 2000 (EN)
Segura J., Hawkins Ch.F.: CMOS Electronics How It Works, How It Fails, IEEE Inc., 2004 (EN)
Burns M., Roberts G.W.: An Introduction to Mixed-Signal IC test and Measurement, Oxford University Press, 2001 (EN)
Kuo J.B., Lou J.: Low-Voltage CMOS VLSI Circuits, John Wiley & Sons, 1999 (EN)
Uyemura J.P.: Introduction to VLSI Circuits and Systems, John Wiley & Sons, 2002 (EN)
Kwok K.N.: Complete Guide To Semiconductor Devices, Mc Graw-Hill Inc., 1995 (EN)
MUSIL, V.,RECMAN, M., PROKOP, R. Diagnostika a testování elektronických systémů_S. ISBN MEL105. (skripta) (CS)
MUSIL, V., RECMAN, M., PROKOP, R. Diagnostika a testování elektronickýých systémů_P. ISBN MEL107. (skripta) (CS)
MUSIL, V., RECMAN, M., PROKOP, R. Diagnostika a testování elektronických systémů_L. ISBN MEL106. (skripta) (CS)

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Metody vyučování zahrnují přednášku a laboratorní cvičení.

Způsob a kritéria hodnocení

semestrální projekt ..................... 15 bodů
praktická analýza zařízení .......... 15 bodů
závěrečná zkouška ..................... 70 bodů

Jazyk výuky

čeština

Osnovy výuky

Úvod do technické diagnostiky, základní terminologie
Typy poruch elektronických součástek, integrovaných obvodů
Postupy při diagnostice elt. zařízení
Chyby měření a příčiny jejich vzniku
Praktické příklady diagnostiky elektrotechnických obvodů
Zpětnovazební systémy (zdroje, zesilovače), stabilita
Praktické příklady diagnostiky zpětnovazebních obvodů
Diagnostika a testování digitálních obvodů. Poruchy v logických obvodech. Diagnostika poruch v logických systémech, modelování poruch, testování logických obvodů, Booleovská diference, tvorba testů pro kombinační obvody.
Vestavěné testovací systémy (BIST), boundary scan (JTAG)
Diagnostika analogových signálů
Návrh s ohledem na diagnostikovatelnost, testování embedded systémů - vývojové modely

Cíl

Seznámit studenty se základními pojmy technické diagnostiky, vysvětlit rozdíly mezi fyzikálními a funkčními přístupy diagnostiky, osvětlit problematiku zdrojů chyb, které mohou vznikat během měření a jak jim předcházet, seznámit se způsoby testování základních elektrotechnických bloků, seznámit s metodou vestavětného testování a rozhranním JTAG, seznámit s problematikou návrhu obvodů s ohledem na snadnou diagnostikovatelnost.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

laboratorní cvičení

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program EEKR-B bakalářský

    obor B-EST , 2. ročník, letní semestr, 5 kreditů, volitelný mimooborový
    obor B-MET , 2. ročník, letní semestr, 5 kreditů, volitelný oborový

  • Program EEKR-CZV celoživotní vzdělávání (není studentem)

    obor ET-CZV , 1. ročník, letní semestr, 5 kreditů, volitelný oborový

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

26 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Cvičení na poč.

26 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor