čeština

1. Základní nanostruktury.
2. Interakce v blízkém poli. Detekce a lokalizace nanostruktur.
3. Rozhraní v polovodičích. Rozhraní polovodič - kov.
4. Typy poruch, povrchové a strukturní poruchy, metody lokalizace, poruchy destruktivní a nedestruktivní a jejich identifikace.
5. Identifikace poruch z transportních charakteristik, V-A charakteristika v přímém a zpětném směru, nadbytečný proud, generačně-rekombinační proces, degradace.
6. Polovodiče - šumová diagnostika.
7. Anorganická a organická dielektrika - nové materiály.
8. Optické a elektrické vlastnosti nanočástic.
9. Nanooptika a nanofotonika.
10. Nedestruktivní diagnostika elektronických, optoelektronických a fotonických součástek a struktur.
11. Lokální měřicí metody (SPM, Ramanova spektroskopie).

Colinge, J.P., Colinge, C.A.: Physics of Semiconductor Devices, Kluwer 2002
Poole, Ch.P., Jr., Owens, F.J.: Introduction to Nanotechnology, Wiley Interscience, 2003
Sze, S.M. Physics of Semiconductor Devices, John Wiley & Sons (third edition)
Kremer, F., Schönhals, A.: Broadband Dielectric Spectroscopy, Springer, Berlin 2002
Saleh, B.E.A., Teich, M.C.: Základy fotoniky 1,2,3,4 Matfyzpress, Praha, 1994, 1995, 1996