Ing. Kristýna Jandová, Ph.D.

Ústav elektrotechnologie (UETE)

Po absolvování předmětu je student schopen:
- vysvětlit základní pojmy a metody z oblasti diagnostiky elektrotechnických materiálů a zařízení,
- orientovat se v základních fyzikálních metodách pro stanovení struktury a složení diagnostikovaných materiálů,
- popsat zásady a organizaci zkušebnictví v ČR,
- popsat o elektrické a mechanické zkoušky materiálů a elektrických zařízení, zkoušky bezpečnosti a klimatické odolnosti,
- vybrat a aplikovat vhodnou diagnostickou metodu v praxi.

Znalost fyziky a matematiky na úrovni středoškolského vzdělání.

Jirák, J., Havlíček, S., Rozsívalová, Z.: Diagnostika a zkušebnictví. Elektronické texty, Brno 2002. (CS)
Frank,L.,Král,J.: Metody analýzy povrchů. Iontové, sondové a speciální metody. Academia, Praha, 2002 (CS)
Reimer,L.:Scanning electron microscopy,Springer Verlag Berlin,2005 (EN)
Koblížek,V. Měření a kontrola v elektrotechnologii ČVUT Praha,1991. (CS)

Metody vyučování zahrnují přednášky a laboratoře. Předmět využívá e-learning. Student odevzdává sedm samostatných prací.

až 40 bodů v průběhu semestru (20 bodů za laboratorní cvičení a 20 bodů za samostatnou práci a její prezentaci)
až 60 bodů za písemnou závěrečnou zkoušku
Zkouška je zaměřena na ověření znalostí a orientaci v oblasti diagnostických metod a organizaci zkušebnictví.

čeština

1) Základní pojmy technické diagnostiky, přehled metod. Postavení technické diagnostiky v praxi.
2) Elektrické měřicí metody v diagnostice polovodičových materiálů a struktur.
3) Stejnosměrné a střídavé elektrické měřicí metody v diagnostice elektroizolačních systémů. Zkoušky vysokým napětím.
4) Zkoušky bezpečnosti elektrických předmětů. Zkoušky klimatické a mechanické odolnosti elektrických předmětů a zařízení.
5) Zkoušky mechanických vlastností - přehled zkoušek. Zkoušky tvrdosti.
6) Diagnostika a zkušebnictví. Povinnosti výrobců, dovozců a distributorů při uvádění výrobků na trh. Posuzování shody výrobků.
7) Fyzikální metody stanovení struktury a složení materiálů, materiálových soustav a struktur. Metody s rastrující sondou. Sekundární iontová hmotová spektroskopie (SIMS). Citlivosti a meze rozlišení metod.
8) Přehled metod optické mikroskopie. Metody měření tloušťky tenkých vrstev, mechanicko elektrická měření.
9) Elektronová mikroskopie rastrovací a transmisní. Diagnostika struktur na základě detekce jednotlivých typů detekovaných signálů.
10) Speciální metody rastrovací elektronové mikroskopie. Napěťový a magnetický kontrast, metoda EBIC, nízkoenergiová a nízkovakuová elektronová mikroskopie.
11) Difraktometrické metody. Rentgenová, elektronová a neutronová difraktografie.
12) Spektroskopické metody, atomová a molekulová spektroskopie. Absorpční, emisní, rentgenová, fotoelektrická a elektronová spektroskopie. Hmotnostní spektroskopie.
13) Zpracování výsledků měření. Chyby měření, ukazatelé přesnosti, nejistoty měření.

Cílem předmětu je seznámit studenty se základními pojmy a metodami z oblasti diagnostiky elektrotechnických materiálů a zařízení, se zásadami a organizací zkušebnictví v ČR. Studenti se v přehledu seznámí s elektrickými a mechanickými zkouškami, zkouškami bezpečnosti a klimatické odolnosti. Získají základní informace o fyzikálních metodách pro stanovení struktury a složení diagnostikovaných objektů.

Povinná účast ve výuce

• Program EEKR-BK bakalářský

  obor BK-MET , 2. ročník, letní semestr, 5 kreditů, volitelný oborový
  

• Program EEKR-CZV celoživotní vzdělávání (není studentem)

  obor ET-CZV , 1. ročník, letní semestr, 5 kreditů, volitelný oborový
  

26 hod., povinná

Ing. Pavel Čudek, Ph.D.
Ing. Kristýna Jandová, Ph.D.