Detail předmětu

Měřicí technika

FSI-XMTAk. rok: 2011/2012

Předmět seznamuje studenty s principem počítačově podporovaných měřících systémů. Jsou představeny možné chyby měření těchto systémů, jejich korekce a způsoby vyhodnocení naměřených údajů.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

6

Výsledky učení předmětu

Student/ka je po absolvování předmětu schopný/á navrhnout jednoduché měřící systémy sestavené ze standardních komponent např. pro měření délky, teploty, polohy atd. Naměřené údaje systematicky vyhodnotit a analyzovat možné chyby měřícího řetězce.

Prerekvizity

U studentů se předpokládá základní znalosti z metrologie, elektrotechniky a práce s PC.

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Metody vyučování závisí na způsobu výuky a jsou popsané v článku 7 Studijního a zkušebního řádu VUT v Brně.

Způsob a kritéria hodnocení

Podmínky udělení zápočtu:
100% absolvování cvičení a uznání vypracovaných elaborátů.
Zkouška :
Je písemná a ústní. Prověřuje znalosti studenta a jeho schopnost jejich
praktického použití.

Učební cíle

Cílem předmětu je seznámení posluchačů s počítačově podporovanými měřícími systémy.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Cvičení jsou povinná. Kontroluje se účast. Neúčast je možno nahradit po dohodě s učitelem.

Základní literatura

Profos, Pfeifer: Handbuch der industriellen Messtechnik. Oldenbourg München, 1994, ISBN 3-486-22592-8
Hofmann: Priemyselná meracia technika. ALFA Bratislava 1988 ISBN 80-05-00139-8
Bernstein: PC Messlabor. Franzis Verlag 1998 ISBN 3-7723-5733-4
Krsek,Osanna, Kuric, Prostrednik: Strojárska metrológia a riadenie kvality, STU Bratislava 2002 ISBN 80-227-1789-4
Hofmann, D., Handbuch Messtechnik und Qualitatssicherung : Berlin : Verlag Technik 1986.

Doporučená literatura

Chudý, V., Palenčár, R., Kureková, E., Halaj, M., Meranie technických veličín : Bratislava : Vydavatelstvo STU v Bratislave 1999.
Sládek, Z., Vdoleček, F., Technická měření : Brno : Nakladatelství VUT v Brně 1992.
Jenčík,J., Kuhn,L., Technická měření ve strojnictví :Praha : SNTL 1982.
Daďo, S., Kreidl, M. Senzory a měřicí obvody : Praha : Vydavatelství ČVUT v Praze 1996.
Jenčík, J., Volf, J. Technická měření : Praha : Vydavatelství ČVUT v Praze 2000.

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program M2A-P magisterský navazující

    obor M-MŘJ , 2. ročník, letní semestr, povinný

  • Program M2I-P magisterský navazující

    obor M-VSR , 2. ročník, letní semestr, povinný

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

26 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Osnova

1. Princip počítačem podporovaného měřícího systému
2. Typické analogové a digitální senzory
3. Princip funkce A/D a D/A převodníku, chyby převodu
4. Vzorkování, chyba vzorkování, filtr
5. Grafické systémy pro on-line zpracování naměřených údajů (LabView)
6. Analýza naměřených údajů (statistické vyhodnocení)
7. Analýza naměřených údajů (frekvenční analýza, digitální filtrování)
8. Možné chyby měření u počítačově podporovaných měřících systémů
9. Chyby měření a jejich korekce
10. Struktury měřících systémů
11. Vlastnosti měřících systémů
12. Analýza FMEA - nástro pro identifikaci potenciálních chyb v měřícím řetězci
13. Princip tunelového rastrovacího mikroskopu a mikroskopu atomových sil

Laboratoře a ateliéry

26 hod., povinná

Vyučující / Lektor

Osnova

1. Měření přesnosti polohování I (laserinterferometr, ballbar,...)
2. Měření přesnosti polohování II (laserinterferometr, ballbar,...)
3. Měření přesnosti polohování III (laserinterferometr, ballbar,...)
4. Měření přesnosti polohování IV (laserinterferometr, ballbar,...)
5. Měření geometrické přesnosti I (souřadnicový měřící stroj)
6. Měření geometrické přesnosti II (souřadnicový měřící stroj)
7. Měření geometrické přesnosti III (souřadnicový měřící stroj)
8. Měření geometrické přesnosti IV (souřadnicový měřící stroj)
9. Měření dynamických dějů I (snímače vibrací, vysokorychlostní kamera,...)
10. Měření dynamických dějů II (snímače vibrací, vysokorychlostní kamera,...)
11. Měření dynamických dějů III (snímače vibrací, vysokorychlostní kamera,...)
12. Měření dynamických dějů IV (snímače vibrací, vysokorychlostní kamera,...)
13. Ukázka speciálních měření, odevzdání protokolů z měření, zápočet