Detail předmětu

Hodnocení textury povrchů

FSI-XTPAk. rok: 2011/2012

Kurz seznamuje studenty se základními principy hodnocení funkčních povrchů součástí, které vznikají při technologických operacích. Předmět se zabývá metodami hodnocení struktury povrchu jak z hlediska základních normovaných charakteristik, tak i dalšími metodami hodnocení – frekvenční nebo amplitudové charakteristiky. Dále jsou rozebrány způsoby hodnocení povrchové vrstvy součásti z hlediska zbytkových napětí a možnosti jejich zkoumání a měření.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

5

Garant předmětu

doc. Ing. Leoš Bumbálek, Ph.D.

Zajišťuje ústav

Ústav výrobních strojů, systémů a robotiky (ÚVSSR)

Výsledky učení předmětu

Teoretická i praktická znalost měření charakteristik struktury povrchu. Praktická znalost měření zbytkových napětí. Interpretace naměřených hodnot.

Prerekvizity

Znalosti strojírenské technologie-vznik povrchu, základní metrologická terminologie, aplikovaná statistika.

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Metody vyučování závisejí na způsobu výuky a jsou popsány článkem 7 Studijního a zkušebního řádu VUT.

Způsob a kritéria hodnocení

Zápočet: prezence, zpracované elaboráty, test znalostí. Zkouška: Písemný test a ústní zkouška.

Učební cíle

Seznámit studenty principy a metodami měření a vyhodnocování charakteristik struktury povrchu a napěťového stavu povrchové vrstvy.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Absenci ve cvičení je nutno nahradit. V případě dlouhodobé neúčasti je nutno zpracovat individuální zadání a jeho výsledky prazentovat při zápočtu.

Základní literatura

Bumbálek,B., Odvody V., Ošťádal B.: Drsnost povrchu, SNTL, Praha 1989
Whitehouse, A.G.: Handbook of Surface Metrology, Rank Taylor Hobson, 1994
Pernikář,J., Tykal,M., Vačkář,J.: Jakost a metrologie, část metrologie. Brno: Akademické nakladatelství CERM, s.r.o. 2001 151s. ISBN 80 – 214 – 1997 – 0.
Normy ČSN EN ISO 4287: Geometrické požadavky na výrobky (GPS)- Struktura povrchu: Profilová metoda- Termíny, definice a parametry struktury povrchu (1999)ČSN EN ISO 4288: Geometrické požadavky na výrobky(GPS)- Struktura povrchu: Profilová metoda – Pravidla a postupy pro posuzování struktury povrchu (1999)

Doporučená literatura

Whitehouse, A.G.: Handbook of Surface Metrology, Rank Taylor Hobson, 1994
Pernikář,J., Tykal,M., Vačkář,J.: Jakost a metrologie, část metrologie. Brno: Akademické nakladatelství CERM, s.r.o. 2001 151s. ISBN 80 – 214 – 1997 – 0.

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program M2A-P magisterský navazující

    obor M-MŘJ , 2. ročník, zimní semestr, povinně volitelný

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

26 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

doc. Ing. Leoš Bumbálek, Ph.D.

Osnova

1. Povrchová vrstva součástí
2.-3. Požadavky na zkoušky pro hodnocení povrchové vrstvy
4.-5. Zbytková napětí
6.-7. Určování zbytkových napětí
8.-9. Metodika zkoušek
10. Interpretace výsledků měření
11.-12. Hodnocení struktury nově vytvořeného povrch
13. Identifikace struktury povrchu ploch

Laboratoře a ateliéry

26 hod., povinná

Vyučující / Lektor

doc. Ing. Leoš Bumbálek, Ph.D.

Osnova

1.-3. Hardwarové vybavení zařízení pro hodnocení napětí metodou odvrtávání.
4.-6. Ovládání software, příprave vzorků ke zkoušce.
7.-9. Experimentální část zkoušek, vzhodnocení.
10. Zařízení pro hodnocení textury povrchu - profilometry.
11. Možnosti profilometrů - přehled funkcí.
12.-13. Experiment - hodnocení a rozbor zvolených charakteristik.