Ing.

Vladimír Čudek

Ph.D.

FSI – externí pedagog

Odeslat VUT zprávu

Ing. Vladimír Čudek, Ph.D.

Publikace

  • 2015

    VODÁK, J.; ČUDEK, V.; NÁDASKÝ, P.; OHLÍDAL, M. Imaging spectroscopic reflectometer based on pellicle beamsplitter. In Optical Systems Design 2015: Optical Design and Engineering VI. Proceedings of SPIE. 9626. 2015. s. 2L- 1 (2L-8 s.)ISBN: 9781628418156. ISSN: 0277- 786X.
    Detail

  • 2014

    NEČAS, D.; ČUDEK, V.; VODÁK, J.; OHLÍDAL, M.; KLAPETEK, P.; ZAJÍČKOVÁ, L. Mapping of properties of thin plasma jet films using imaging spectroscopic reflectometry. Measurement Science and Technology, 2014, roč. 25, č. 11, s. 1-9. ISSN: 0957-0233.
    Detail

    NEČAS, D.; OHLÍDAL, I.; FRANTA, D.; ČUDEK, V.; OHLÍDAL, M.; VODÁK, J. Measurement of thickness distribution, optical constants and roughness parameters of rough non-uniform ZnSe thin films. Applied Optics, 2014, roč. 53, č. 25, s. 5606-5614. ISSN: 1559-128X.
    Detail

    NEČAS, D.; OHLÍDAL, I.; FRANTA, D.; ČUDEK, V.; OHLÍDAL, M.; VODÁK, J.; SLÁDKOVÁ, L.; ZAJÍČKOVÁ, L.; ELIÁŠ, M.; VIŽĎA, F. Assessment of non_uniform thin films using spectroscopic ellipsometry and imaging spectroscopic reflectometry. Thin Solid Films, 2014, roč. 571, č. 3, s. 573-578. ISSN: 0040-6090.
    Detail

  • 2012

    KŘUPKA, I.; HARTL, M.; ČUDEK, V. Application of Spectroscopic Reflectometry to Elastohydrodynamic Lubrication Films Study. Tribology Letters, 2012, roč. 45, č. 1, s. 195-205. ISSN: 1023- 8883.
    Detail

  • 2009

    ČUDEK, V.; KŘUPKA, I.; HARTL, M. Užití spektroskopické reflektometrie při studiu elastohydrodynamického mazání. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7- 8, s. 229-230. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

  • 2007

    ČUDEK, V. Studium elastohydrodynamických mazacích filmů spektroskopickou reflektometrií. In Zborník príspevkov. Bratislava: STU- Publishing House, 2007. s. 332-336. ISBN: 978-80-227-2708- 2.
    Detail

    GALIOVÁ, M.; KAISER, J.; NOVOTNÝ, K.; SAMEK, O.; REALE, L.;MALINA, R.; PÁLENÍKOVÁ, K.; LIŠKA, M.; ČUDEK, V.; KANICKÝ, V.; OTRUBA, V.; POMA, A.; TUCCI, A. Utilization of Laser Induced Breakdown Spectroscopy for investigation of the metal accumulation in vegetal tissues. Spectrochimica Acta Part B, 2007, roč. 62B, č. 12, s. 1597-1605. ISSN: 0584- 8547.
    Detail

  • 2005

    OHLÍDAL, I., OHLÍDAL, M., FRANTA, D., ČUDEK, V., BURŠÍKOVÁ, V., ŠILER, M. Měření mechanického napětí v tenkých vrstvách pomocí kombinované optické metody. Jemná mechanika a optika, 2005, roč. 50, č. 3, s. 72-75. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    OHLÍDAL, M.; ČUDEK, V.; OHLÍDAL, I.; KLAPETEK, P. Optical characterization of non- uniform thin films using imaging spectrophotometry. In Proceedings of SPIE - Advances in Optical Thin Films II. Proceedings of SPIE. Bellingham, Washington, USA: Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE), 2005. s. 596329- 1 (596329-8 s.)ISBN: 0-8194-5951- 8. ISSN: 0277- 786X.
    Detail

    OHLÍDAL, I., OHLÍDAL, M., FRANTA, D. Influence of technological conditions on mechanical stresses inside diamond- like carbon films. Diamond and Related Materials, 2005, roč. 14, č. 11- 12, s. 1835-1838. ISSN: 0925- 9635.
    Detail

  • 2004

    OHLÍDAL, I.,OHLÍDAL, M., FRANTA, D., ČUDEK, V., BURŠÍKOVÁ, V., ŠILER, M. Mechanical stresses studied by optical methods in diamond- like carbon films containing Si and O. In Advances in Thin Film Coatings for Optical Applications. Bellingham, Washington, USA: SPIE- The International Society for Optical Engineering, 2004. s. 139 ( s.)ISBN: 0-8194-5465- 6.
    Detail

  • 2003

    OHLÍDAL, M., OHLÍDAL, I., KLAPETEK, P., JÁKL, M., ČUDEK, V., ELIÁŠ, M. New Method for the Complete Optical Analysis of Thin Films Nonuniform in Optical Parameters. Japanese Journal of Applied Physics, 2003, roč. 2003, č. 7B, s. 4760 ( s.)ISSN: 0021- 4922.
    Detail

    OHLÍDAL, I.; OHLÍDAL, M.; KLAPETEK, P.; ČUDEK, V.; JÁKL, M. Characterization of thin films non-uniform in optical parameters by spectroscopic digital reflectometry. In Proceedings of SPIE. Proceedings of SPIE. Wave-Optical Systems Engineering II. Bellingham, Washington, USA: SPIE-The International Society for Optical Engineering, 2003. s. 260-271. ISBN: 0-8194-5055-3. ISSN: 0277-786X.
    Detail

  • 2002

    OHLÍDAL, M., OHLÍDAL, I., FRANTA, D., ČUDEK, V. New method for the complete analysis of thin films non- uniform in optical parameters. Asia-Pacific Surface & Interface Analysis Conference. Tokyo: The University of Tokyo, JApan, 2002. s. 181 ( s.)
    Detail

*) Citace publikací se generují jednou za 24 hodin.