prof. RNDr.

Tomáš Šikola

CSc.

FSI, ÚFI – ředitel ústavu

+420 54114 2707
sikola@fme.vutbr.cz

Odeslat VUT zprávu

prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc.

Publikace

  • 2019

    GABLECH, I.; SVATOŠ, V.; CAHA, O.; DUBROKA, A.; PEKÁREK, J.; KLEMPA, J.; NEUŽIL, P.; SCHNEIDER, M.; ŠIKOLA, T. Preparation of high-quality stress-free (001) aluminum nitride thin film using a dual kaufman ion-beam source setup. Thin Solid Films, 2019, roč. 670, č. NA, s. 105-112. ISSN: 0040-6090.
    Detail | WWW

    HOLEŇÁK, R.; SPUSTA, T.; POTOČEK, M.; SALAMON, D.; ŠIKOLA, T.; BÁBOR, P. 3D localization of spinel (MgAl2O4) and sodium contamination in alumina by TOF-SIMS. MATERIALS CHARACTERIZATION, 2019, roč. 148, č. 1, s. 252-258. ISSN: 1044-5803.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; BUKVIŠOVÁ, K.; KACHTÍK, L.; ZAK, A.; NOVÁK, L.; ŠIKOLA, T. Formation of Tungsten Oxide Nanowires by Electron-Beam-Enhanced Oxidation of WS2 Nanotubes and Platelets. Journal of Physical Chemistry C (print), 2019, roč. 123, č. 14, s. 9552-9559. ISSN: 1932-7447.
    Detail

    HORÁK, M.; KŘÁPEK, V.; HRTOŇ, M.; KONEČNÁ, A.; LIGMAJER, F.; STÖGER-POLLACH, M.; ŠAMOŘIL, T.; PATÁK, A.; ÉDES, Z.; METELKA, O.; BABOCKÝ, J.; ŠIKOLA, T. Limits of Babinet’s principle for solid and hollow plasmonic antennas. Scientific Reports, 2019, roč. 9, č. 1, s. 1-11. ISSN: 2045-2322.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

    BOUCHAL, P.; DVOŘÁK, P.; BABOCKÝ, J.; BOUCHAL, Z.; LIGMAJER, F.; HRTOŇ, M.; KŘÁPEK, V.; FAßBENDER, A.; LINDEN, S.; CHMELÍK, R.; ŠIKOLA, T. High-Resolution Quantitative Phase Imaging of Plasmonic Metasurfaces with Sensitivity down to a Single Nanoantenna. NANO LETTERS, 2019, roč. 19, č. 2, s. 1242-1250. ISSN: 1530-6984.
    Detail | WWW

  • 2018

    KORMOŠ, L.; PROCHÁZKA, P.; ŠIKOLA, T.; ČECHAL, J. Molecular Passivation of Substrate Step Edges as Origin of Unusual Growth Behavior of 4,4′-Biphenyl Dicarboxylic Acid on Cu(001). Journal of Physical Chemistry C (print), 2018, roč. 2018, č. 122, s. 2815-2820. ISSN: 1932-7447.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; PEJCHAL, T.; MUSÁLEK, T.; ŠIKOLA, T. Catalyst–substrate interaction and growth delay in vapor–liquid–solid nanowire growth. NANOTECHNOLOGY, 2018, roč. 29, č. 20, s. 1-7. ISSN: 0957-4484.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

    KONEČNÝ, M.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; ŠVARC, V.; NEZVAL, D.; PIASTEK, J.; PROCHÁZKA, P.; CAHLÍK, A.; ŠIKOLA, T. Kelvin Probe Force Microscopy and Calculation of Charge Transport in a Graphene/Silicon Dioxide System at Different Relative Humidity. ACS APPL MATER INTER, 2018, roč. 10, č. 14, s. 11987-11994. ISSN: 1944-8244.
    Detail

    HORÁK, M.; BUKVIŠOVÁ, K.; ŠVARC, V.; JASKOWIEC, J.; KŘÁPEK, V.; ŠIKOLA, T. Comparative study of plasmonic antennas fabricated by electron beam and focused ion beam lithography. Scientific Reports, 2018, roč. 8, č. 1, s. 9640-9648. ISSN: 2045-2322.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

    BŘÍNEK, L.; KVAPIL, M.; ŠAMOŘIL, T.; HRTOŇ, M.; KALOUSEK, R.; KŘÁPEK, V.; SPOUSTA, J.; DUB, P.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Plasmon Resonances of Mid-IR Antennas on Absorbing Substrate: Optimization of Localized Plasmon-Enhanced Absorption upon Strong Coupling Effect. ACS Photonics, 2018, roč. 5, č. 11, s. 4378-4385. ISSN: 2330-4022.
    Detail

    LIGMAJER, F.; KEJÍK, L.; TIWARI, U.; QIU, M.; NAG, J.; KONEČNÝ, M.; ŠIKOLA, T.; JIN, W.; HAGLUND, R.; APPAVOO, K.; LEI, D. Epitaxial VO2 nanostructures: A route to large-scale, switchable dielectric metasurfaces. ACS Photonics, 2018, roč. 5, č. 7, s. 2561-2567. ISSN: 2330-4022.
    Detail | WWW

    KONEČNÝ, M.; HEGROVÁ, V.; PROCHÁZKA, P.; PIASTEK, J.; LIGMAJER, F.; BARTOŠÍK, M.; ŠIKOLA, T. Příprava a využití grafen-kovových hybridních struktur pro biodetekci metodou povrchem zesílené Ramanovy spektroskopie. Jemná mechanika a optika, 2018, roč. 63, č. 9, s. 261-263. ISSN: 0447-6441.
    Detail

    DVOŘÁK, P.; KVAPIL, M.; BOUCHAL, P.; ÉDES, Z.; ŠAMOŘIL, T.; HRTOŇ, M.; LIGMAJER, F.; KŘÁPEK, V.; ŠIKOLA, T. Near-field digital holography: a tool for plasmon phase imaging. Nanoscale, 2018, roč. 10, č. 45, s. 21363-21368. ISSN: 2040-3372.
    Detail

    STARÁ, V.; PROCHÁZKA, P.; MAREČEK, D.; ŠIKOLA, T.; ČECHAL, J. Ambipolar remote graphene doping by low-energy electron beam irradiation. Nanoscale, 2018, roč. 10, č. 37, s. 17520-17524. ISSN: 2040-3372.
    Detail

  • 2017

    BARTOŠÍK, M.; KORMOŠ, L.; FLAJŠMAN, L.; KALOUSEK, R.; MACH, J.; LIŠKOVÁ, Z.; NEZVAL, D.; ŠVARC, V.; ŠAMOŘIL, T.; ŠIKOLA, T. Nanometer-Sized Water Bridge and Pull-Off Force in AFM at Different Relative Humidities: Reproducibility Measurement and Model Based on Surface Tension Change. JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY B, 2017, roč. 121, č. 3, s. 610-619. ISSN: 1520-6106.
    Detail

    HRTOŇ, M.; KŘÁPEK, V.; ŠIKOLA, T. Boundary element method for 2D materials and thin films. OPTICS EXPRESS, 2017, roč. 25, č. 20, s. 23709-23724. ISSN: 1094-4087.
    Detail

    PROCHÁZKA, P.; MAREČEK, D.; LIŠKOVÁ, Z.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. X- ray induced electrostatic graphene doping via defect charging in gate dielectric. Scientific Reports, 2017, roč. 7, č. 1, s. 1-7. ISSN: 2045-2322.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

    KORMOŠ, L.; KRATZER, M.; KOSTECKI, K.; OEME, M.; ŠIKOLA, T.; KASPER, E.; SCHULZE, J.; TEICHERT, C. Surface analysis of epitaxially grown GeSn alloys with Sn contents between 15% and 18%. Surface and Interface Analysis, 2017, roč. 49, č. 4, s. 297-302. ISSN: 1096-9918.
    Detail

    BABOCKÝ, J.; KŘÍŽOVÁ, A.; ŠTRBKOVÁ, L.; KEJÍK, L.; LIGMAJER, F.; HRTOŇ, M.; DVOŘÁK, P.; TÝČ, M.; ČOLLÁKOVÁ, J.; KŘÁPEK, V.; KALOUSEK, R.; CHMELÍK, R.; ŠIKOLA, T. Quantitative 3D phase imaging of plasmonic metasurfaces. ACS Photonics, 2017, roč. 4, č. 6, s. 1389-1397. ISSN: 2330-4022.
    Detail | WWW

    DVOŘÁK, P.; ÉDES, Z.; KVAPIL, M.; ŠAMOŘIL, T.; LIGMAJER, F.; HRTOŇ, M.; KALOUSEK, R.; KŘÁPEK, V.; DUB, P.; SPOUSTA, J.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Imaging of near-field interference patterns by a-SNOM – influence of illumination wavelength and polarization state. OPTICS EXPRESS, 2017, roč. 25, č. 14, s. 16560-16573. ISSN: 1094-4087.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

    ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Flexible foils formed by a prolonged electron beam irradiation in scanning electron microscope. Applied Surface Science, 2017, roč. 423, č. 1, s. 538-541. ISSN: 0169-4332.
    Detail

    GABLECH, I.; CAHA, O.; SVATOŠ, V.; PEKÁREK, J.; NEUŽIL, P.; ŠIKOLA, T. Stress-free deposition of [001] preferentially oriented titanium thin film by Kaufman ion-beam source. Thin Solid Films, 2017, roč. 638, č. NA, s. 57-62. ISSN: 0040-6090.
    Detail | WWW

    MACH, J.; PROCHÁZKA, P.; BARTOŠÍK, M.; NEZVAL, D.; PIASTEK, J.; HULVA, J.; ŠVARC, V.; KONEČNÝ, M.; KORMOŠ, L.; ŠIKOLA, T. Electronic transport properties of graphene doped by gallium. NANOTECHNOLOGY, 2017, roč. 28, č. 41, s. 1-10. ISSN: 0957-4484.
    Detail

    ŠIMŠÍKOVÁ, M.; ŠIKOLA, T. Interaction of Graphene Oxide with Proteins and Applications of their Conjugates. Journal of Nanomedicine Research, 2017, roč. 5, č. 2, s. 1-4. ISSN: 2377-4282.
    Detail

    GABLECH, I.; CAHA, O.; SVATOŠ, V.; PRÁŠEK, J.; PEKÁREK, J.; NEUŽIL, P.; ŠIKOLA, T. Preparation of [001] Oriented Titanium Thin Film for MEMS Applications by Kaufman Ion-beam Source. In Proceedings of 9 th International conference Nanocon 2017. 1. Ostrava: Tanger, 2017. s. 1-6. ISBN: 978-80-87294-59-8.
    Detail

    VAŇATKA, M.; URBÁNEK, M.; JÍRA, R.; FLAJŠMAN, L.; DHANKHAR, M.; IM, M.; MICHALIČKA, J.; UHLÍŘ, V.; ŠIKOLA, T. Magnetic vortex nucleation modes in static magnetic fields. AIP Advances, 2017, roč. 7, č. 10, s. 1-8. ISSN: 2158-3226.
    Detail

    HORÁK, M.; KŘÁPEK, V.; ŠIKOLA, T. Plazmonové rezonance ve zlatých nanočásticích zkoumané s využitím elektronové mikroskopie. Jemná mechanika a optika, 2017, roč. 62, č. 11-12, s. 303-305. ISSN: 0447-6441.
    Detail

    DAŇHEL, A.; LIGMAJER, F.; ŠIKOLA, T.; WALCARIUS, A.; FOJTA, M. Electrodeposition of silver amalgam particles on ITO – Towards novel electrode material. J ELECTROANAL CHEM, 2017, roč. 821, č. 37, s. 53-59. ISSN: 1572-6657.
    Detail

    KALOUSEK, R.; SPOUSTA, J.; ZLÁMAL, J.; DUB, P.; ŠIKOLA, T.; SHEN, Z.; SALAMON, D.; MACA, K. Rapid heating of zirconia nanoparticle- powder compacts by infrared radiation heat transfer. Journal of the European Ceramic Society, 2017, roč. 37, č. 3, s. 1067-1072. ISSN: 0955-2219.
    Detail

  • 2016

    GABLECH, I.; SVATOŠ, V.; CAHA, O.; HRABOVSKÝ, M.; PRÁŠEK, J.; HUBÁLEK, J.; ŠIKOLA, T. Preparation of (001) preferentially oriented titanium thin films by ion-beam sputtering deposition on thermal silicon dioxide. Journal of Materials Science, 2016, roč. 51, č. 7, s. 3329-3336. ISSN: 0022-2461.
    Detail | WWW

    BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIKOLA, T. Příprava vzorků pro testování rozlišení. Brno: 2016. s. 1-14.
    Detail

    KŘÁPEK, V.; KLENOVSKÝ, P.; ŠIKOLA, T. Type-I and Type-II Confinement in Quantum Dots: Excitonic Fine Structure. ACTA PHYSICA POLONICA A, 2016, roč. 129, č. 1A, s. A66 (A69 s.)ISSN: 0587-4246.
    Detail

    ÉDES, Z.; KŘÁPEK, V.; ŠIKOLA, T. Modeling of Plasmon-Enhanced Photoluminescence of Si Nanocrystals Embedded in Thin Silicon- Rich Oxinitride Layer. ACTA PHYSICA POLONICA A, 2016, roč. 129, č. 1A, s. A70 (A72 s.)ISSN: 0587-4246.
    Detail

    FLAJŠMAN, L.; URBÁNEK, M.; KŘIŽÁKOVÁ, V.; VAŇATKA, M.; TURČAN, I.; ŠIKOLA, T. High-resolution fully vectorial scanning Kerr magnetometer. Review of Scientific Instruments, 2016, roč. 87, č. 5, s. 053704-1 (053704-7 s.)ISSN: 0034-6748.
    Detail | WWW

    KVAPIL, M.; KROMKA, A.; REZEK, B.; KALOUSEK, R.; KŘÁPEK, V.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Influence of nanocrystalline diamond on resonant properties of gold plasmonic antennas. physica status solidi (a), 2016, roč. 213, č. 6, s. 1564-1571. ISSN: 1862-6300.
    Detail

    ŠIMŠÍKOVÁ, M.; BARTOŠ, M.; KEŠA, P.; ŠIKOLA, T. Green approach for preparation of reduced graphene oxide decorated with gold nanoparticles and its optical and catalytic properties. MATERIALS CHEMISTRY AND PHYSICS, 2016, roč. 177, č. 1, s. 339-345. ISSN: 0254-0584.
    Detail

    ŠIMŠÍKOVÁ, M.; BARTOŠ, M.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Decolorization of organic dyes by gold nanoflowers prepared on reduced graphene oxide by tea polyphenols. Catalysis Science and Technology, 2016, roč. 6, č. 9, s. 3008-3017. ISSN: 2044-4753.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; PEJCHAL, T.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. The Synergic Effect of Atomic Hydrogen Adsorption and Catalyst Spreading on Ge Nanowire Growth Orientation and Kinking. NANO LETTERS, 2016, roč. 16, č. 8, s. 4880-4886. ISSN: 1530-6984.
    Detail

    FLAJŠMAN, L.; URBÁNEK, M.; KŘIŽÁKOVÁ, V.; VAŇATKA, M.; TURČAN, I.; ŠIKOLA, T. Vektorová Kerrova magnetometrie s vysokým prostorovým rozlišením. Jemná mechanika a optika, 2016, roč. 61, č. 6, s. 140-144. ISSN: 0447-6441.
    Detail

    KVAPIL, M.; ŠIKOLA, T. Studium plazmonických antén na vrstvě nanokrystalického diamantu. Jemná mechanika a optika, 2016, roč. 61, č. 6, s. 160-164. ISSN: 0447-6441.
    Detail

    DVOŘÁK, P.; KOLÍBAL, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Fotoluminiscence h- BN detekována pomocí rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli. Jemná mechanika a optika, 2016, roč. 61, č. 6, s. 149-150. ISSN: 0447-6441.
    Detail

    ELBADAWI, C.; TRAN, T.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T.; SCOTT, J.; CAI, Q.; LI, L.; TANIGUCHI, T.; WATANABE, K.; TOTH, M.; AHARONOVICH, I.; LOBO, C. Electron beam directed etching of hexagonal boron nitride. Nanoscale, 2016, roč. 8, č. 36, s. 16182-16186. ISSN: 2040-3372.
    Detail

    BABOCKÝ, J.; DVOŘÁK, P.; LIGMAJER, F.; HRTOŇ, M.; ŠIKOLA, T.; BOK, J.; FIALA, J. Patterning large area plasmonic nanostructures on nonconductive substrates using variable pressure electron beam lithography. JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B, 2016, roč. 34, č. 6, s. 06K801-1 (06K801-4 s.)ISSN: 1071-1023.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; NOVÁK, L.; SHANLEY, T.; TOTH, M.; ŠIKOLA, T. Silicon oxide nanowire growth mechanisms revealed by real-time electron microscopy. NANOSCALE, 2016, roč. 8, č. 1, s. 266-275. ISSN: 2040-3364.
    Detail

  • 2015

    KŘÁPEK, V.; KOH, A.; BŘÍNEK, L.; HRTOŇ, M.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; MAIER, S.; ŠIKOLA, T. Spatially resolved electron energy loss spectroscopy of crescent-shaped plasmonic antennas. OPTICS EXPRESS, 2015, roč. 23, č. 9, s. 11855-11867. ISSN: 1094-4087.
    Detail

    URBÁNEK, M.; UHLÍŘ, V.; LAMBERT, C.; KAN, J.; EIBAGI, N.; VAŇATKA, M.; FLAJŠMAN, L.; KALOUSEK, R.; IM, M.; FISCHER, P.; ŠIKOLA, T.; FULLERTON, E. Dynamics and efficiency of magnetic vortex circulation reversal. PHYSICAL REVIEW B, 2015, roč. 91, č. 9, s. 094415-1 (094415-11 s.)ISSN: 1098-0121.
    Detail

    KŘÁPEK, V.; KLENOVSKÝ, P.; ŠIKOLA, T. Excitonic fine structure splitting in type-II quantum dots. PHYSICAL REVIEW B, 2015, roč. 92, č. 19, s. 195530-1 (195530-8 s.)ISSN: 1098-0121.
    Detail

    BÁBOR, P.; DUDA, R.; POLČÁK, J.; PRŮŠA, S.; POTOČEK, M.; VARGA, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Real-time observation of self-limiting SiO2/Si decomposition catalysed by gold silicide droplets. RSC Advances, 2015, roč. 5, č. 123, s. 101726-101731. ISSN: 2046-2069.
    Detail

    PRŮŠA, S.; PROCHÁZKA, P.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T.; TER VEEN, R.; FARTMANN, M.; GREHL, T.; BRÜNER, P.; ROTH, D.; BAUER, P.; BRONGERSMA, H. Highly Sensitive Detection of Surface and Intercalated Impurities in Graphene by LEIS. Langmuir, 2015, roč. 31, č. 35, s. 9628-9635. ISSN: 0743-7463.
    Detail

    NEUMAN, J.; NOVÁČEK, Z.; PAVERA, M.; ZLÁMAL, J.; KALOUSEK, R.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; ŠIKOLA, T. Experimental optimization of power-function-shaped drive pulse for stick-slip piezo actuators. PRECISION ENGINEERING-JOURNAL OF THE INTERNATIONAL SOCIETIES FOR PRECISION ENGINEERING AND NANOTECHNOLOGY, 2015, roč. 42, č. 1, s. 187-194. ISSN: 0141-6359.
    Detail

  • 2014

    KOLÍBAL, M.; VYSTAVĚL, T.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Real-Time Observation of Collector Droplet Oscillations during Growth of Straight Nanowires. NANO LETTERS, 2014, roč. 14, č. 2, s. 1756-1761. ISSN: 1530-6984.
    Detail

    ŠIMŠÍKOVÁ, M.; ČECHAL, J.; ZORKOVSKÁ, A.; ANTALÍK, M.; ŠIKOLA, T. Preparation of CuO/ZnO nanocomposite and its application as a cysteine / homocysteine colorimetric and fluorescence detector. Colloids and Surfaces B: Biointerfaces, 2014, roč. 123, č. 1, s. 951-958. ISSN: 0927-7765.
    Detail

    ZALLO, E.; TROTTA, R.; KŘÁPEK, V.; HUO, Y.; ATKINSON, P.; DING, F.; ŠIKOLA, T.; RASTELLI, A.; SCHMIDT, O. Strain-induced active tuning of the coherent tunneling in quantum dot molecules. PHYSICAL REVIEW B, 2014, roč. 89, č. 24, s. 241303-1 (241303-5 s.)ISSN: 1098-0121.
    Detail

    DRUCKMÜLLEROVÁ, Z.; KOLÍBAL, M.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. Toward Site-Specific Dopant Contrast in Scanning Electron Microscopy. MICROSCOPY AND MICROANALYSIS, 2014, roč. 20, č. 4, s. 1312-1317. ISSN: 1431-9276.
    Detail

    GLAJC, P.; ZLÁMAL, J.; MACH, J.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Návrh iontového zdroje se sedlovým polem a žhavenou katodou. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6- 7, s. 181-183. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    DVOŘÁK, P.; LIGMAJER, F.; ŠAMOŘIL, T.; HRTOŇ, M.; KLEMENT, R.; BABOCKÝ, J.; TUČEK, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Využití reflexní optické spektroskopie v plazmonice. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6- 7, s. 162-164. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    PROCHÁZKA, P.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; LIŠKOVÁ, Z.; DAVID, B.; HULVA, J.; KONEČNÝ, M.; ŠIKOLA, T. Shubnikovy- de Haasovy oscilace na grafenu připraveném metodou CVD. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6- 7, s. 195-198. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    LIŠKOVÁ, Z.; HAMMEROVÁ, V.; ZAHRADNÍČEK, R.; MACH, J.; PROCHÁZKA, P.; HULVA, J.; BARTOŠÍK, M.; ŠIKOLA, T. Měření Schotkyho grafen/ Si přechodu metodou EBIC. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6- 7, s. 189-191. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    ČECHAL, J.; POLČÁK, J.; ŠIKOLA, T. Detachment Limited Kinetics of Gold Diffusion through Ultrathin Oxide Layers. Journal of Physical Chemistry C (print), 2014, roč. 118, č. 31, s. 17549-17555. ISSN: 1932-7447.
    Detail

    NEUMAN, J.; NOVÁČEK, Z.; PAVERA, M.; ŠULC, D.; WERTHEIMER, P.; VASKEVICH, A.; RUBINSTEIN, I.; ŠIKOLA, T. Příprava pravidelně uspořádaných ostrůvků zlata. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6- 7, s. 199-201. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    MACH, J.; ŠAMOŘIL, T.; KOLÍBAL, M.; ZLÁMAL, J.; VOBORNÝ, S.; BARTOŠÍK, M.; ŠIKOLA, T. Optimization of ion-atomic beam source for deposition of GaN ultrathin films. Review of Scientific Instruments, 2014, roč. 85, č. 8, s. 083302-1 (083302-5 s.)ISSN: 0034-6748.
    Detail

    ŠULC, D.; WERTHEIMER, P.; PAVERA, M.; NOVÁČEK, Z.; NEUMAN, J.; ŠIKOLA, T. Vývoj universálního zařízení pro rastrovací sondové mikroskopy. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6- 7, s. 169-171. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    LIGMAJER, F.; DRUCKMÜLLEROVÁ, Z.; MĚCH, R.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Tvorba uspořádaných souborů kovových nanočástic na polovodičových substrátech a jejich charakterizace pomocí spektroskopické elipsometrie. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6- 7, s. 178-180. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    ŠAMOŘIL, T.; METELKA, O.; ŠIKOLA, T. Příprava mikro a nanostruktur pomocí selektivního mokrého leptání křemíku. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6- 7, s. 192-195. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    PROCHÁZKA, P.; MACH, J.; BISCHOFF, D.; LIŠKOVÁ, Z.; DVOŘÁK, P.; VAŇATKA, M.; SIMONET, P.; VARLET, A.; HEMZAL, D.; PETRENEC, M.; KALINA, L.; BARTOŠÍK, M.; ENSSLIN, K.; VARGA, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Ultrasmooth metallic foils for growth of high quality graphene by chemical vapor deposition. NANOTECHNOLOGY, 2014, roč. 25, č. 18, s. 185601-1 (185601-8 s.)ISSN: 0957-4484.
    Detail

  • 2013

    UHLÍŘ, V.; URBÁNEK, M.; HLADÍK, L.; SPOUSTA, J.; IM, M.; FISCHER, P.; EIBAGI, N.; KAN, J.; FULLERTON, E.; ŠIKOLA, T. Dynamic switching of the spin circulation in tapered magnetic nanodisks. Nature Nanotechnology (print), 2013, roč. 8, č. 5, s. 341-346. ISSN: 1748- 3387.
    Detail

    DVOŘÁK, P.; NEUMAN, T.; BŘÍNEK, L.; ŠAMOŘIL, T.; KALOUSEK, R.; DUB, P.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Control and Near- Field Detection of Surface Plasmon Interference Patterns. NANO LETTERS, 2013, roč. 13, č. 6, s. 2558-2563. ISSN: 1530- 6984.
    Detail

    BŘÍNEK, L.; DVOŘÁK, P.; NEUMAN, T.; DUB, P.; KALOUSEK, R.; ŠIKOLA, T. Aplikace rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli pro plasmoniku. Jemná mechanika a optika, 2013, roč. 58, č. 6, s. 169-171. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    BŘÍNEK, L.; ÉDES, Z.; DVOŘÁK, P.; NEUMAN, T.; ŠAMOŘIL, T.; KALOUSEK, R.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Interference povrchových plazmonů v blízkém poli. Československý časopis pro fyziku, 2013, roč. 63, č. 4, s. 234-236. ISSN: 0009- 0700.
    Detail

    ŠULC, D.; WERTHEIMER, P.; PÁLENÍČEK, M.; VÁLEK, L.; ŠIKOLA, T. Zařízení pro analýzu křemíkových desek. Jemná mechanika a optika, 2013, roč. 58, č. 6, s. 187-189. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    NOVÁČEK, Z.; PAVERA, M.; NEUMAN, J.; ŠIKOLA, T. Systém pro charakterizaci a optimalizaci piezomotorů. Jemná mechanika a optika, 2013, roč. 58, č. 6, s. 190-193. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    LIŠKOVÁ, Z.; PROCHÁZKA, P.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; URBÁNEK, M.; LEDINSKÝ, M.; FEJFAR, A.; ŠIKOLA, T. Metody charakterizace grafenu. Jemná mechanika a optika, 2013, roč. 58, č. 6, s. 184-186. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

  • 2012

    KOLÍBAL, M.; KALOUSEK, R.; NOVÁK, L.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. Controlled faceting in (110) germanium nanowire growth by switching between vapor-liquid-solid and vapor-solid- solid growth. Applied Physics Letters, 2012, roč. 100, č. 20, s. 203102- 1 (203102-4 s.)ISSN: 0003- 6951.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; KONEČNÝ, M.; LIGMAJER, F.; ŠKODA, D.; VYSTAVĚL, T.; ZLÁMAL, J.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Guided Assembly of Gold Colloidal Nanoparticles on Silicon Substrates Prepatterned by Charged Particle Beams. ACS Nano, 2012, roč. 6, č. 11, s. 10098-10106. ISSN: 1936- 0851.
    Detail

    KALOUSEK, R.; DUB, P.; BŘÍNEK, L.; ŠIKOLA, T. Response of plasmonic resonant nanorods: an analytical approach to optical antennas. OPTICS EXPRESS, 2012, roč. 20, č. 16, s. 17916-17927. ISSN: 1094- 4087.
    Detail

  • 2011

    BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Depth resolution enhancement by combined DSIMS and TOF- LEIS profiling. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2011, roč. 269, č. 3, s. 369-373. ISSN: 0168- 583X.
    Detail

    MACH, J.; ŠAMOŘIL, T.; VOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; ŠIKOLA, T. An ultra-low energy (30–200 eV) ion-atomic beam source for ion-beam- assisted deposition in ultrahigh vacuum. Review of Scientific Instruments, 2011, roč. 82, č. 8, s. 083302- 1 (083302-7 s.)ISSN: 0034- 6748.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; VYSTAVĚL, T.; NOVÁK, L.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. In-situ observation of <110> oriented Ge nanowire growth and associated collector droplet behavior. Applied Physics Letters, 2011, roč. 99, č. 14, s. 143113- 1 (143113-3 s.)ISSN: 0003- 6951.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; MATLOCHA, T.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. Low energy focused ion beam milling of silicon and germanium nanostructures. NANOTECHNOLOGY, 2011, roč. 22, č. 10, s. 105304- 1 (105304-8 s.)ISSN: 0957-4484.
    Detail

  • 2010

    ČECHAL, J.; POLČÁK, J.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Formation of copper islands on a native SiO2 surface at elevated temperatures. Applied Surface Science, 2010, roč. 256, č. 11, s. 3636-3641. ISSN: 0169- 4332.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Stability of hydrogen- terminated silicon surface under ambient atmosphere. Applied Surface Science, 2010, roč. 256, č. 11, s. 3423-2426. ISSN: 0169- 4332.
    Detail

    URBÁNEK, M.; UHLÍŘ, V.; BÁBOR, P.; KOLÍBALOVÁ, E.; HRNČÍŘ, T.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Focused ion beam fabrication of spintronic nanostructures: an optimization of the milling process. NANOTECHNOLOGY, 2010, roč. 21, č. 14, s. 145304- 1 (145304-7 s.)ISSN: 0957-4484.
    Detail

    KOH, A.; TOMANEC, O.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T.; MAIER, S.; MCCOMB, D. HRTEM and EELS of nanoantenna structures fabricated using focused ion beam techniques. Journal of Physics: Conference Series, 2010, roč. 241, č. 1, s. 012041- 1 (012041-4 s.)ISSN: 1742-6588.
    Detail

    POLČÁK, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; URBÁNEK, M.; PRŮŠA, S.; ŠIKOLA, T. Angle-resolved XPS depth profiling of modeled structures: testing and improvement of the method. Surface and Interface Analysis, 2010, roč. 42, č. 5- 6, s. 649-652. ISSN: 0142- 2421.
    Detail

    MATLOCHA, T.; PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; PRIMETZHOFER, D.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. A study of a LEIS azimuthal scan behavior: Classical dynamics simulation. Surface Science, 2010, roč. 604, č. 21- 22, s. 1906-1911. ISSN: 0039- 6028.
    Detail

    LYSÁČEK, D.; VÁLEK, L.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T.; ŠPETÍK, R. Thermal stability of undoped polycrystalline silicon layers on antimony and boron- doped substrates. Thin Solid Films, 2010, roč. 518, č. 14, s. 4052-4057. ISSN: 0040- 6090.
    Detail

  • 2009

    ČECHAL, J.; MATLOCHA, T.; POLČÁK, J.; KOLÍBAL, M.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Characterization of oxidized gallium droplets on silicon surface: an ellipsoidal droplet shape model for angle resolved X- ray photoelectron spectroscopy analysis. Thin Solid Films, 2009, roč. 517, č. 6, s. 1928-1934. ISSN: 0040- 6090.
    Detail

    KOSTELNÍK, P.; ŠIKOLA, T.; SCHMID, M.; VARGA, P. A LEED study of NO superstructures on the Pd(111) surface. Journal of Physics: Condensed Matter, 2009, roč. 21, č. 13, s. 134005- 1 (134005-7 s.)ISSN: 0953-8984.
    Detail

    BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Role of humidity in local anodic oxidation: A study of water condensation and electric field distribution. PHYSICAL REVIEW B, 2009, roč. 79, č. 19, s. 195406-195412. ISSN: 1098- 0121.
    Detail

    BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; KALOUSEK, R.; NEUMAN, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Mechanika iontů jako prostředek k analýze nanosvěta. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7- 8, s. 209-214. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    POLČÁK, J.; BÁBOR, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Manipulátor vzorku pro rentgenovou fotoelekronovou spektroskopii do velmi vysokého vakua. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7- 8, s. 215-216. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    POTOČEK, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Využití termální desorpční spektroskopie při studiu povrchové kontaminace. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7- 8, s. 217-218. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    ŠKODA, D.; KALOUSEK, R.; TOMANEC, O.; BARTOŠÍK, M.; BŘÍNEK, L.; ŠUSTR, L.; ŠIKOLA, T. Studium optických vlastností nanostruktur pomocí mikroskopie blízkého pole. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7- 8, s. 219-222. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    ČECHAL, J.; POLČÁK, J.; TOMANEC, O.; ŠIKOLA, T. Řízený růst kobaltových ostrůvků na křemíkovém substrátu. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7- 8, s. 222-224. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    SPOUSTA, J.; ZLÁMAL, J.; URBÁNEK, M.; BĚHOUNEK, T.; PLŠEK, R.; KALOUSEK, R.; ŠIKOLA, T. Citlivostní analýza vyhodnocování optických parametrů tenkých vrstev (aneb jaké jsou naše šance získat věrohodný výsledek fitováním spekter odrazivosti). Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7- 8, s. 225-228. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    BARTOŠÍK, M.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Selective growth of metallic nanostructures on surfaces patterned by AFM local anodic oxidation. JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY, 2009, roč. 9, č. 10, s. 5887-5890. ISSN: 1533- 4880.
    Detail

    ŠIKOLA, T.; KEKATPURE, R.; BARNARD, E.; WHITE, J.; VAN DORPE, P.; BŘÍNEK, L.; TOMANEC, O.; ZLÁMAL, J.; LEI, D.; SONNEFRAUD, Y.; MAIER, S.; HUMLÍČEK, J.; BRONGERSMA, M. Mid-IR plasmonic antennas on silicon-rich oxinitride absorbing substrates: Nonlinear scaling of resonance wavelengths with antenna length. Applied Physics Letters, 2009, roč. 95, č. 25, s. 253109- 1 (253109-3 s.)ISSN: 0003-6951.
    Detail

  • 2008

    PRIMETZHOFER, D.; MARKIN, S.; ZEPPENFELD, P.; BAUER, P.; PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Quantitative analysis of ultra thin layer growth by time-of- flight low energy ion scattering. Applied Physics Letters, 2008, roč. 92, č. 1, s. 011929- 1 (011929-3 s.)ISSN: 0003-6951.
    Detail

    TOMANEC, O.; HRNČÍŘ, T.; LOVICAR, L.; ŠUSTR, L.; BŘÍNEK, L.; KALOUSEK, R.; CHMELÍK, R.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Studium vlastností mikro- a nanostruktur v oblasti plazmoniky na Ústavu fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně. Jemná mechanika a optika, 2008, roč. 52, č. 6, s. 187-189. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    ČECHAL, J.; LUKSCH, J.; KOŇÁKOVÁ, K.; URBÁNEK, M.; KOLÍBALOVÁ, E.; ŠIKOLA, T. Morphology of cobalt layers on native SiO2 surfaces at elevated temperatures: formation of Co islands. Surface Science, 2008, roč. 602, č. 15, s. 2693-2698. ISSN: 0039- 6028.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; ČECHAL, T.; KOLÍBALOVÁ, E.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Self-limiting cyclic growth of gallium droplets on Si(111). NANOTECHNOLOGY, 2008, roč. 19, č. 46, s. 475606- 1 (475606-5 s.)ISSN: 0957-4484.
    Detail

    MACH, J.; ČECHAL, J.; KOLÍBAL, M.; POTOČEK, M.; ŠIKOLA, T. Atomic hydrogen induced gallium nanocluster formation on the Si(100) surface. Surface Science, 2008, roč. 602, č. 10, s. 1898-1902. ISSN: 0039- 6028.
    Detail

    PLŠEK, R.; UHLÍŘ, V.; URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Měření magnetických vlastností tenkých vrstev pomocí magnetooptického Kerrova jevu. Jemná mechanika a optika, 2008, roč. 52, č. 6, s. 184-186. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

  • 2007

    KOLÍBAL, M.; TOMANEC, O.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; MARKIN, S.; DITTRICHOVÁ, L.; SPOUSTA, J.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. TOF-LEIS spectra of Ga/Si: Peak shape analysis. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2007, roč. 265, č. 2, s. 569-575. ISSN: 0168- 583X.
    Detail

    URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; BĚHOUNEK, T.; ŠIKOLA, T. Imaging reflectometery in situ. Applied Optics, 2007, roč. 46, č. 25, s. 6309-6313. ISSN: 0003- 6935.
    Detail

    PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Analysis of thin films by TOF- LEIS. ACTA PHYSICA POLONICA A, 2007, roč. 111, č. 3, s. 335-341. ISSN: 0587- 4246.
    Detail

    ČECHAL, J.; MACH, J.; VOBORNÝ, S.; KOSTELNÍK, P.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. A study of Ga layers on Si(100)-(2x1) by SR-PES: influence of adsorbed water. Surface Science, 2007, roč. 601, č. 9, s. 2047-2053. ISSN: 0039- 6028.
    Detail

    KOSTELNÍK, P.; SERIANI, N.; KRESSE, G.; MIKKELSEN, A.; LUNDGREN, E.; BLUM, V.; ŠIKOLA, T.; VARGA, P.; SCHMID, M. The Pd(100)-(SQRT(5)xSQRT(5))R27-O surface oxide: a LEED, DFT and STM study. Surface Science, 2007, roč. 601, č. 6, s. 1574-1581. ISSN: 0039- 6028.
    Detail

    ČECHAL, J.; KOLÍBAL, M.; KOSTELNÍK, P.; ŠIKOLA, T. Gallium structure on the Si(111)-(7 x 7) surface: influence of Ga coverage and temperature. Journal of Physics: Condensed Matter, 2007, roč. 19, č. 1, s. 016011 ( s.)ISSN: 0953- 8984.
    Detail

    BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. The influence of humidity on the kinetics of local anodic oxidation. Journal of Physics: Conference Series, 2007, roč. 61, č. 0, s. 75-79. ISSN: 1742- 6588.
    Detail

  • 2006

    SPOUSTA, J.; URBÁNEK, M.; CHMELÍK, R.; BĚHOUNEK, T.; PLŠEK, R.; ŠIKOLA, T.; NAVRÁTIL, K. Vývoj zařízení k in-situ stanovení rozložení tlouštěk vrstev pomocí UV- VIS zobrazovací reflektometrie. 2006, roč. 51, č. 9, s. 239-245. ISSN: 0447- 6411.
    Detail

    ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. A study of the formation and oxidation of PtSi by SR- PES. Surface Science, 2006, roč. 600, č. 20, s. 4717-4722. ISSN: 0039- 6028.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; TOMANEC, O.; KOSTELNÍK, P.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. In situ Analysis of Ga-ultra Thin Films by ToF- LEIS. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2006, roč. 249, č. 1- 2, s. 318-321. ISSN: 0168- 583X.
    Detail

    ČERVENKA, J.; KALOUSEK, R.; BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; ŠIKOLA, T. Fabrication of nanostructures on Si(100) and GaAs(1 0 0) by local anodic oxidation. Applied Surface Science, 2006, roč. 253, č. 5, s. 2373-2378. ISSN: 0169- 4332.
    Detail

  • 2005

    VOBORNÝ, S.; MACH, J.; POTOČEK, M.; KOSTELNÍK, P.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Analysis of GaN Ultrathin Films grown by Direct Ion Beam Deposition. 1. Vienna: 2005. s. 117-117.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; TOMANEC, O.; POTOČEK, M.; ČECHAL, J.; KOSTELNÍK, P.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. Application of ToF LEIS for Monitoring the growth and thermal treatment of Ga ultrathin films. 1. Vienna: 2005. s. 191-191.
    Detail

    ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. A Study of Gallium Growth on Si(111) 7x7 by SRPES. 1. Vienna: 2005. s. 259-259.
    Detail

    BONAVENTUROVÁ - ZRZAVECKÁ, O.; BRANDEJSOVÁ, E.; ČECHAL, J.; POTOČEK, M.; NEBOJSA, A.; NAVRÁTIL, K.; ŠIKOLA, T.; HUMLÍČEK, J. UV in-situ degradation of PMPSi analysed by spectroscopic ellipsometry, XPS and TDS. 1. Vienna: 2005. s. 294-294.
    Detail

    BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; URBÁNEK, M.; MACH, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; SOBOTA, J.; BOCHNÍČEK, Z.; ŠIKOLA, T. Depth Profiling of Ultrathin Films and Their Multilayers by DSIMS. 1. Manchester: 2005. s. 178-178.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; TOMANEC, O.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. In situ Analysis of Ga-ultra Thin Films by TOF- LEIS. 1. Seville: 2005.
    Detail

    BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; URBÁNEK, M.; MACH, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; SOBOTA, J.; BOCHNÍČEK, Z.; ŠIKOLA, T. Depth Profiling of Ultrathin Films and Their Multilayers by DSIMS. 1. Seville: 2005.
    Detail

    DRAXLER, M.; MARKIN, S.; KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; ŠIKOLA, T.; BAUER, P. High resolution time-of- flight low energy ion scattering. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2005, roč. 230, č. 0, s. 398-401. ISSN: 0168- 583X.
    Detail

    SPOUSTA, J.; URBÁNEK, M.; NEUGEBAUER, P.; ŠIKOLA, T.; NAVRÁTIL, K. UV- VIS Areal Reflectometry. 1. Vienna: 2005. s. 111-111.
    Detail

  • 2004

    ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. A study of oxygen influence on PtSi formation by SR- PES. In New Trends in Phisics. Brno: VUT v Brně, 2004. s. 218 ( s.)ISBN: 80-7355-024- 5.
    Detail

    BRANDEJSOVÁ, E.; ČECHAL, J.; BONAVENTUROVÁ, O.; NEBOJSA, A.; TICHOPÁDEK, P.; URBÁNEK, M.; NAVRÁTIL, K.; ŠIKOLA, T.; HUMLÍČEK, J. In situ analysis of PMPSi thin films by spectroscopic ellipsometry. Jemná mechanika a optika, 2004, roč. 9, č. 9, s. 260 ( s.)ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    VOBORNÝ, S., MACH, J., KOLÍBAL, M., ČECHAL, J., BÁBOR, P., POTOČEK, M., ŠIKOLA, T. A study of Early Periods of GaN Ultrathin Film Growth. In New Trends in Pysics. Brno: VUT v Brně, 2004. s. 270 ( s.)ISBN: 80-7355-024- 5.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis. Jemná mechanika a optika, 2004, roč. 9, č. 9, s. 262 ( s.)ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    VOBORNÝ, S.; MACH, J.; ČECHAL, J.; KOSTELNÍK, P.; TOMANEC, O.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Application of Complex UHV Apparaturus in a Study of Low-tepmerature Gallium- nitride Ultrathin Film Growth. Jemná mechanika a optika, 2004, roč. 9, č. 9, s. 265 ( s.)ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; NAVRÁTIL, K.; SZOTKOWSKI, R.; CHMELÍK, R.; BUČEK, M.; ŠIKOLA, T. Instrument for thin film diagnostics by UV spectroscopic reflectometry. Surface and Interface Analysis, 2004, roč. 36, č. 8, s. 1102 ( s.)ISSN: 0142- 2421.
    Detail

    ŠIKOLA, T. Nanotechnology - vision or reality?. In New Trends in Physics. Brno: VUT v Brně, 2004. s. 262 ( s.)ISBN: 80-7355-024- 5.
    Detail

    KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., BÁBOR, P., BARTOŠÍK, M., TOMANEC, O., ŠIKOLA, T. Growth of gallium on sillicon: A TOF- LEIS and AFM study. In New Trend in Physics. Brno: VUT v Brně, 2004. s. 230 ( s.)ISBN: 80-7355-024- 5.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. ToF-LEIS Analysis of ultra thin films: Ga and Ga-N layer growth on Si(111). Surface Science, 2004, roč. 566- 568, č. 9, s. 885 ( s.)ISSN: 0039- 6028.
    Detail

    VOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; MACH, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; PRŮŠA, S.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Deposition and in-situ charakterization of ultra- thin films. Thin Solid Films, 2004, roč. 459, č. 1- 2, s. 17 ( s.)ISSN: 0040- 6090.
    Detail

    ČECHAL, J.; TICHOPÁDEK, P.; NEBOJSA, A.; BONAVENTUROVÁ, O.; URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; NAVRÁTIL, K.; ŠIKOLA, T. In situ analysis of PMPSi by spectroscopic ellipsometry and XPS. Surface and Interface Analysis, 2004, roč. 38, č. 8, s. 1218 ( s.)ISSN: 0142- 2421.
    Detail

    KALOUSEK, R., ČERVENKA, J., BARTOŠÍK, M., ŠKODA, D., ŠIKOLA, T. Fabrication of nanostructures on Si(100) and GaAs(100) by local anodic oxidation. In New Trend in Physics. Brno: VUT v Brně, 2004. s. 226 ( s.)ISBN: 80-7355-024- 5.
    Detail

  • 2003

    VAIS, J.; ŽENÍŠEK, J.; MRÁZ, M.; DITTRICHOVÁ, L.; SPOUSTA, J.; RAFAJA, D.; ŠIKOLA, T. Deposition of Cobalt Nitride Films by IBAD. In EVC 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. s. 116 ( s.)
    Detail

    VOBORNÝ, S., KOLÍBAL, M., MACH, J., ČECHAL, J., BÁBOR, P., PRŮŠA, S., SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T. Deposition and in situ characterization of ultra- thin films. In EVC' 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. s. 45 ( s.)
    Detail

    BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Zobrazení iontovým svazkem a 2D SIMS. Jemná mechanika a optika, 2003, roč. 48, č. 6, s. 178 ( s.)ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    URBÁNEK, M., SPOUSTA, J., NAVRÁTIL, K., BUČEK, M., NEUGEBAUER, P., ŠIKOLA, T. Systém pro měření homogenity optických vlastností tenkých vrstev. 2003, roč. 48, č. 6, s. 163 ( s.)ISSN: 0447- 6411.
    Detail

    ŠKODA, D., LOPOUR, F., KALOUSEK, R., BURIAN, D., SPOUSTA, J., MATĚJKA, F., ŠIKOLA, T. Aplikace AFM v oblasti přípravy a studia nanostruktur. Československý časopis pro fyziku, 2003, roč. 53, č. 2, s. 105 ( s.)ISSN: 0009- 0700.
    Detail

    PRŮŠA, S., KOLÍBAL, M., BÁBOR, P., MACH, J., JURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T. Analysis of thin films by TOF LEIS. In EVC' 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. s. 133 ( s.)
    Detail

    ŠKODA, D., KALOUSEK, R., BARTOŠÍK, M., MATUROVÁ, K., ŠIKOLA, T. Fabrication of Nanostructures by AFM. In EVC' 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. s. 243 ( s.)
    Detail

    KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., BÁBOR, P., BAUER, P., ŠIKOLA, T. TOF-LEIS analysis of ultra thin films: Ga- and Ga-N layer growth on Si (111). In ECOSS 22 CD. Praha: FÚ AV ČR, 2003. s. 0 ( s.)
    Detail

    BÁBOR, P., KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T. Application of a simple imaging system in SIMS and TOF LEIS. In ECOSS 22 CD. Praha: FÚ AV ČR, 2003. s. 0 ( s.)
    Detail

    KALOUSEK, R., ŠKODA, D., ŠIKOLA, T. Noncontact Atomic Force Microscopy - Simulated Images of Real Surface Structures. In ECASIA ' 03 Book of abstracts. Berlin: ECASIA, 2003. s. 80 ( s.)
    Detail

    URBÁNEK, M., SPOUSTA, J., NAVRÁTIL, K., FIEDOR, M., CHMELÍK, R., BUČEK, M., ŠIKOLA, T. Instrument for Thin Films Diagnostics by UV Spectroscopic Reflectometry. In ECASIA ' 03 Book of abstracts. Berlin: ECASIA, 2003. s. 284 ( s.)
    Detail

    ČECHAL, J., TICHOPÁDEK, P., NEBOJSA, A., BONAVENTUROVÁ - ZRZAVECKÁ, O., URBÁNEK, M., NAVRÁTIL, K., ŠIKOLA, T. In- situ analysis of PMPSI by spectroscopic ellipsometry and XPS. In ECASIA 10 Book of Abstracts. Berlin: ECASIA, 2003. s. 226 ( s.)
    Detail

    VAIS, J., ŽENÍŠEK, J., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J., DITTRICHOVÁ, L., SPOUSTA, J., BOCHNÍČEK, Z., ŠIKOLA, T. Interface and depth profile analysis of magnetic ultrathin films. In ECASIA 10 Book of Abstracts. Berlin: ECASIA, 2003. s. 226 ( s.)
    Detail

    ŠIKOLA, T. Nanotechnologie – současný stav. In Zpravodaj CVS 11(2). Praha: CVS, 2003. s. 29 ( s.)
    Detail

    KALOUSEK, R., ŠKODA, D., ŠIKOLA, T. AFM – zařízení pro mikroskopii povrchů a nanotechnologie. In Zpravodaj CVS 11(2). Praha: CVS, 2003. s. 47 ( s.)
    Detail

    DOHNAL, M.; PLEŠEK, M.; TVARŮŽEK, P.; ŠKODA, D.; ŠIKOLA, T. Characterization of polyolefinic hollow fibers membrane at a microscopic level. In Permea 2003 Proceedings of the Membrane Science and Technology Conference of the Visegrad Countries with Wider International Participation. Bratislava: Slovak Society of Chemical Engineering, 2003. s. 158 ( s.)ISBN: 80-227-1922- 6.
    Detail

    KALOUSEK, R., ŠKODA, D., LOPOUR, F., ŠIKOLA, T. Simulace zobrazení povrchů pomocí bezkontaktní metody AFM. Československý časopis pro fyziku, 2003, roč. 53, č. 2, s. 89 ( s.)ISSN: 0009- 0700.
    Detail

    ŠIKOLA, T. Nanotechnologie - vize či skutečnost?. Československý časopis pro fyziku, 2003, roč. 53, č. 2, s. 70 ( s.)ISSN: 0009- 0700.
    Detail

  • 2002

    ŠIKOLA, T., LOPOUR, F., BÁBOR, P., BUŠ, V., ŠKODA, D., DUARTE, J. Application of SPM in surface studies and nanotechnology. 2002, roč. 47, č. 6- 7, s. 210 ( s.)ISSN: 0447- 6411.
    Detail

    TICHOPÁDEK, P., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., NAVRÁTIL, K., ČECHAL, J., JURKOVIČ, P., BÁBOR, P. A Study of Thin Oxide Films by Ellipsometry and AR XPS. Surface and Interface Analysis, 2002, roč. 34, č. 1, s. 531 ( s.)ISSN: 0142- 2421.
    Detail

    LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., ŠKODA, D., MATĚJKA, F., KALOUSEK, R. Application of AFM in Microscopy and in Fabrication of Micro/ Nanostructures. Surface and Interface Analysis, 2002, roč. 34, č. 1, s. 352 ( s.)ISSN: 0142- 2421.
    Detail

    ROUČKA, R., JIRUŠE, J., ŠIKOLA, T. Spot intensity processing in LEED images. Vacuum, 2002, roč. 65, č. 2, s. 121 ( s.)ISSN: 0042- 207X.
    Detail

    SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T., ZLÁMAL, J., URBÁNEK, M., NAVRÁTIL, K., JIRUŠE, J., CHMELÍK, R., NEBOJSA, A. In situ measurements of surface homogeneity of optical parameters of weakly absorbing thin films. Surface and Interface Analysis, 2002, roč. 34, č. 1, s. 664 ( s.)ISSN: 0142- 2421.
    Detail

  • 2001

    JURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T., BÁBOR, P., ČECHAL, J. Studium ultratenkých vrstevnatých struktur. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. s. 364 ( s.)ISBN: 80-214-1992- X.
    Detail

    LOPOUR, F., KALOUSEK, R., ŠIKOLA, T., ŠKODA, D. Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM. Jemná mechanika a optika, 2001, roč. 46, č. 4, s. 133 ( s.)ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    URBÁNEK, M., SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T., ZLÁMAL, J., CHMELÍK, R., HARNA, Z., JIRUŠE, J., JÁKL, M. In situ plošné monitorování optických parametrů tenkých vrstev. Jemná mechanika a optika, 2001, roč. 46, č. 4, s. 143 ( s.)ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    ŠIKOLA, T., LOPOUR, F., KALOUSEK, R., ŠKODA, D. Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM. Československý časopis pro fyziku, 2001, roč. 51, č. 1, s. 33 ( s.)ISSN: 0009- 0700.
    Detail

    KALOUSEK, R., DUB, P., ŠIKOLA, T., LOPOUR, F. Fyzikální principy a limity rozlišení bezkontaktní metody AFM - simulace oscilací raménka. Československý časopis pro fyziku, 2001, roč. 51, č. 1, s. 43 ( s.)ISSN: 0009- 0700.
    Detail

    LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., KALOUSEK, R., MATĚJKA, F., ŠKODA, D. Application of AFM in Microscopy and in Fabrication of Micro/ Nanostructures. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. s. 320 ( s.)
    Detail

    TICHOPÁDEK, P., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., NAVRÁTIL, K., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J. A Study of Thin Oxide Films by Ellipsometry and AR XPS. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. s. 360 ( s.)
    Detail

    LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., ŠKODA, D. Fabrication of nanostructures by AFM local Oxidation. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. s. 394 ( s.)ISBN: 80-214-1992- X.
    Detail

    TICHOPÁDEK, P.; ŠIKOLA, T.; NEBOJSA, A.; ČECHAL, J. Application of Spectroscopic Ellipsometry in Ultrathin Film Analysis. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. s. 415 ( s.)ISBN: 80-214-1992- X.
    Detail

    VOBORNÝ, S., ŠIKOLA, T., PRŮŠA, S., ZLÁMAL, J., BÁBOR, P. Diagnostics and optimization of ion source parameters. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. s. 304 ( s.)ISBN: 80-214-1992- X.
    Detail

    PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., BÁBOR, P. Application of ToF - LEIS for Analysis of Surfaces and Ultra Thin Films. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. s. 404 ( s.)ISBN: 80-214-1992- X.
    Detail

    PÁTÍK, K.; ŠIKOLA, T.; LOPOUR, F. Design of Piezoelectric Manipulators for an Application in SPM instruments. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. s. 400 ( s.)ISBN: 80-214-1992- X.
    Detail

    KALOUSEK, R., ŠIKOLA, T., BUŠ, V., ŠKODA, D. Noncontact Scanning Force Microscopy - Principles and Simulations. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. s. 369 ( s.)ISBN: 80-214-1992- X.
    Detail

    DUB, P., SVĚTLÍK, J., ŠTRUNC, M., KOMRSKA, J., ZDRAŽIL, V., LIŠKA, M., DĚDEK, L., TOMÁNEK, P., LENCOVÁ, B., HORÁK, M., ŠIKOLA, T., BARTLOVÁ, M., SPOUSTA, J., NAVRÁTIL, V., HOLÝ, V., MITVALSKÝ, V., MUSILOVÁ, J., HOUFEK, K., ECKERTOVÁ, L., HAVRÁNEK, A., OBDRŽÁLEK, J., NOVOTNÝ, J., LENC, M., CHVOSTA, P., BOCHNÍČEK, Z. Fyzika. In Fyzika. Překlady vysokoškolských učebnic. Brno: Vutium Brno, 2001. s. 1 ( s.)ISBN: 80-214-1869- 9.
    Detail

    LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., ŠKODA, D. AFM - a Tool for a Study of Surfaces, Micro- and Nanostructures. In Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3). Brno: Vutium, 2001. s. 394 ( s.)ISBN: 80-214-1892- 3.
    Detail

    PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J. Application of TOF - LEIS and XPS for Surface Studies. In Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3). Brno: Vutium, 2001. s. 486 ( s.)ISBN: 80-214-1892- 3.
    Detail

    PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P. Ion Scattering Spectrosopy - A Tool for Surface Analysis. In Juniormat ' 01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001. s. 86 ( s.)
    Detail

    ŠIKOLA, T. Surfaces and Interfaces - Presence and Perspectives. In Juniormat ' 01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001. s. 74 ( s.)
    Detail

    KALOUSEK, R., ŠIKOLA, T., LOPOUR, F., ŠKODA, D., BUŠ, V. Noncontact Scanning Force Microscopy – a Computer Simulation of Resolution Limits. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. s. 285 ( s.)
    Detail

    SPOUSTA, J., URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J. In situ measurements of surface homogeneity of optical parameters of weakly absorbing thin films. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. s. 295 ( s.)
    Detail

  • 2000

    KALOUSEK, R., DUB, P., ŠIKOLA, T., LOPOUR, F. Vibrational Analysis of the Cantilever in noncontact Scanning Force Microscopy. Surface and Interface Analysis, 2000, roč. 30, č. 1, s. 292 ( s.)ISSN: 0142- 2421.
    Detail

    URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J. Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films. In Micromat 2000. Berlin: Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht, 2000. s. 604 ( s.)
    Detail

    LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., BÁBOR, P., DUARTE, J., MATĚJKA, F. Etching of Microstructures and Modification of Solid Surfaces by Low Energy Ion Beams. In MicroMat 2000. Berlin: Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht, 2000. s. 919 ( s.)
    Detail

    ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., LOPOUR, F., ZLÁMAL, J., TICHOPÁDEK, P., KRÁL, J., RAFAJA, D., RANNO, L. Deposition of Thin Films/ Multilayers by IBAD. In procedings of conference Metal 2000. Ostrava: VŠB Ostrava, 2000. s. 81 ( s.)
    Detail

    URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., CHMELÍK, R., LOPOUR, F., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J. Zařízení k in situ sledování plošné homogenity růstu tenkých neabsorbujících vrstev. In Sborník abstraktů přednášek konference Optické vlastnosti pevných látek v základním výzkum a aplikacích. Brno: MU Brno, 2000. s. 17 ( s.)
    Detail

    LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., ŠKODA, D., MATĚJKA, F. Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM. In 2. seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii a příbuzných technikách. Praha: FÚ AVČR, 2000. s. 5 ( s.)
    Detail

    KALOUSEK, R., LOPOUR, F., ŠIKOLA, T. Fyzikální principy a limity rozlišení bezkontaktní metody AFM- simulace oscilací raménka. In 2. seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii a příbuzných technikách. Praha: FÚ AVČR, 2000. s. 6 ( s.)
    Detail

  • 1994

    ŠIKOLA, T., ARMOUR, D., VAN DEN BERG, J. An in situ study of processes taking place on a silicon surface during bombardment by CFx/Ar ions - etching versus polymerization. In SASP 94 - Symposium on atomic, cluster and surface physics. Hintermoos/Maria Alm, Univ. Innsbruck: Institut für Ionenphysik, Universität Innsbruck, 1994. s. 322 ( s.)ISBN: 0.
    Detail

*) Citace publikací se generují jednou za 24 hodin.