prof. Ing.

Tomáš Kratochvíl

Ph.D.

FEKT – proděkan pro vnější vztahy

+420 54114 6538
kratot@vut.cz

Odeslat VUT zprávu

prof. Ing. Tomáš Kratochvíl, Ph.D.

Tvůrčí aktivity

  • POLÁK, L.; KALLER, O.; BOLEČEK, L.; SLANINA, M.; KRATOCHVÍL, T.: Posuvný volič; Posuvný volič pro subjektivní hodnocení kvality obrazu a videa. http://www.urel.feec.vutbr.cz/index.php?page=products&lang=cz Ústav radioelektroniky FEKT VUT v Brně, Purkyňova 118, Brno. URL: http://www.urel.feec.vutbr.cz/index.php?page=products&lang=. (funkční vzorek)
    http://www.urel.feec.vutbr.cz/index.php?page=products&lang=, počet stažení: 2
    Detail

  • ŠOTNER, R.; PETRŽELA, J.; GÖTTHANS, T.; DŘÍNOVSKÝ, J.; KRATOCHVÍL, T.: Bondwire tester; Šestikanálový tester bondovacích vodičů. Ústav Radioelektroniky, FEKT VUT v Brně, Technická 3082/12, SD6.86. URL: http://www.urel.feec.vutbr.cz/web_documents/produkty/2014/Sotner_bondwire_tester_CZ.pdf. (funkční vzorek)
    http://www.urel.feec.vutbr.cz/web_documents/produkty/2014/Sotner_bondwire_tester_CZ.pdf, počet stažení: 3
    Detail

  • ŠOTNER, R.; GÖTTHANS, T.; DŘÍNOVSKÝ, J.; PETRŽELA, J.; KRATOCHVÍL, T.: Powercell tester; Tester pro dynamické zkoušky spolehlivosti výkonových MOS buněk. Ústav Radioelektroniky, FEKT VUT v Brně, Technická 3082/12, SD6.86. URL: http://www.urel.feec.vutbr.cz/web_documents/produkty/2015/Sotner_powercell_tester_CZ.pdf. (funkční vzorek)
    http://www.urel.feec.vutbr.cz/web_documents/produkty/2015/Sotner_powercell_tester_CZ.pdf, počet stažení: 2
    Detail

  • SLANINA, M.; POLÁK, L.; KALLER, O.; KRATOCHVÍL, T.: SubjectivePlayer; Přehrávač pro subjektivní testy kvality videosekvencí. http://www.urel.feec.vutbr.cz/index.php?page=software Ústav radioelektroniky FEKT VUT v Brně, Purkyňova 118, Brno. URL: http://www.urel.feec.vutbr.cz/index.php?page=software. (software)
    http://www.urel.feec.vutbr.cz/index.php?page=software, počet stažení: 2
    Detail

  • GÖTTHANS, T.; DŘÍNOVSKÝ, J.; PETRŽELA, J.; ŠOTNER, R.; KRATOCHVÍL, T.: nanocops SW powercell; Program pro automatizovanou pro lokalizaci prasklin zatížených tranzistorových buněk. Ústav Radioelektroniky, FEKT VUT v Brně, Technická 3082/12. URL: http://www.urel.feec.vutbr.cz/web_documents/software/2015/Gotthans_NANOCOPS_SW_CZ.pdf. (software)
    http://www.urel.feec.vutbr.cz/web_documents/software/2015/Gotthans_NANOCOPS_SW_CZ.pdf, počet stažení: 3
    Detail

Pokud je v údajích nesrovnalost, podívejte se do častých otázek k vizitkám.