RNDr.

Pavel Dobis

CSc.

FEKT, UFYZ – odborný asistent

+420 54114 6003
dobis@feec.vutbr.cz

Odeslat VUT zprávu

RNDr. Pavel Dobis, CSc.

Publikace

  • 2017

    BUŠOV, B.; BARTLOVÁ, M.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. APPLICATION OF TRIZ METHODOLOGY IN INNOVATION OF PRESSING. In Proceedings of the 9th International Conference Physics Teaching in Engineering Education. Žilina, Slovakia: University of Žilina, Slovakia, 2017. s. 61-69. ISBN: 978-80-554-1322-8.
    Detail

    BUŠOV, B.; BARTLOVÁ, M.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. APPLICATION OF TRIZ METHODOLOGY IN INNOVATION OF PRESSING. Žilina, Slovakia: University of Žilina, Slovakia, 2017. s. 18-18.
    Detail

  • 2012

    BARTLOVÁ, M.; BUŠOV, B.; DOBIS, P. Physics and Technology, Theory and Practice. In EDULEARN12, Proceedings CD. Barcelona, Španělsko: IATED, 2012. s. 4186-4192. ISBN: 978-84-695-3491- 5.
    Detail

    BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. Exploring Physical Properties of Ferromagnetic Materials in Student Laboratories. In GIREP - EPEC 2011 International Confernce Physics Alive, Proceedings. Jyväskylä: University of Jyväskylä, 2012. s. 173-178. ISBN: 978-951-39-4800- 9.
    Detail

    DOBIS, P.; ŠTRUNC, M. The Notion of System in Nanophysics Nonextensivity of Nanosystems. In New Trends in Physics, NTF2012, Proceedings of the conference. Brno: Department of Physics FEEC BUT, 2012. s. 250-254. ISBN: 978-80-214-4594- 9.
    Detail

    BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. Undergraduate Engineering Student Laboratory: Standard Physics Experiment Plus Bonus. In EDULEARN12 Proceedings. 4th International Conference on Education and New Learning Technologies. Barcelona: International Association of Technology, Education and Development (IATED), 2012. s. 2829-3843. ISBN: 978-84-695-3491- 5.
    Detail

    BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. Undergraduate Engineering Student Laboratory: Standard Physics Experiment plus Bonus. EDULEARN12 Abstract. 4th International Conference on Education and New Learning Technologies. Barcelona: International Association of Technology, Education and Development (IATED), 2012. ISBN: 978-84-695-3176- 1.
    Detail

  • 2011

    BUŠOV, B.; BARTLOVÁ, M.; DOBIS, P. TechOptimizer - the Bridge between Theory and Practice. In Proceedings of PTEE 2011. Mannheim, Německo: SEFI, 2011. s. 1-5. ISBN: 978-3-931569-18- 1.
    Detail

  • 2009

    TOMÁNEK, P.; GRMELA, L.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P.; ABUBAKER, H. Measurement of diffused light polarization due to multiple backscattering in body cells. In 8th IMEKO TC 2 Symposium on Photonics in Measurements 2008. Proceedings. New York: Curran Associated, Inc., 2009. s. 152-157. ISBN: 978-1-61567-041- 3.
    Detail

    TOMÁNEK, P.; MIKLÁŠ, J.; BAJGAR, A.; GRMELA, L.; DOBIS, P.; BRÜSTLOVÁ, J. Sensor of back- scattered light polarization in body cells. In Optical sensors 2009, Francesco Baldini, Jiri Homola, Robert A. Lieberman (Eds)., SPIE Proceedings, vol. 7356. Proceedings of SPIE. Bellingham, USA: SPIE, 2009. s. 7356281-7356289. ISSN: 0277- 786X.
    Detail

  • 2008

    TOMÁNEK, P.; GRMELA, L.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. Measurement of diffused light polarization due to multiple scattering in body cells. In 18th IMEKO TC 2 SYMPOSIUM on Photonics in Measurements. Prague: Zeithamlová Milena, Ing. - Agentura Action M, 2008. s. 95-99. ISBN: 978-80-86742-24- 3.
    Detail

  • 2007

    UHDEOVÁ, N.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P.; GRMELA, L. Fyzikální Praktikum. Fyzikální praktikum. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, 2007. s. 1-128. ISBN: 978-80-214-3458- 5.
    Detail

    TOMÁNEK, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. The use of fiber Bragg gratings in sensing. In New trends in Physics 2007. Brno: Department of Physics FEEC, Brno University of Technology, 2007. s. 278-281. ISBN: 978-80-7355-078- 3.
    Detail

    GRMELA, L.; DOBIS, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; TOMÁNEK, P. Optoelectronic noise and photocurrent measurement on GaAs/ AlGaAs laser diode with single quantum well. International Journal of Optomechatronics, 2007, roč. 1, č. 1, s. 73-80. ISSN: 1559- 9612.
    Detail

    AHMED, M.; TOMÁNEK, P.; DOBIS, P.; BRÜSTLOVÁ, J. Local investigation on alternating current ZnS:Mn thin- film electroluminescent devices. In CoPhys 2006. Nitra: Constantine the Philosopher University, 2007. s. 53-63. ISBN: 978-80-8094-084- 3.
    Detail

    TOMÁNEK, P.; DOBIS, P.; BRÜSTLOVÁ, J. Introductory interactive course of Nanotechnology for Electrical Engineering curriculum. In CoPhys 2006. Nitra: Constantine the Philosopher University, 2007. s. 157-162. ISBN: 978-80-8094-084- 3.
    Detail

  • 2006

    UHDEOVÁ, N.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P.; GRMELA, L.; VEVERKA, O. Fyzikální praktikum. Brno: FEKT VUT, 2006. s. 1 ( s.)ISBN: 80-214-3234- 9.
    Detail

  • 2005

    P. Dobis, J. Brüstlová, V. Sedláková. Learning and Tutorial Supports for Bachelor Physics at Brno University of Technology. In Proceedings of the 4th International Conference on Physics Teaching in Engineering Education - PTEE 2005. Brno: European Physical Society and European Society for Engineering Education, 2005. s. 72 ( s.)ISBN: 80-903063-6- 5.
    Detail

    P. Dobis, J. Brüstlová, V. Sedláková. Europhysics Conference Abstracts, Vol. 29G: Learning and Tutorial Supports for Bachelor Physics at Brno University of Technology. Europhysics Conference Abstracts, Vol. 29G. 4th International Conference on Physics Teaching in Engineering Education - PTEE 2005. Europhysics Conference Abstracts, Vol. 29G. Brno: European Physical Society, 2005. s. 7- 2 ( s.)ISBN: 2-914771-28- 2.
    Detail

    UHDEOVÁ, N.; VEVERKA, O.; DOBIS, P.; GRMELA, L.; BRÜSTLOVÁ, J. Fyzikální praktikum. Brno: FEKT VUT v Brně, 2005. s. 1 ( s.)ISBN: 80-214-2989- 5.
    Detail

    TOMÁNEK, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P. Local near- field scanning optical microscopy and spectroscopy of nanostructures. In Nano´ 04. Brno: Brno University of Technology, 2005. s. 188-193. ISBN: 80-214-2793- 0.
    Detail

    TOMÁNEK, P.; DOBIS, P.; BENEŠOVÁ, M.; GRMELA, L. Near-field study of carrier dynamics in InAs/ GaAs quantum dots grown on InGaAs layers. Materials Science Forum, 2005, roč. 482, č. 1, s. 151-155. ISSN: 0255- 5476.
    Detail

    GRMELA, L., ŠIKULA, J., ZAJAČEK, J., DOBIS, P., MORAVEC, P. Transport and Noise Characteristics of CdTe Sensors. In Electronic Devices and Systems. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., Brno, Ondráčkova 105, 2005. s. 288 ( s.)ISBN: 80-214-2990- 9.
    Detail

  • 2004

    TOMÁNEK, P.; GRMELA, L.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti (Projekt ME 544). 2004. Brno: MŠMT- Kontakt 544, 2004. s. 1-19.
    Detail

    SEDLÁKOVÁ, V., MELKES, F., DOBIS, P., ŠIKULA, J., TACANO, M., HASHIGUCHI, S. Non- lineartiy changes induced by current stress in thick film resistors. In 24th Capacitor and Resistor Technology Symposium. Capacitor and Resistor Technology. U.S.A.: ECA, 2004. s. 154 ( s.)ISSN: 0887- 7491.
    Detail

    UHDEOVÁ, N., VEVERKA, O., DOBIS, P., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J. Fyzikální praktikum. Brno: VUT v Brně, 2004. s. 1 ( s.)ISBN: 80-214-2710- 8.
    Detail

    TOMÁNEK, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P. Near- field local optical spectrosccopy of nanostructured semiconductors. Nano ´ 04. Brno: VUTIUM Brno, 2004. s. 40 ( s.)ISBN: 80-214-2672- 1.
    Detail

    TOMÁNEK, P.; BENEŠOVÁ, M.; OTEVŘELOVÁ, D.; DOBIS, P. Scanning near- field optical microscopy in semiconductor research. Physics of low- dimensional structures, 2004, roč. 2004, č. 1/ 2, s. 47-53. ISSN: 0204- 3467.
    Detail

    GRMELA, L.; DOBIS, P.; MAJZNER, J.; KALA, J.; ZAJAČEK, J. Automatic Noise Spectral Density Measuring Set- up. In New Trends in Physics. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., 2004. s. 32-35. ISBN: 80-7355-024- 5.
    Detail

    TOMÁNEK, P.; BENEŠOVÁ, M.; DOBIS, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; UHDEOVÁ, N. Local photoluminescence measurements of semiconductor surface defects. Proceedings of SPIE, 2004, č. 5477, s. 131-137. ISSN: 0277- 786X.
    Detail

    TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BENEŠOVÁ, M., GRMELA, L. Near-field optical measurement of carrier recombination in InAs/ GaAs quantum dots. Material structure & micromechanics of fracture. Brno: Vutium, Brno, 2004. s. 115 ( s.)ISBN: 80-214-26732- X.
    Detail

    TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P. Scanning near- field optical microscopy and its application in semiconductor investigation. In Scanning probe microscopy 2004. Nizhny Novgorod: Institute for Physics of Microsctructures RAS, 2004. s. 108-111.
    Detail

    TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., GRMELA, L. Local photoluminescence measurement of semiconductor InGaAs quantum dot excited states. Photonics Europe. SPIE, Europe, 2004. s. 178 ( s.)
    Detail

    HRADILOVÁ, E., DOBIS, P. Výuka fyziky v nových studijních programech. Pedagogická konference FEKT VUT. Brno, ČR: FEKT VUT, 2004. s. 1 ( s.)
    Detail

    ŠIKULA, J., SEDLÁKOVÁ, V., DOBIS, P. Noise and Non- Linearity as Reliability Indicators of Electronic Devices. Informacije MIDEM, 2004, roč. 2003, č. 4, s. 213-221. ISSN: 0352- 9045.
    Detail

  • 2003

    BENEŠOVÁ, M.; DOBIS, P.; TOMÁNEK, P.; UHDEOVÁ, N. Local measurement of optically induced photocurrent in semiconductor structures. Proceedings of SPIE, 2003, roč. 5036, č. 5036, s. 635-639. ISSN: 0277- 786X.
    Detail

    TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., UHDEOVÁ, N. Nanometric applications of the Scanning Near- field optical microscopy. In Proceedings of the National Conference NANO´ 02. Brno: Česká společnost pro nové materiály a technologie, 2003. s. 166 ( s.)ISBN: 80-7329-027- 8.
    Detail

    TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., KAWATA, S. Near- field optical imaging of carrier dynamics in silicon with superresolution. In Scanning Probe Microscopy - 2003. Nizhniy Novgorod, Russia: Institute for Physics of microstructures RAS, 2003. s. 63-65.
    Detail

    BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P., OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., GRMELA, L. Near field scanning optical microscopy as an imaging tool for carrier process in silicon. In Advanced engineering design. Praha: Process Engineering Publisher, 2003. s. F1. 3 (F1.7 s.)ISBN: 80-86059-35- 9.
    Detail

    OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., TOMÁNEK, P. Singular Spectral Index Method for the Analysis of the Rib Waveguide. In Measurement 2003. Bratislava: 2003. s. 395 ( s.)ISBN: 80-967402-6- 1.
    Detail

    UHDEOVÁ, N., VEVERKA, O., DOBIS, P., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J. Fyzikální praktikum. Fyzikální praktikum. Brno: FEKT VUT v Brně, 2003. s. 1 ( s.)ISBN: 80-214-2442- 7.
    Detail

    TOMÁNEK, P.; BENEŠOVÁ, M.; DOBIS, P.; OTEVŘELOVÁ, D.; GRMELA, L.; KAWATA, S. Near- field optical diagnostics of carrier dynamics in semiconductor with superresolution. Physics of low- dimensional structures, 2003, roč. 2003, č. 3/ 4, s. 131-137. ISSN: 0204- 3467.
    Detail

    TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., DOBIS, P. Local optical imaging of electronic characteristics in semiconductors. In Noise and fluctuation ICNF 2003. Brno: 2003. s. 445 ( s.)ISBN: 80-239-1005- 1.
    Detail

    DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., GRMELA, L., TOMÁNEK, P. Electrooptical Characterization of ZnS:Mn Thin- film Electroluminescent Devices. In The 10th EDS 2003 Electronic Devices and Systems Conference. Neuveden. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., 2003. s. 287 ( s.)ISBN: 80-2142452- 4.
    Detail

    TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., UHDEOVÁ, N. Local photoluminescence measurements of semiconductor surface defects. Correlation optics 6. Neuveden. Chernivtsy: 2003. s. 56 ( s.)
    Detail

    TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L. 1/f Noise in InAs/GaAs Quantum Dots and InGaAs/GaAs/ InGaP Quantum Well LEDs and in quantum well laser diodes. In CO-MAT-TECH 2003, 11th International scientific conference. Bratislava: MtF STU Trnava, 2003. s. 1063 ( s.)ISBN: 80-277-1949- 8.
    Detail

    BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P., BRÜSTLOVÁ, J. Time-resolved contrast in near- field scanning optical microscopy of semiconductors. Nano´ 03. Brno: 2003. s. 51 ( s.)ISBN: 80-214-2486- 9.
    Detail

    TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Comparison of low-frequency noise and near-field optical spectroscopy of GaAs/AlGaAs single-quantum- well laser diodes. In Atomically controlled surfaces, interfaces and nanostructures. Nara, Japan: Japan society of applied physics, 2003. s. 431 ( s.)
    Detail

    SEDLÁKOVÁ, V., MELKES, F., ŠIKULA, J., DOBIS, P., ROČAK, D., BELAVIČ, D., TACANO, M., HASHIGUCHI, S. Current density distribution, noise and non- linearity of thick film resistors. In Proceedings of 14th European Microelectronics and Packaging Conference. Německo: IMAPS Germany, 2003. s. 127 ( s.)
    Detail

    SEDLÁKOVÁ, V., MELKES, F., GRMELA, L., DOBIS, P., ŠIKULA, J., TACANO, M., ROČAK, D., BELAVIČ, D. The effect of silver diffusion from contact electrode into thick film resistors. In CARTS - EUROPE 2003 Proceedings. United Kingdom: Electronic Components Institute Internationale Ltd., 2003. s. 201 ( s.)ISBN: 0887- 7491.
    Detail

    ŠIKULA, J., DOBIS, P. Noise and Non- linearity as Reliability Indicators of Electronic Devices. In MIDEM Cenference 2003 Proceedings. Slovenia: MIDEM - Society for Microelectronics, Electronic components and Materials, 2003. s. 3 ( s.)ISBN: 961-91023-1- 2.
    Detail

    BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P. Současný stav využití e- learningu na UFYZ FEKT VUT. In Konference eLearning ve vysokoškolském vzdělávání 2003. Zlín: Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně, 2003. s. 15 ( s.)ISBN: 80-7318-138- X.
    Detail

    DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Digitalized educational materials for teaching physics at FEEC, Brno University of Technology. In Proceedings of the 11th International Scientific Conference CO-MAT- TECH 2003. Bratislava: Vydavateľstvo STU v Bratislave, 2003. s. 151 ( s.)ISBN: 80-227-1949- 8.
    Detail

    DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Elektronické učební opory pro prezenční i distanční studium. In 3. konference o Matematice a fyzice na vysokých školách technických. Brno: Akademie, o.p.s., 2003. s. 198 ( s.)ISBN: 80-85960-51- 6.
    Detail

    ŠIKULA, J., DOBIS, P., PAVELKA, J., TACANO, M., HASHIGUCHI, S. Stochastic model for random tegraph signals in MOSFETS. In Proceeding of the 18th Forum of Science and Technology of Fluctuations. Tokyo: Meisei University Tokyo, 2003. s. 1 ( s.)
    Detail

    BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Time-resolved contrast in near- field scanning optical microscopy of semiconductors. In Proceedings of International conference Nano´ 03. Brno: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrství, 2003. s. 201 ( s.)ISBN: 80-214-2527- X.
    Detail

    ŠIKULA, J., DOBIS, P., SEDLÁKOVÁ, V. Noise and non- linearity as reliability indicators of electronic devices. In MIDEM 2003 Conference Proceedings. Slovenia: MIDEM Slovenia, 2003. s. 3 ( s.)ISBN: 961-91023-1- 2.
    Detail

    SEDLÁKOVÁ, V., DOBIS, P., ŠIKULA, J., HOSCHL, P., SITA, Z., ZEDNÍČEK, T. Low Frequency Noise of Nb2O5 Thin Insulating Films. In Proceedings of the 17th International Nonference Noise and Fluctuations ICNF 2003. Czech Republic: CNRL s.r.o., 2003. s. 141 ( s.)ISBN: 80-239-1005- 1.
    Detail

  • 2002

    TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L. Spectral measurements of semiconductor structures using optical near- field approach. In Joint COST- Action workgroup meeting on individual and assembled nanoparticles and quantum dots. Leuven, Belgie: KU Leuven, COST 523, 2002. s. P55 ( s.)
    Detail

    GRMELA, L., DOBIS, P., TOMÁNEK, P. Near-Field Induced Photocurrent Spectra: New Way of Non-destructive Testing of DQW- GRIN Laser Diodes Reliability. In Noise and Non- linearity Testing of Modern Electronic Components. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., 2002. s. 129 ( s.)ISBN: 80-238-9094- 8.
    Detail

    BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P., BRÜSTLOVÁ, J. Measurement of local photoluminescence and optically induced photocurrent in semiconductor structures. In Photonics Prague 2002. Praha: Tech-Market, Praha, 2002. s. 146-146. ISBN: 80-86114-46- 5.
    Detail

    ŠIKULA, J., PAVELKA, J., DOBIS, P., ZEDNÍČEK, T. Charge carrier transport and noise of niobium capacitors. In Proceeding of CARTS 2002 - 16th European Passive Components Conference. SWINDON, England: Electronic Components Institute Internationale, Ltd., 2002. s. 32 ( s.)
    Detail

    UHDEOVÁ, N., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., GRMELA, L., VEVERKA, O. Fyzikální praktikum. Fyzikální praktikum. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2002. ISBN: 80-214-2051- 0.
    Detail

    GRMELA, L., DOBIS, P., KOKTAVÝ, P., PAVELKA, J. Noise Tester for Electronic Components. In Noise and Non-linearity Testing of Modern Electronic Components - NNT. Brno: Ing.Zdeněk Novotný, CSc., 2002. s. 59 ( s.)ISBN: 80-238-9094- 8.
    Detail

    TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D. Nanometric applications of the Scanning Near- field Optical Microscopy. In NANO´ 02. Brno: Akademické nakladatelství, CERM, 2002. s. 53-53. ISBN: 80-7204-258- 0.
    Detail

    SEDLÁKOVÁ, V., MELKES, F., ŠIKULA, J., DOBIS, P., ROČAK, D., BELAVIČ, D. Influence od Contact Electrode on Thick Film Resistors Noice and Nonlinerity. In Proc. of 38th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials. Lipica, Slonenia: 2002. s. 245 ( s.)ISBN: 961-91023-0- 4.
    Detail

    DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Physics at the Brno University of Technology after Bologna Declaration. In CO-MAT- TECH 2002. Bratislava: Slovenská technická univerzita v Bratislave, 2002. s. 269 ( s.)ISBN: 80-227-1768- 1.
    Detail

    DOBIS, P., UHDEOVÁ, N., BRÜSTLOVÁ, J., BARTLOVÁ, M. Průvodce studiem předmětu Fyzika 1. Průvodce studiem Fyziky 1. Brno: FEKT VUT v Brně, 2002.
    Detail

    ŠIKULA, J., PAVELKA, J., MAJZNER, J., DOBIS, P. Cracks Characterisation by Acoustic and Electromagnetic Emission. In EWGAE 2002 Proceegings. Brno: Czech Society for Non- destructive Testing, 2002. s. II/ 164 ( s.)ISBN: 80-214-2174- 6.
    Detail

    ŠIKULA, J., PAVELKA, J., GRMELA, L., DOBIS, P., ZEDNÍČEK, T. Charge Carriers Transport and Noise of Niobium Capacitors. In CARTS-EUROPE 2002 Proceedings, 16th European Passive Components Conference. Swindon, England: Electronic Components Institute Internationale Ltd., 2002. s. 32 ( s.)
    Detail

    DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Electronic Noise as Diagnostic Tool of Infrared detectors. In Electronic Devices and Systems EDS' 02. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2002. s. 128 ( s.)ISBN: 80-214-2180- 0.
    Detail

    DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Introductory courses of physics for BEng. students of electrical engineering, communication and information technology. In Proceedings of the PTEE 2002 conference. Leuven, Belgium: KU Leuven, Belgium and SEFI, 2002. s. G9 ( s.)ISBN: 90-5682-359- 0.
    Detail

    DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Electronic Noise and Detectivity of CdHgTe Detectors. In Noise and Non-linearity testing of Modern Electronic Componenets- NNT2001 Proceedings. Brno: CNRL Brno, 2002. s. 104 ( s.)ISBN: 80-238-9094- 8.
    Detail

  • 2001

    TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J., OTEVŘELOVÁ, D., LÉTAL, P. Near field photoluminescence and photoreflectance measurements of semiconductor structures. In Nanomaterials: Fundamentals and applications. Limerick: MSSI, 2001. s. 59 ( s.)
    Detail

    TOMÁNEK, P., GRMELA, L., UHDEOVÁ, N., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Optoelectronics and optical fiber sensors in engineering education. In CO-MAT- TECH 2001. sv. 2. Bratislava: STU Bratislava, 2001. s. 390 ( s.)ISBN: 80-227-1591- 3.
    Detail

    UHDEOVÁ, N. a kol. Fyzikální praktikum. Fyzikální praktitkum. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, 2001. ISBN: 80-214-1818- 4.
    Detail

    DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Electronic noise and detectivity of CdHgTe detectors. In Electronic Devices and Systems. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., 2001. s. 57 ( s.)ISBN: 80-214-1960- 1.
    Detail

    DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. General courses of physics and internet. In Nové trendy ve fyzice. Brno: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a informatiky, Ústav fyziky, Technická 8, 616 00 Brno, 2001. s. 445 ( s.)ISBN: 80-214-1992- X.
    Detail

    BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P. The basic concepts of near field optics. In CO-MAT- TECH 2001. sv. 2. Bratislava: STU Bratislava, 2001. s. 223 ( s.)ISBN: 80-227-1591- 3.
    Detail

    TOMÁNEK, P., GRMELA, L., OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Projekt "Fyzikální základy optoelektroniky". In Nové trendy ve fyzice. sv. 2. Brno: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a informatiky, 2001. s. 536-539. ISBN: 80-214-1992- X.
    Detail

    BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L. A simplified local surface photoreflectance measurement. In Proceedings of Materials structure and micromechanics fracture. Brno: VUTIUM, 2001. s. 439 ( s.)ISBN: 80-214-1892- 3.
    Detail

    UHDEOVÁ, N., DOBIS, P. ICT- based Education. In Nové trendy ve fyzice. Brno: VUT v Brně, 2001. s. 540 ( s.)ISBN: 80-214-1992- X.
    Detail

    OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., TOMÁNEK, P. Near- field photoluminescence as high resolution diagnostics of semiconductor structures. In Proceedings of Materials structure and micromechanics of fracture. Brno: VUTIUM, 2001. s. 439 ( s.)ISBN: 80-24-14-1892- 3.
    Detail

    TOMÁNEK, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., DOBIS, P. Near- field optical microscopy diagnostics. In From quantum optics to photonics. Warszaw: Faculty of Physics, Warszaw University, 2001. s. 90 ( s.)ISBN: 83-913171-4- 5.
    Detail

    BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P. Makroskopické vysvětlení rozlišovací schopnosti rastrovacího optického tunelového mikroskopu. In Nové trendy ve fyzice - New trends in Physics. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2001. s. 327 ( s.)ISBN: 80-214-1992- X.
    Detail

  • 2000

    UHDEOVÁ, N., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., GRMELA, L., VEVERKA, O. Fyzikální praktikum. Fyzikální praktikum. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2000. ISBN: 80-214-1521- 5.
    Detail

  • 1999

    UHDEOVÁ, N., DOBIS, P., HRADILOVÁ, E. Inovace výuky základního kursu fyziky na VŠT s podporou PC. neuvedeno. 1999. s. 1 ( s.)
    Detail

    UHDEOVÁ, N., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P. Das System CUPS für den Physikunterricht. In CO-MAT- TECH 1999. Bratislava: Slovenská technická univerzita Bratislava, 1999. s. 396 ( s.)ISBN: 80-227-1272- 8.
    Detail

    TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., LÉTAL, P., GRMELA, L., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Lokální spektroskopie a lokální fluorescence dielektrických a polovodičových povrchů. In Transfer+ 99. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 1999. s. H91 (H92 s.)ISBN: 80-214- 134.
    Detail

  • 1998

    UHDEOVÁ, N., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., GRMELA, L., VEVERKA, O. Fyzikální praktitkum. Fyzikální praktikum. Brno: VUTIUM Brno, 1998. ISBN: 80-214-1215- 1.
    Detail

    LÉTAL, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P.; GRMELA, L.; TOMÁNEK, P. Lokální spektroskopie pomocí řádkovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém poli. Inženýrská mechanika - Engineering Mechanics, 1998, roč. 5, č. 3, s. 215-217. ISSN: 1210- 2717.
    Detail

    LÉTAL, P., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J. Locally resolved topography and spectroscopy of semiconductors (with lateral resolution better than 250 nm). In Electronic devices and systems (EDS´98). Brno: Technical University of Brno, 1998. s. 169 ( s.)ISBN: 80-214- 119.
    Detail

    LÉTAL, P., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J. Chybí název. In Material structure and micromechanics of fracture (MSMF-2). Brno: Technical University of Brno, 1998. s. 62 ( s.)ISBN: 80-214- 118.
    Detail

    TOMÁNEK, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P.; GRMELA, L. Hybrid STM/r- SNOM with novel probe. Ultramicroscopy, 1998, roč. 71, č. 1- 4, s. 199-203. ISSN: 0304- 3991.
    Detail

    LÉTAL, P., BRÜSTLOVÁ, J., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L. Locally resolved topography and spectroscopy of semiconductors (with lateral resolution better than of 250 nm). In Proc. of 5th Int.Conf. Electronic devices and systems 1998. Brno: 1998. s. 173 ( s.)ISBN: 80-214-1198- 8.
    Detail

    LÉTAL, P., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., GRMELA, L., TOMÁNEK, P. Near-field and far- field spectroscopy of semiconductors. 2nd Int.Coll, MSMF- 2. Brno: 1998. s. 62 ( s.)ISBN: 80-214-1181- 3.
    Detail

    LÉTAL, P., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., GRMELA, L. Local spectroscopy by scanning near- field optical microscopy. Inženýrská mechanika - Engineering Mechanics, 1998, roč. 5, č. 3, s. 215 ( s.)ISSN: 1210- 2717.
    Detail

  • 1997

    TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J. Vizualizace latentních obrazů pomocí optiky v blízkém poli. In Workshop 97. 3. Praha: CTU Publ. house Prague, 1997. s. 1021 ( s.)
    Detail

    UHDEOVÁ, N., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., GRMELA, L., VEVERKA, O. Fyzikální praktikum. Fyzikální praktikum. Brno: PC- DIR Brno, 1997. ISBN: 80-214-0903- 1.
    Detail

    UHDEOVÁ, N., DOBIS, P. Problematika základního kursu fyziky na VŠT- situace na FEI VUT Brno. In MEDACTA´ 97. 2. Nitra: Slavdidac Nitra, 1997. s. 522 ( s.)ISBN: 80-967339-9- 0.
    Detail

    TOMÁNEK, P.; GRMELA, L.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. Tunnel noise spectroscopy by reflection SNOM and STM. Proceedings of SPIE, 1997, roč. 3098, č. 1, s. 514 ( s.)ISSN: 0277- 786X.
    Detail

    BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., UHDEOVÁ, N. General Course of Physics at Technical Universities - Problems and Prospekts. In Physics Teaching in Engineering Education. Kodaň: Engineering College of Copenhagen (IKT), 1997.
    Detail

  • 1996

    UHDEOVÁ, N., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., GRMELA, L., VEVERKA, O. Fyzikální praktikum I. Fyzikální praktikum I. Brno: PC- DIR Brno, 1996. ISBN: 80-214-0790- 5.
    Detail

  • 1995

    TOMÁNEK, P., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., GRMELA, L., UHDEOVÁ, N. STM/ SNOM setup. In 1995.
    Detail

    TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Vývoj technik blízkého pole pro měření nanostruktur. In Mezinárodní konference VŠB: Aplikovaná fyzika. 11. Ostrava: VŠB Ostrava, 1995. s. 113-118.
    Detail

    TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L. Superrozlišující vlastnosti optických sysémů v blízkém poli. In Mezinárodní konference VŠB: Aplikovaná fyzika. 11. Ostrava: VŠB Ostrava, 1995. s. 331 ( s.)
    Detail

    TOMÁNEK, P., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., GRMELA, L., UHDEOVÁ, N. Twinned STM/SNOM setup. EOS Topical Meeting, 1995, roč. 8, s. 78 ( s.)ISSN: 1167- 5357.
    Detail

    TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L. Characterization of surface corrugation by near- field techniques. EOS Annual Meeting, 1995, roč. 2A, č. 2A, s. 101-102. ISSN: 1022- 0151.
    Detail

  • 1994

    TOMÁNEK, P., DOBIS, P., OHLÍDAL, M. Optická metrologie a nanotechnologie. Brno: Fond rozvoje VŠ, čj. 1994/ 0671, 1994.
    Detail

*) Citace publikací se generují jednou za 24 hodin.