Ing.

Jiří Špinka

FEKT, UETE – odborný asistent

+420 54114 6145
spinka@feec.vutbr.cz

Odeslat VUT zprávu

Ing. Jiří Špinka

Publikace

  • 2008

    JIRÁK, J.; ČERNOCH, P.; NEDĚLA, V.; ŠPINKA, J. Scintillation SE Detector for Variable Pressure Scanning Electron Microscope. In Proceedings of 14th European Microscopy Congress, Volume 1. Německo: Springer- Verlag, 2008. s. 559-560. ISBN: 978-3-540-85154- 7.
    Detail

  • 2007

    Jirák, J., Neděla, V., Černoch, P., Špinka, J. Scintillation Secondary Electron Detector in Environmental SEM. In Proceedings of 8th Multinational Congress on Microscopy. Czechoslovak Microscopy Society, 2007. s. 89 ( s.)ISBN: 978-80-239-9397- 4.
    Detail

    ŠPINKA, J. Humidity Determination in Environmental SEM. In Procedings 8th Multinational Congress on Microscopy , June 17-21,2007, Praque. České Budějovice: Czechoslovak Microscopy Society, 2007. s. 107-108. ISBN: 978-80-239-9397- 4.
    Detail

  • 2006

    J.Špinka, J. Jirák. X - RAY MICROANALYSIS IN ESEM. In 7th Aba BRNO 2006. Brno: TU Brno, Department of Electrotechnolgy, 2006. s. 153 ( s.)ISBN: 80-214-3181- 4.
    Detail

  • 2005

    Novák V., Špinka J. Návrh a konstrukce elektrotechnických zařízení. 2005. s. 1 ( s.)
    Detail

    R. Autrata, J. Jirák, J. Špinka. HUMIDITY ADJUSTMENT IN ENVIRONMENTAL SCANNING ELECTRON MICROSCOPY. In 6th ABA, Brno 2005, advanced batteries and Accumulators. Brno, Antoníská 1: Jiří Vondrák, 2005. s. 189 ( s.)ISBN: 80-214-2944- 5.
    Detail

  • 2004

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., NEDĚLA, V., ŠPINKA, J. Humidity Measurement and Adjustment at Environmental Conditions. In Recent Trends in Charged Patricle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Mullerová Ilona, 2004. s. 7 ( s.)ISBN: 80-239-3246- 2.
    Detail | WWW

  • 2003

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., WANDROL, P., ŠPINKA, J. Detection of Backscattered Electrons in Environmental Scaning Electron Microscope. In Proceedings 6th Multinational Congress on Microscopy. Pula, Croatia: 2003. s. 489 ( s.)
    Detail

    HAMAN, M., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Accumulator Mass Structure Observation in ESEM. In Electronic devices and Systems EDS 03. Brno, Czech Republic: Ing, Zdeněk Novotný, CSc. Brno, 2003. s. 445 ( s.)ISBN: 80-214-2452- 4.
    Detail

  • 2002

    JIRÁK, J., AUTRATA, R., ŠPINKA, J. Detection of signal electrons at higher pressure in the specimen chamber. In Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments, Academy of Sciences of the Czech Republic, Czechoslovak Microscopy Society, 2002. s. 55 ( s.)ISBN: 80-238-8986- 9.
    Detail

    STARÝ, J., ŠPINKA, J. Elektronické CAD/CAE/CAM systémy - modul 2. 2002.
    Detail

    STARÝ, J., ŠPINKA, J. Odborný posudek posudku "Analýza pájených spojů bloku SKD 82/16" vyžádaný VÚES Brno. 2002.
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ROMANOVSKÝ, V., ŠPINKA, J. COMBINED DETECTOR FOR BSE, SE AND BSE+ SE DETECTION IN A LOW VOLTAGE SEM. In Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Czech republic, Brno: Institute of Scientific Instruments Academy of Sciences of the Czech republic, Czechoslovak Microscopy Society, 2002. s. 49 ( s.)ISBN: 80-238-8986- 9.
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. X- RAY MICROANALYSIS IN ESEM AND LV SEM. In Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Czech republic, Brno: Institute of Scientific Instruments Academy of Sciences of the Czech republic, Czechoslovak Microscopy Society, 2002. s. 49 ( s.)ISBN: 80-238-8986- 9.
    Detail

  • 2000

    AUTRATA, R., ŠPINKA, J., JIRÁK, J. Effect of the electron beam accelerating voltage and of specimen coating on the image in the microscope operating at higher pressures. In Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy. Brno: Czechoslovak Society for Electron Microscopy, 2000. s. I245 ( s.)ISBN: 80-238-5503- 4.
    Detail

    JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Možnosti zobrazení struktury bateriových hmot v průběhu jejich nabíjení a vybíjení. In Sborník konference 23. chemické zdroje proudu. Brno: česká elektroetechnická společnost, 2000. s. 83 ( s.)ISBN: 80-02-01390- 5.
    Detail

  • 1999

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J., MICHÁLEK, J. Study of conditions for observation of electrode masses in a higher pressure scanning electron microscope. In Proceedings of the 22nd Meeting on Electrochemical Power Sou. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 1999. s. 26 ( s.)ISBN: 80-214- 135.
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J., ROMANOVSKÝ, V. Environmental scanning electron microscopy for the study of wet specimens. In Proceedings of the 4th Multinational Congress on Electron Mi. Veszprém: University of Veszprém, 1999. s. 105 ( s.)
    Detail

    AUTRATA, R., ŠPINKA, J., JIRÁK, J. Scanning electron microscopy at higher pressure. In 1st Congress of the Croatian Society for Electron Microscopy. Zagreb: Society for Electron Microscopy, 1999. s. 75 ( s.)
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Signal detection in SEM at higher pressure. In 1st Congress of the Croatian Society for Electron Microscopy. Zagreb: Society for Electron Microscopy, 1999. s. 63 ( s.)
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Detection of SEs and BSEs at Higher Pressure. In Proceedings of the 4th Multinational Congress on Electron Mi. Veszprém: University of Veszprém, 1999. s. 285 ( s.)
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Rastrovací elektronový mikroskop pracující s vyššími tlaky v komoře vzorku. In TRANSFER 99. Brno: VUT Brno, 1999. ISBN: 80-214- 134.
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Vliv prostředí na detekci signálu v REM pracujícím při vyšším tlaku. In TRANSFER 99. Brno: VUT Brno, 1999. ISBN: 80-214- 134.
    Detail

  • 1998

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., MICHÁLEK, M., ŠPINKA, J. Conditions for Specimen Observation in Environmental SEM. In Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics. VI. Brno: Czechoslovak Society for Electron Microscopy, 1998. s. 15 ( s.)ISBN: 80-238- 233.
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., MICHÁLEK, M., ŠPINKA, J. Amplification of Signal Electrons in Gas Environment. Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics. VI. Brno: Czechoslovak Society for Electron Microscopy, 1998. s. 13 ( s.)ISBN: 80-238- 233.
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J., KLVAČ, M. Detection of BSE signal at higher pressures in the specimen chamber. In Proceedings of the 14th International Congress on Electron. Bristol: Institute of Physics Publishing, 1998. s. 509 ( s.)ISBN: 0-7503- 056.
    Detail

  • 1997

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Využítí detekce zpětně odražených elektronů v rastrovací elektronové mikroskopio pro studium materiálů. In Sborník Mezinárodní konference Diagnostika 97. Plzen: SCU Plzen, 1997. s. 223 ( s.)ISBN: 80-7082- 34.
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Podmínky porovnávání vzorků materiálů v ESEM. In Sborník Mezinárodní konference Diagnostika 97. Plzen: SCU Plzen, 1997. s. 220 ( s.)ISBN: 80-7082- 34.
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Detection of signal electrons in an ESEM. In Detection of signal electrons in an ESEM. Chlum: International conf. on SE in SEM, 1997. s. 62 ( s.)
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ROMANOVSKÝ, V., ŠPINKA, J. Signal detection in environmental SEM with ionization detector. In 1997.
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., KLVAČ, M., ŠPINKA, J. Detection of backscattered electrons in enviromental scanning electron microscope. In Detection of backscattered electrons in enviromental SEM. Paris: Interdisciplinary Developments and Tools, 1997. s. 60 ( s.)
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Využití ESEM v diagnostice elektrotechnických materiálů. In Sborník Mezinárodní konference Diagnostika 97. Plzen: SCU Plzen, 1997. s. 225 ( s.)ISBN: 80-7082- 34.
    Detail

  • 1996

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Rastrovací elektronová mikroskopie vlhkých vzorků a izolantů. 1996, roč. 41, č. 4, s. 98 ( s.)
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., KLVAČ, M., ŠPINKA, J. Detector of Backscattered Electrons for Environmental SEM. In 1996.
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Use of ESEM in Diagnostics of Electrotechnical Materials and Technologies. In 1996.
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., KLVAČ, M., ŠPINKA, J. Detector of backscattered electrons for environmental SEM. In Proceedings of the 11th European Congress on Electron Micros. XI. Brussels: Committee of European Societies of Microscopy, 1996. s. 142 ( s.)ISBN: 2-9600163-.
    Detail

  • 1995

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Využití metod nábojového sběru v rastrovacím elektronovém mikroskopu pro diagnostiku poruch v polovodičích. In Využití metod nábojového sběru v rastrovacím elektronové. Brno: Ústav mikroelektroniky VUT v Brně, 1995. s. 40 ( s.)
    Detail

  • 1994

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Detectors of backscattered electrons for ESEM. In Detectors of backscattered electrons for ESEM. Brno: PC- DIR, 1994. s. 22 ( s.)
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Nanometer resolution of backscattered electron image. In Nanometer resolution of backscattered electron image. Brno: PC- DIR, 1994. s. 12 ( s.)
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Využití zrcadlového detektoru katodoluminiscenčního signálu a zpětně odražených elektronů pro diagnostiku materiálů v rastrovacím elektronovém mikroskopu. In Využití zrcadlového detektoru katodoluminiscenčního sign. Brno: Ústav mikroelektroniky VUT v Brně, 1994. s. 121 ( s.)
    Detail

  • 1993

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Backscattered electron detector for environmental scanning electron microscopes. 1993, roč. 26, č. 8, s. 452 ( s.)
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Scanning electron microscopy of wet specimens. 1993, roč. 3, č. 5- 6, s. 124 ( s.)
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Backscattered electron detector for environmental scanning electron microscopes. In Backscattered electron detector for environmental scanni. Zurich: Optik 94, 1993. s. 58 ( s.)
    Detail

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Interaction of primary beam electrons with gas in ESEM. In Interaction of primary beam electrons with gas in ESEM. Chlum: International Conf. on secondary Electron Spectros, 1993. s. 25 ( s.)
    Detail

  • 1992

    ŠPINKA, J., ŠIMEK, J. Technologické projektování. Technologické projektování. Brno: Nakladatelství Vysokého učení technického v Brně, 1992.
    Detail

  • 1991

    AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J., HUTAŘ, O. Integrated Single Crystal Detector for Simultaneous Detection of CL and BSE in SEM. 1991, roč. 6, č. 1, s. 69 ( s.)
    Detail

*) Citace publikací se generují jednou za 24 hodin.