Publication detail

Non-destructive spectroscopy testing methodes of optoelectronic devices and materials

GRMELA, L.

Original Title

Nedestruktivní spektroskopické metody testování optoelektronických součástek a materiálů

Czech Title

Nedestruktivní spektroskopické metody testování optoelektronických součástek a materiálů

English Title

Non-destructive spectroscopy testing methodes of optoelectronic devices and materials

Type

journal article

Language

cs

Original Abstract

Teze přednášky k profesorskému jmenovacímu řízení v oboru elektrotechnická a elektronická technologie

Czech abstract

Teze přednášky k profesorskému jmenovacímu řízení v oboru elektrotechnická a elektronická technologie

English abstract

Teze přednášky k profesorskému jmenovacímu řízení v oboru elektrotechnická a elektronická technologie

Keywords

Sspectral noise density, transporrt charges, mobility, 1/f noise, signal / noise ratio, reliability, degradation, evanescent fiel, nanometrology, photocurrent

RIV year

2012

Released

02.01.2012

Pages from

1

Pages to

35

Pages count

35

BibTex


@article{BUT96594,
  author="Lubomír {Grmela}",
  title="Nedestruktivní spektroskopické metody testování optoelektronických součástek a materiálů",
  annote="Teze přednášky k profesorskému jmenovacímu řízení v oboru elektrotechnická a elektronická technologie",
  chapter="96594",
  number="401",
  volume="2012",
  year="2012",
  month="january",
  pages="1--35",
  type="journal article"
}