Publication detail

Semiconductors - local optical and electrical characteristics (Project ME 544)

TOMÁNEK, P. GRMELA, L. BRÜSTLOVÁ, J. DOBIS, P.

Original Title

Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti (Projekt ME 544)

Czech Title

Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti (Projekt ME 544)

English Title

Semiconductors - local optical and electrical characteristics (Project ME 544)

Type

report

Language

cs

Original Abstract

Teoretická studie interakce mezi sondou a vzorkem - vliv pokovení sondy a vzorku na poměr signálu k šumu v obraze. Studium polarizačních jevů, mechanismu kontrastu, vliv polychromatického světla na zpracování informace. Měření a studium lokální spektroskopie indexu lomu, zeslabeného úplného vnitřního odrazu při použití vlnových délek viditelného a infračerveného záření. Měření a studium lokálních fotoproudů na polovodičových rozhraních, lokální optické zobrazení dynamiky nábojů v křemíku. Presentace výsledků řešení na 2 mezinárodních konferencích. Využití výsledků z řešení projektu ve výuce doktorského studia

Czech abstract

Teoretická studie interakce mezi sondou a vzorkem - vliv pokovení sondy a vzorku na poměr signálu k šumu v obraze. Studium polarizačních jevů, mechanismu kontrastu, vliv polychromatického světla na zpracování informace. Měření a studium lokální spektroskopie indexu lomu, zeslabeného úplného vnitřního odrazu při použití vlnových délek viditelného a infračerveného záření. Měření a studium lokálních fotoproudů na polovodičových rozhraních, lokální optické zobrazení dynamiky nábojů v křemíku. Presentace výsledků řešení na 2 mezinárodních konferencích. Využití výsledků z řešení projektu ve výuce doktorského studia

English abstract

Theory of probe-sample interaction - effect of metallized probes on the efficiency. Study of polarization phenomena, contrast mechanism Refractive index local spectroscopy. Measurement of the locally induced photocurrent on semiconductor boundary, local optical imaging of carrier dynamics in the silicon. Presentation of results at 2 international conferences. Use of results in PhD students study.

Keywords

semiconductors, local optical properties, local electrical properties, local carrier dynamics

Released

04.12.2004

Publisher

MŠMT-Kontakt 544

Location

Brno

Pages from

1

Pages to

19

Pages count

19

BibTex


@techreport{BUT56948,
  author="Pavel {Tománek} and Lubomír {Grmela} and Jitka {Brüstlová} and Pavel {Dobis}",
  title="Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti (Projekt ME 544)",
  annote="Teoretická studie interakce mezi sondou a vzorkem - vliv pokovení sondy a vzorku na poměr signálu k šumu v obraze.
Studium polarizačních jevů, mechanismu kontrastu, vliv polychromatického světla na zpracování informace.
Měření a studium lokální spektroskopie indexu lomu, zeslabeného úplného vnitřního odrazu při použití vlnových délek viditelného a infračerveného záření.
Měření a studium lokálních fotoproudů na polovodičových rozhraních, lokální optické zobrazení dynamiky nábojů v křemíku.
Presentace výsledků řešení na 2 mezinárodních konferencích.
Využití výsledků z řešení projektu ve výuce doktorského studia
",
  address="MŠMT-Kontakt 544",
  chapter="56948",
  edition="2004",
  institution="MŠMT-Kontakt 544",
  year="2004",
  month="december",
  pages="1--19",
  publisher="MŠMT-Kontakt 544",
  type="report"
}