Publication detail

Blikání světelných zdrojů způsobené meziharmonickými složkami napětí

Original Title

Blikání světelných zdrojů způsobené meziharmonickými složkami napětí

Czech Title

Blikání světelných zdrojů způsobené meziharmonickými složkami napětí

Language

cs

Original Abstract

Práce pojednává o rušivém blikání světelných zdrojů v důsledku přítomnosti meziharmonických složek v napájecím napětí a skládá se ze tří hlavních částí. První část se zabývá analýzou kolísání napětí způsobené interakcí harmonických a meziharmonických složek napětí s ohledem na velikost a frekvenci kolísání výsledného průběhu napětí. Druhá část práce je zaměřena na blikání světla různých typů světelných zdrojů napájených jmenovitým napětí se superponovanou jednou meziharmonickou složkou. Je zde odvozena metoda měření citlivosti světelných zdrojů na daný typ rušení a rozsáhlý soubor výsledků měření. Citlivost světelných zdrojů je prezentována zesílením na frekvenci blikání v závislosti na frekvenci injektované meziharmonické složce napětí. Tato funkce byla nazvána křivkou zesílení světelného zdroje. S využitím konceptu křivek zesílení a známých limitů pro velikost kolísání napětí byla definována mezní křivka meziharmonických napětí světelného zdroje, která představuje odolnost světelného zdroje na meziharmonická napětí. V dalším byly vyvinuty dvě nové metody pro měření mezních křivek meziharmonických napětí světelných zdrojů, které postupně zvyšují přesnost a spolehlivost výsledku. První dvě metody byly rovněž realizovány a ověřeny. Poslední část práce se zabývá návrhem a realizací alternativního měřiče blikání pracujícím v časové oblasti a majícím odezvu v širokém rozsahu meziharmonických frekvencí, včetně vysoko-frekvenčních meziharmonických do několika kHz. Přičemž jak je demonstrováno, odezva standardního UIE/IEC měřiče blikání je omezena dvojnásobkem základního síťového kmitočtu, což je u světelných zdrojů pracujících na jiném principu než tepelná emise v rozporu s pozorováním. Navržené alternativní typy měřičů blikání jsou založeny na principu funkce standardního UIE/IEC měřiče blikání. Z měny v konstrukci jsou provedeny v bloku 1 až 3 schématu. Nové typy flikrmetrů vychází z provedených analýz kolísání velikosti napětí v důsledku interakce harmonických a meziharmonických v rozsahu frekvencí do 3 kHz a respektují změřené mezní křivky meziharmonických napětí světelných zdrojů. Byla provedena implementace nových typů flikrmetrů v prostředí Matlab Simulink včetně ověření jejich vlastností na základě realizovaných simulací.

Czech abstract

Práce pojednává o rušivém blikání světelných zdrojů v důsledku přítomnosti meziharmonických složek v napájecím napětí a skládá se ze tří hlavních částí. První část se zabývá analýzou kolísání napětí způsobené interakcí harmonických a meziharmonických složek napětí s ohledem na velikost a frekvenci kolísání výsledného průběhu napětí. Druhá část práce je zaměřena na blikání světla různých typů světelných zdrojů napájených jmenovitým napětí se superponovanou jednou meziharmonickou složkou. Je zde odvozena metoda měření citlivosti světelných zdrojů na daný typ rušení a rozsáhlý soubor výsledků měření. Citlivost světelných zdrojů je prezentována zesílením na frekvenci blikání v závislosti na frekvenci injektované meziharmonické složce napětí. Tato funkce byla nazvána křivkou zesílení světelného zdroje. S využitím konceptu křivek zesílení a známých limitů pro velikost kolísání napětí byla definována mezní křivka meziharmonických napětí světelného zdroje, která představuje odolnost světelného zdroje na meziharmonická napětí. V dalším byly vyvinuty dvě nové metody pro měření mezních křivek meziharmonických napětí světelných zdrojů, které postupně zvyšují přesnost a spolehlivost výsledku. První dvě metody byly rovněž realizovány a ověřeny. Poslední část práce se zabývá návrhem a realizací alternativního měřiče blikání pracujícím v časové oblasti a majícím odezvu v širokém rozsahu meziharmonických frekvencí, včetně vysoko-frekvenčních meziharmonických do několika kHz. Přičemž jak je demonstrováno, odezva standardního UIE/IEC měřiče blikání je omezena dvojnásobkem základního síťového kmitočtu, což je u světelných zdrojů pracujících na jiném principu než tepelná emise v rozporu s pozorováním. Navržené alternativní typy měřičů blikání jsou založeny na principu funkce standardního UIE/IEC měřiče blikání. Z měny v konstrukci jsou provedeny v bloku 1 až 3 schématu. Nové typy flikrmetrů vychází z provedených analýz kolísání velikosti napětí v důsledku interakce harmonických a meziharmonických v rozsahu frekvencí do 3 kHz a respektují změřené mezní křivky meziharmonických napětí světelných zdrojů. Byla provedena implementace nových typů flikrmetrů v prostředí Matlab Simulink včetně ověření jejich vlastností na základě realizovaných simulací.

BibTex


@article{BUT46739,
  author="Jiří {Drápela}",
  title="Blikání světelných zdrojů způsobené meziharmonickými složkami napětí",
  annote="Práce pojednává o rušivém blikání světelných zdrojů v důsledku přítomnosti meziharmonických složek v napájecím napětí a skládá se ze tří hlavních částí. První část se zabývá analýzou kolísání napětí způsobené interakcí harmonických a meziharmonických složek napětí s ohledem na velikost a frekvenci kolísání výsledného průběhu napětí. Druhá část práce je zaměřena na blikání světla různých typů světelných zdrojů napájených jmenovitým napětí se superponovanou jednou meziharmonickou složkou. Je zde odvozena metoda měření citlivosti světelných zdrojů na daný typ rušení a rozsáhlý soubor výsledků měření. Citlivost světelných zdrojů je prezentována zesílením na frekvenci blikání v závislosti na frekvenci injektované meziharmonické složce napětí. Tato funkce byla nazvána křivkou zesílení světelného zdroje. S využitím konceptu křivek zesílení a známých limitů pro velikost kolísání napětí byla definována mezní křivka meziharmonických napětí světelného zdroje, která představuje odolnost světelného zdroje na meziharmonická napětí. V dalším byly vyvinuty dvě nové metody pro měření mezních křivek meziharmonických napětí světelných zdrojů, které postupně zvyšují přesnost a spolehlivost výsledku. První dvě metody byly rovněž realizovány a ověřeny.
Poslední část práce se zabývá návrhem a realizací alternativního měřiče blikání pracujícím v časové oblasti a majícím odezvu v širokém rozsahu meziharmonických frekvencí, včetně vysoko-frekvenčních meziharmonických do několika kHz. Přičemž jak je demonstrováno, odezva standardního UIE/IEC měřiče blikání je omezena dvojnásobkem základního síťového kmitočtu, což je u světelných zdrojů pracujících na jiném principu než tepelná emise v rozporu s pozorováním. Navržené alternativní typy měřičů blikání jsou založeny na principu funkce standardního UIE/IEC měřiče blikání. Z měny v konstrukci jsou provedeny v bloku 1 až 3 schématu. Nové typy flikrmetrů vychází z provedených analýz kolísání velikosti napětí v důsledku interakce harmonických a meziharmonických v rozsahu frekvencí do 3 kHz a respektují změřené mezní křivky meziharmonických napětí světelných zdrojů. Byla provedena implementace nových typů flikrmetrů v prostředí Matlab Simulink včetně ověření jejich vlastností na základě realizovaných simulací.",
  address="VUTIUM",
  chapter="46739",
  institution="VUTIUM",
  journal="Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně Edice Habilitační a inaugurační spisy",
  number="sv. 334",
  volume="2009",
  year="2009",
  month="december",
  pages="1--37",
  publisher="VUTIUM",
  type="journal article - other"
}