Publication detail

Vliv vzdálenosti hrot sondy-vzorek na rozlišovací schopnost rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli

BENEŠOVÁ, M. TOMÁNEK, P. LIŠKA, M.

Original Title

Vliv vzdálenosti hrot sondy-vzorek na rozlišovací schopnost rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli

English Title

The influence of the probe tip-sample distance on the resolution of Scanning near-field optical microscope

Type

journal article - other

Language

Czech

Original Abstract

Základním problémem všech sondových mikroskopů je jejich příčná rozlišovací schopnost závisející zejména na rozměrech hrotu sondy a na její vzdálenosti od vzorku. Zkoumaný aperturní rastrovací mikroskop v optickém blízkém poli (SNOM) používá pokovenou vláknovou sondu s aperturou 60 nm. Vertikální vzdálenost sondy od předmětu je řízena pomocí střižných sil a nastavuje se pomocí programovatelného předpětí ve smyčce zpětné vazby sondy. Topografické obrazy mřížky získané v různých vzdálenostech jsou porovnány s AFM obrazem. Experimentální výsledky ukazují značnou závislost obrazů v blízkém poli na vzdálenosti sondy od vzorku. Zobrazovací charakteristiky SNOM jsou porovnány se spektrem prostorových frekvencí obrazu.

English abstract

Better lateral resolution which depends on the tip dimensions and its distance from the sample is a main goal of all probe microscopes. The proposed aperture scanning near-field optical microscope (SNOM) uses a metallized probe with aperture diameter of 60 nm, the vertical position of which is controlled by regulation of the shear force loop current between the probe and the sample and by computer-generated bias voltage. The SNOM topographic images of the grating taken in several probe-sample distances are compared with AFM image. The experimental results demonstrate a strong dependence of the near-field image on the probe-sample distance. The comparison of near-field imaging characteristics with the spatial-frequency spectra of images are shown.

Keywords

rastrovací mikroskopie v optickém blízkém poli, vzdálenost hrot-vzorek, rozlišení

Key words in English

Scanning near-field optical microscopy, tip-sample distance, resolution

Authors

BENEŠOVÁ, M.; TOMÁNEK, P.; LIŠKA, M.

RIV year

2004

Released

5. 9. 2004

Publisher

FZÚ AV ČR

Location

Praha

ISBN

0447-6441

Periodical

Jemná mechanika a optika

Year of study

49

Number

9

State

Czech Republic

Pages from

242

Pages to

244

Pages count

3

BibTex

@article{BUT42112,
  author="Markéta {Benešová} and Pavel {Tománek} and Miroslav {Liška}",
  title="Vliv vzdálenosti hrot sondy-vzorek na rozlišovací schopnost rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli",
  journal="Jemná mechanika a optika",
  year="2004",
  volume="49",
  number="9",
  pages="242--244",
  issn="0447-6441"
}