Publication detail
Rastrovací tunelovací mikroskop - možnosti využití pro praxi
Original Title
Rastrovací tunelovací mikroskop - možnosti využití pro praxi
Czech Title
Rastrovací tunelovací mikroskop - možnosti využití pro praxi
Language
cs
Original Abstract
Předmětem této práce je představit příklady konkrétního využití rastrovacího tunelovacího mikroskopu (STM) typu TS 3100 fy TESCAN zabudovaném v REM JSM 25S fy JEOL. Jedná se o posouzení vlivu tloušťky Pd vrstev nanešených na různých substrátech (monokrystal Si v rovinách (111) a (100) a sklo) na výslednou kvalitu vrstvy. Dále bylo prováděno hodnocení jakosti povrchů Al2O3 vrstvy z hlediska její mikrodrsnosti, hodnocení morfologie povrchu nástřiků Ti a TiCr na skle a uplatnění této metody při hodnocení kvality povrchu technických keramik, hodnocení extruzí a intruzí na povrchu ocelí v průběhu únavového procesu a další. Práce si nebere za cíl podat ucelený přehled o experimentálních možnostech tohoto zařízení, spíše ukazuje možnosti využití STM pro široké spektrum technických materiálů.
Czech abstract
Předmětem této práce je představit příklady konkrétního využití rastrovacího tunelovacího mikroskopu (STM) typu TS 3100 fy TESCAN zabudovaném v REM JSM 25S fy JEOL. Jedná se o posouzení vlivu tloušťky Pd vrstev nanešených na různých substrátech (monokrystal Si v rovinách (111) a (100) a sklo) na výslednou kvalitu vrstvy. Dále bylo prováděno hodnocení jakosti povrchů Al2O3 vrstvy z hlediska její mikrodrsnosti, hodnocení morfologie povrchu nástřiků Ti a TiCr na skle a uplatnění této metody při hodnocení kvality povrchu technických keramik, hodnocení extruzí a intruzí na povrchu ocelí v průběhu únavového procesu a další. Práce si nebere za cíl podat ucelený přehled o experimentálních možnostech tohoto zařízení, spíše ukazuje možnosti využití STM pro široké spektrum technických materiálů.
BibTex
@article{BUT38857,
author="Zina {Pavloušková}",
title="Rastrovací tunelovací mikroskop - možnosti využití pro praxi",
annote="Předmětem této práce je představit příklady konkrétního využití rastrovacího tunelovacího mikroskopu (STM) typu TS 3100 fy TESCAN zabudovaném v REM JSM 25S fy JEOL. Jedná se o posouzení vlivu tloušťky Pd vrstev nanešených na různých substrátech (monokrystal Si v rovinách (111) a (100) a sklo) na výslednou kvalitu vrstvy. Dále bylo prováděno hodnocení jakosti povrchů Al2O3 vrstvy z hlediska její mikrodrsnosti, hodnocení morfologie povrchu nástřiků Ti a TiCr na skle a uplatnění této metody při hodnocení kvality povrchu technických keramik, hodnocení extruzí a intruzí na povrchu ocelí v průběhu únavového procesu a další. Práce si nebere za cíl podat ucelený přehled o experimentálních možnostech tohoto zařízení, spíše ukazuje možnosti využití STM pro široké spektrum technických materiálů.",
address="Politechnika Opolska",
booktitle="XIII Miedzynarodowe Sympozjum . Metody oceny struktury oraz",
chapter="38857",
institution="Politechnika Opolska",
journal="Zeszyty naukowe politechniki Opolskiej seria Mechanika",
number="246",
volume="1998",
year="1998",
month="december",
pages="147--151",
publisher="Politechnika Opolska",
type="journal article - other"
}