Publication detail

Kvantitativní fázové měření plazmonických metapovrchů pomocí geometricko-fázové holografické mikroskopie

Original Title

Kvantitativní fázové měření plazmonických metapovrchů pomocí geometricko-fázové holografické mikroskopie

Czech Title

Kvantitativní fázové měření plazmonických metapovrchů pomocí geometricko-fázové holografické mikroskopie

Language

cs

Original Abstract

Článek popisuje novou metodu nekoherentní holografické mikroskopie založenou na využití moderních optických prvků pracujících na principu geometrické (Pancharatnam-Berryho) fáze. Metoda kombinuje výhody achromatické mimoosové holografie a robustní jednocestné interferometrie a umožňuje kvantitativně rekonstruovat retardaci vnesenou mezi ortogonální polarizační stavy. Těchto vlastností lze s výhodou využít ke studiu amplitudové a fázové odezvy plazmonických metapovrchů. Vysoká přesnost měření fáze plazmonických metapovrchů byla ověřena pomocí kalibračního metapovrchu a dále testovaná při zobrazení metapovrchové mřížky s frekvencí 833 čar/mm a vírových metapovrchů. Díky vysoké citlivosti použité metody jsme prokázali možnost kvantitativního měření fázové odezvy metapovrchů až na úrovni jejich jednotlivých stavebních bloků a to při zachování přesnosti měření pod 0,15 radiánu.

Czech abstract

Článek popisuje novou metodu nekoherentní holografické mikroskopie založenou na využití moderních optických prvků pracujících na principu geometrické (Pancharatnam-Berryho) fáze. Metoda kombinuje výhody achromatické mimoosové holografie a robustní jednocestné interferometrie a umožňuje kvantitativně rekonstruovat retardaci vnesenou mezi ortogonální polarizační stavy. Těchto vlastností lze s výhodou využít ke studiu amplitudové a fázové odezvy plazmonických metapovrchů. Vysoká přesnost měření fáze plazmonických metapovrchů byla ověřena pomocí kalibračního metapovrchu a dále testovaná při zobrazení metapovrchové mřížky s frekvencí 833 čar/mm a vírových metapovrchů. Díky vysoké citlivosti použité metody jsme prokázali možnost kvantitativního měření fázové odezvy metapovrchů až na úrovni jejich jednotlivých stavebních bloků a to při zachování přesnosti měření pod 0,15 radiánu.

BibTex


@article{BUT159345,
  author="Petr {Bouchal} and Petr {Dvořák} and Jiří {Babocký} and Zdeněk {Bouchal} and Filip {Ligmajer} and Martin {Hrtoň} and Vlastimil {Křápek} and Alexander {Faßbender} and Stefan {Linden} and Radim {Chmelík} and Tomáš {Šikola}",
  title="Kvantitativní fázové měření plazmonických metapovrchů pomocí geometricko-fázové holografické mikroskopie",
  annote="Článek popisuje novou metodu nekoherentní holografické mikroskopie založenou na využití moderních optických prvků pracujících na principu geometrické (Pancharatnam-Berryho) fáze. Metoda kombinuje výhody achromatické mimoosové holografie a robustní jednocestné interferometrie a umožňuje kvantitativně rekonstruovat retardaci vnesenou mezi ortogonální polarizační stavy. Těchto vlastností lze s výhodou využít ke studiu amplitudové a fázové odezvy plazmonických metapovrchů. Vysoká přesnost měření fáze plazmonických metapovrchů byla ověřena pomocí kalibračního metapovrchu a dále testovaná při zobrazení metapovrchové mřížky s frekvencí 833 čar/mm a vírových metapovrchů. Díky vysoké citlivosti použité metody jsme prokázali možnost kvantitativního měření fázové odezvy metapovrchů až na úrovni jejich jednotlivých stavebních bloků a to při zachování přesnosti měření pod 0,15 radiánu.",
  chapter="159345",
  howpublished="print",
  number="4",
  volume="64",
  year="2019",
  month="april",
  pages="95--98",
  type="journal article - other"
}