Product detail
Automatizace měření výstupních charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET v héliovém kryostatu
CHVÁTAL, M. MAJZNER, J. GRMELA, L.
Product type
software
Abstract
Tento software byl navržen za účelem optimalizace a automatizace měření stejnosměrných charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET s různými rozměry kanálů na héliovém kryostatu v širokém teplotním rozsahu od 60 do 300 K.
Keywords
Héliový kryostat, submikronový tranzistor MOSFET, výstupní a převodní charakteristika, polovodičový tester Keithley 4200SC, automatizace, LabVIEW.
Create date
18.12.2012
Location
http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/automatizace-mereni-vystupnich-charakteristik-submikronovych-tranzistoru-MOSFET-v-heliovem-kryostatu
www