Publication detail

Optika a mikroskopie v blízkém poli

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., LÉTAL, P.

Original Title

Optika a mikroskopie v blízkém poli

English Title

Near-field optics and microscopy

Type

conference paper

Language

Czech

Original Abstract

Rastrovací optická mikroskopie v blízkém poli (Scanning Near-field Optical Microscopy - SNOM) v sobě kombinuje ještě nedoceněný potenciál a technologii rastrovacích mikroskopů s lokální sondou s výkonností optických mikroskopů. SNOM spojuje skvělé spektroskopické a časové rozlišení klasických optických mikroskopů s příčnou rozlišovací schopností často lepší než 100 nm. V tomto přehledu jsou popsány základní principy SNOM s aperturními sondami a některé z jeho aplikací: vliv polarizace na kvalitu obrazů, magnetické obrazy, lokální charakterizace fotonických součástek, polovodičů a defektů struktur. Tyto příklady ukazují, že SNOM poskytuje pohled do nanosvěta a není již jen pouhou raritou, nýbrž dozrává a stává se plnohodnotným nástrojem nedestruktivního bezkontaktního měření a manipulace.

English abstract

Scanning Near-field Optical Microscopy - SNOM -combines a potential and technology of scanninh microsocpes with the performance of optical microscopes. SNOM takes together splendid spectroscopic and time-domain features with the resolution better than 100 nm. This review describes the fundamentals and some applications of SNOM: polarization contrast in images, magnetooptical figures, local characteristics of optoelectronic devices, semiconductors and deffects in structure. All these exemples show that the microscope is powerful tool for the local surface characterization.

Keywords

optická mikroskopie, vzdálené pole, blízké pole, evanescentní vlny, rastrovací mikroskop v blízkém poli, lokální charakteristiky

Key words in English

optical microscopy, far field, near field, evanescent waves, SNOM, local characteristics

Authors

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., LÉTAL, P.

RIV year

2003

Released

11. 9. 2003

Publisher

Vojenská akademie Brno

Location

Brno

ISBN

80-85960-51-6

Book

3.konference o Matematice a fyzice na vysokých školách technických

Edition

Neuveden

Edition number

Neuveden

Pages from

20

Pages to

28

Pages count

9

BibTex

@inproceedings{BUT8263,
  author="Pavel {Tománek} and Markéta {Benešová} and Dana {Otevřelová} and Petr {Létal}",
  title="Optika a mikroskopie v blízkém poli",
  booktitle="3.konference o Matematice a fyzice na vysokých školách technických",
  year="2003",
  series="Neuveden",
  volume="Neuveden",
  number="Neuveden",
  pages="9",
  publisher="Vojenská akademie Brno",
  address="Brno",
  isbn="80-85960-51-6"
}