software

Jednou z možností jak získat informace o kvalitě pn přechodu nedestruktivní cestou je sledování mikroplazmatického šumu. Mikroplazmatický šum se typicky vyskytuje v polovodičových zařízeních využívajících ke své činnosti pn přechod jako například usměrňovací diody, LED diody a solární články. Měření mikroplazmatického šumu pro měření solárních článků je relativně složité. Komplikace přinášejí především nízké úrovně měřených signálů, teplotní závislosti a velká náchylnost na rušení. Pro účely měření byl vyvinut obslužný software. Tento software nachází uplatnění tam kde je nezbytné precizní, rychlé a automatizované měření. Měření šumových proudů a VA charakteristik je prováděno současně a řeší tak problém s teplotní závislostí vzorku.

VA-charakteristika, úzkopásmový šumový signál, pn přechod, solární článek

09.08.2008

Laboratoře UFYZ

http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/index.php?lang=1&page=86