Publication detail

Fluktuační jevy v elektronických součástkách: tantalové kondenzátory, tlustovrstvové odpory a heterostruktury FET

PAVELKA, J.

Original Title

Fluktuační jevy v elektronických součástkách: tantalové kondenzátory, tlustovrstvové odpory a heterostruktury FET

English Title

Fluctuation phenomena in electronic devices: tantalum capacitors, thick film resistors and heterostructures FET

Type

habilitation thesis

Language

Czech

Original Abstract

Publikace pojednává o problematice fluktuačních jevů při transportu náboje v polovodičových materiálech a součástkách a o aplikacích šumové spektroskopie pro odhad kvality a spolehlivosti pasivních i aktivních elektronických součástek

English abstract

Booklet deals with low-frequency noise in electronic materials and devices and and its use as a diagnostic tool for device characterisation. Noise spectroscopy is very sensitive technique for analysis of bulk and interface defects, determining quality and reliability of electronic devices. Fluctuation phenomena in wide range of passive and active devices are discussed, comprising noise in tantalum capacitors, thick film resistors and field effect transistors, based either on silicon, or novel III-V heterostructures, such as InGaAs/InAlAs or GaN/AlGaN.

Keywords

1/f šum, RTS šum, spolehlivost, NDT, GaN, InGaAs, MOSFET

Key words in English

1/f noise, RTS noise, reliability, NDT, GaN, InGaAs, MOSFET

Authors

PAVELKA, J.

RIV year

2008

Released

1. 1. 2008

Publisher

VUTIUM

Location

Brno

Pages from

1

Pages to

41

Pages count

41

BibTex

@misc{BUT68411,
  author="Jan {Pavelka}",
  title="Fluktuační jevy v elektronických součástkách: tantalové kondenzátory, tlustovrstvové odpory a heterostruktury FET",
  year="2008",
  pages="1--41",
  publisher="VUTIUM",
  address="Brno",
  note="habilitation thesis"
}