Publication detail

SNOM fotoluminiscence a topografické měření kvantových teček InAs/GaAs

ŠKARVADA, P. MACKŮ, R.

Original Title

SNOM fotoluminiscence a topografické měření kvantových teček InAs/GaAs

English Title

SNOM photoluminescence and topography measurement of InAs/GaAs quantum dots

Type

conference paper

Language

Czech

Original Abstract

U snímků fotoluminiscence kvantových teček InAs/GaAs lze i při použití nepokovených sond dosáhnout prostorového rozlišení lepšího než 250 nm. V článku je ukázáno spektrum generované fotoluminiscence při pokojové teplotě. Ve spektru se vyskytují dominantní vlnové délky fotoluminiscence okolo 1,3 um při teplotě 300 K. V článku je také předveden snímek topografie povrchu vzorku InAs/GaAs a lokální odrazivost povrchu téhož vzorku ve stejné oblasti. Obrázky byly získány za pomoci NTEGRA SNOM mikroskopu v reflexním uspořádání.

English abstract

The photoluminescence (PL) images of InAs/GaAs quantum dots with the spatial resolution better than 250 nm could be obtained using uncoated fiber tip. In this paper is shown the spectrum of the fotoluminescence at room temperature and the diference between far and near-field scanning. Dominated PL intensity of the quantum dots has an exponential decay with the sample probe distance. The emission wavelength of the sample is 1,3 um at room temperature 300 K. The topography image and reflective SNOM image of InAs/GaAs quantum dots from NTEGRA SNOM microscope is also shown.

Keywords

SNOM, Rastrovací optický mikroskop s lokální sondou v blízkém poli, Laterální střižné síly, Topografie, Lokální fotoluminiscence

Key words in English

SNOM, Scanning near-field optical microscope, Shear-force, Topography, Local photoluminescence

Authors

ŠKARVADA, P.; MACKŮ, R.

RIV year

2007

Released

31. 10. 2007

Publisher

Západočeská universita

Location

Plzeň

ISBN

978-80-7043-572-4

Book

Elektrotechnika a informatika 2007

Edition number

první

Pages from

105

Pages to

108

Pages count

4

BibTex

@inproceedings{BUT27788,
  author="Pavel {Škarvada} and Robert {Macků}",
  title="SNOM fotoluminiscence a topografické měření kvantových teček InAs/GaAs",
  booktitle="Elektrotechnika a informatika 2007",
  year="2007",
  number="první",
  pages="105--108",
  publisher="Západočeská universita",
  address="Plzeň",
  isbn="978-80-7043-572-4"
}