Publication detail

Skenování materiálů lokální optickou sondou v blízkém poli

Original Title

Skenování materiálů lokální optickou sondou v blízkém poli

Czech Title

Skenování materiálů lokální optickou sondou v blízkém poli

Language

cs

Original Abstract

V článku je popsán základní princip a možnosti mikroskopie se skenující lokální optickou sondou v blízkém poli. Je ukázáno spektrum fotoluminiscence kvantových teček InAs/GaAs, topografie a lokální odrazivost povrchu téhož vzorku. Vzhledem ke stejnému místu na povrchu vzorku při pořízení snímku topografie a lokální odrazivosti lze pozorovat korelaci mezi zmíněnými obrázky. Dále je předvedeno možné schéma mikroskopu pro měření lokální fotoluminiscence s detekcí ve vzdáleném poli. Spektrum generované fotoluminiscence vzorku kvantových teček při buzení zeleným laserovým světlem o vlnové délce lambda= 488 nm je dominantní na vlnové délce 1325 nm při teplotě okolí 300 K.

Czech abstract

V článku je popsán základní princip a možnosti mikroskopie se skenující lokální optickou sondou v blízkém poli. Je ukázáno spektrum fotoluminiscence kvantových teček InAs/GaAs, topografie a lokální odrazivost povrchu téhož vzorku. Vzhledem ke stejnému místu na povrchu vzorku při pořízení snímku topografie a lokální odrazivosti lze pozorovat korelaci mezi zmíněnými obrázky. Dále je předvedeno možné schéma mikroskopu pro měření lokální fotoluminiscence s detekcí ve vzdáleném poli. Spektrum generované fotoluminiscence vzorku kvantových teček při buzení zeleným laserovým světlem o vlnové délce lambda= 488 nm je dominantní na vlnové délce 1325 nm při teplotě okolí 300 K.

BibTex


@inproceedings{BUT25514,
  author="Pavel {Škarvada} and Pavel {Tománek} and Robert {Macků}",
  title="Skenování materiálů lokální optickou sondou v blízkém poli",
  annote="V článku je popsán základní princip a možnosti mikroskopie se skenující lokální optickou sondou v blízkém poli. Je ukázáno spektrum fotoluminiscence kvantových teček InAs/GaAs, topografie a lokální odrazivost povrchu téhož vzorku. Vzhledem ke stejnému místu na povrchu vzorku při pořízení snímku topografie a lokální odrazivosti lze pozorovat korelaci mezi zmíněnými obrázky. Dále je předvedeno možné schéma mikroskopu pro měření lokální fotoluminiscence s detekcí ve vzdáleném poli. Spektrum generované fotoluminiscence vzorku kvantových teček při buzení zeleným laserovým světlem o vlnové délce lambda= 488 nm je dominantní na vlnové délce 1325 nm při teplotě okolí 300 K.",
  address="Brno University of Technology",
  booktitle="5th Workshop NDT 2007. Non-destructive testing in engineering practice",
  chapter="25514",
  howpublished="print",
  institution="Brno University of Technology",
  year="2007",
  month="november",
  pages="150--154",
  publisher="Brno University of Technology",
  type="conference paper"
}