Publication detail

Uhlíkové nanotrubice – měření elektrických vlastností.

Original Title

Uhlíkové nanotrubice – měření elektrických vlastností.

Czech Title

Uhlíkové nanotrubice – měření elektrických vlastností.

Language

cs

Original Abstract

V současné době jsme schopni měřit elektrickou vodivost uhlíkových nanotrubic (CNT) na námi sestrojeném měřicím zařízení. Vzorky CNT vytvořené metodou PECVD jsou extrahovány do roztoku a poté jsou nanášeny na měřicí vzorek. Pomocí hrotového zařízení měříme hodnoty napětí a proudu jednotlivých nanotrubic. Dále se zvažuje možnost vývoje konkrétního zařízení k nanášení nanotrubic na konec hrotu pro AFM (Atomic Force Microscopy). Zjištěné hodnoty proudu umožňují jejich aplikace i na hroty STM (Scanning Tunneling Microscopy).

Czech abstract

V současné době jsme schopni měřit elektrickou vodivost uhlíkových nanotrubic (CNT) na námi sestrojeném měřicím zařízení. Vzorky CNT vytvořené metodou PECVD jsou extrahovány do roztoku a poté jsou nanášeny na měřicí vzorek. Pomocí hrotového zařízení měříme hodnoty napětí a proudu jednotlivých nanotrubic. Dále se zvažuje možnost vývoje konkrétního zařízení k nanášení nanotrubic na konec hrotu pro AFM (Atomic Force Microscopy). Zjištěné hodnoty proudu umožňují jejich aplikace i na hroty STM (Scanning Tunneling Microscopy).

BibTex


@inproceedings{BUT20907,
  author="Richard {Ficek} and Radimír {Vrba} and Lenka {Zajíčková} and Marek {Eliáš} and František {Matějka} and Vladimír {Kolařík} and Jiřina {Matějková}",
  title="Uhlíkové nanotrubice – měření elektrických vlastností.",
  annote="V současné době jsme schopni měřit elektrickou
vodivost uhlíkových nanotrubic (CNT) na námi sestrojeném měřicím zařízení. Vzorky CNT vytvořené metodou PECVD jsou extrahovány do roztoku a poté jsou nanášeny na měřicí vzorek. Pomocí hrotového zařízení měříme hodnoty napětí a proudu jednotlivých nanotrubic. Dále se zvažuje možnost vývoje  konkrétního zařízení k nanášení nanotrubic na konec hrotu pro AFM (Atomic Force Microscopy). Zjištěné hodnoty proudu umožňují jejich aplikace i na hroty STM (Scanning Tunneling Microscopy).",
  address="Z. Novotny",
  booktitle="MIKROSYN. Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích.",
  chapter="20907",
  institution="Z. Novotny",
  year="2005",
  month="december",
  pages="140",
  publisher="Z. Novotny",
  type="conference paper"
}