Product detail

Testovací lavice pro měření vlnoplochy po průchodu optického elementu

DOSTÁL, Z.

Product type

funkční vzorek

Abstract

Testovací lavice využívá DMD čip pro promítání série binárních masek. Jejich vhodnou volbou lze měřit tvar vlnoplochy, protože vlna odražená od DMD čipu je následně fokusována na detektor. Po vyčtení série dat z detektoru a při znalosti aktuální masky lze tvar vlnoplochy numericky rekonstruovat. Pro testování správné funkce detektoru je lavice doplňena deformovatelným zrcadlem. Toto zrcadlo je také použito pro korekci vad vlnoplochy, kterou vnáší optické elementy testovací lavice.

Keywords

DMD čip, vlnoplocha, detekce, numerická rekonstrukce

Create date

30.10.2020

Location

Fakulta strojnÍho inženýrství, Ustav fyzikálního inženýrství, Technická 2896/2, budova A2

Documents