Publication detail

Elektromigrace na elektronických sestavách

STARÝ, J.

Original Title

Elektromigrace na elektronických sestavách

English Title

Elektromigration in Electronic Assemblies

Type

journal article - other

Language

Czech

Original Abstract

Vysvělení elektromigrace a kategorizace. Vnější podmínky urychlující elektromigraci. Podrobněji řešena iontová elektromigrace s růstem dendritů i anodických vláken (CAF) v základním materiálu DPS. Popsány chemické reakce.

English abstract

Explanation of elektromigration and categorization. External conditions which accelerates electromigration. Description in more details ionic electromigration - dendrites and growth, the and Conductive Anodic Filaments (CAF) in the base material of PCB. Chemical reactions are described.

Keywords

elektrochemická migrace, CAF (růst anodických vláken), zkušební DPS dle IPC B-25, spolehlivost DPS

Key words in English

electrochemical migration, CAF (Cathodic Anodic Filament), PCB test boards acc. to IPC B- 25 standards, PCB reliability

Authors

STARÝ, J.

Released

19. 10. 2016

ISBN

1211-6947

Periodical

Bulletin of SMT/ISHM Int. Conference "New Trends in Microelectronics"

Number

80

State

Czech Republic

Pages from

33

Pages to

36

Pages count

4

BibTex

@article{BUT131452,
  author="Jiří {Starý}",
  title="Elektromigrace na elektronických sestavách",
  journal="Bulletin of SMT/ISHM Int. Conference {"}New Trends in Microelectronics{"}",
  year="2016",
  number="80",
  pages="33--36",
  issn="1211-6947"
}