Product detail

Tester pro dynamické zkoušky spolehlivosti výkonových MOS buněk

ŠOTNER, R. GÖTTHANS, T. DŘÍNOVSKÝ, J. PETRŽELA, J. KRATOCHVÍL, T.

Product type

funkční vzorek

Abstract

Tester slouží pro experimentální testování spolehlivosti výkonových CMOS buněk při dynamickém pulzním buzení. Umožňuje budit buňku napětím a současně měření průběhů napětí na tranzistorovém stupni a signálu indikujícího interní teplotu čipu za pomoci vestavěného senzoru teploty. Ve spolupráci s automatizovaným měřícím pracovištěm a obslužným softwarem je dovoleno ovládat měřící proceduru a zajistit záznam všech dat spolu s vizuálním stavem degradace čipu díky mikroskopu s webkamerou. Přípravek pracuje s pouzdry DIP28 (poskytl ON Semiconductor BVBA, Oudenaarde) a jako takový dovoluje připojení k běžnému laboratornímu vybavení (není nutná speciální měřící karta) komunikujícímu pomocí GPIB.

Keywords

výkonová buňka, dynamické testování, CMOS, spolehlivost

Create date

13.11.2015

Location

Ústav Radioelektroniky, FEKT VUT v Brně, Technická 3082/12, SD6.86

www

Documents