Project detail

Studium metod environmentální rastrovací elektronové mikroskopie pro zobrazení povrchové struktury vlhkých tkání

Duration: 01.01.1997 — 31.12.1999

Funding resources

Czech Science Foundation - Standardní projekty

- whole funder

Mark

GA102/97/0988

Default language

Czech

People responsible

Autrata Rudolf, prof. Ing., DrSc. - principal person responsible

Units

Results

AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Rastrovací elektronový mikroskop pracující s vyššími tlaky v komoře vzorku. In TRANSFER 99. Brno: VUT Brno, 1999. ISBN: 80-214-134.
Detail

AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Vliv prostředí na detekci signálu v REM pracujícím při vyšším tlaku. In TRANSFER 99. Brno: VUT Brno, 1999. ISBN: 80-214-134.
Detail

AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Detection of SEs and BSEs at Higher Pressure. In Proceedings of the 4th Multinational Congress on Electron Mi. Veszprém: University of Veszprém, 1999. p. 285 ( p.)
Detail

AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J., MICHÁLEK, J. Study of conditions for observation of electrode masses in a higher pressure scanning electron microscope. In Proceedings of the 22nd Meeting on Electrochemical Power Sou. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 1999. p. 26 ( p.)ISBN: 80-214-135.
Detail

AUTRATA, R., ŠPINKA, J., JIRÁK, J. Scanning electron microscopy at higher pressure. In 1st Congress of the Croatian Society for Electron Microscopy. Zagreb: Society for Electron Microscopy, 1999. p. 75 ( p.)
Detail

AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J., ROMANOVSKÝ, V. Environmental scanning electron microscopy for the study of wet specimens. In Proceedings of the 4th Multinational Congress on Electron Mi. Veszprém: University of Veszprém, 1999. p. 105 ( p.)
Detail

JIRÁK, J., KLVAČ, M. Detector for backscattered electrons in environmental SEM. In Proceedings of the 4th Multinational Congress on Electron Mi. Veszprém: University of Veszprém, 1999. p. 335 ( p.)
Detail

AUTRATA, R., JIRÁK, J., ŠPINKA, J. Signal detection in SEM at higher pressure. In 1st Congress of the Croatian Society for Electron Microscopy. Zagreb: Society for Electron Microscopy, 1999. p. 63 ( p.)
Detail