Publikace
2025
ŠIMŮNKOVÁ, H.; KOLÍBALOVÁ, E.; KALINA, L.; LEDNICKÝ, T.; BÁBOR, P.; HUBÁLEK, J. Tantalum electrodeposition using a nanoporous anodic alumina template and a nanostructured gold/nickel-chromium glass-ceramic substrate. Vacuum, 2025, roč. 239, č. 114438, ISSN: 0042-207X.
Detail | WWWFREY, M.; PICKER, J.; NEUMANN, CH.; VIŠŇÁK, J.; MACHÁČEK, J.; TOK, O. L.; BÁBOR, P.; BAŠE, T.; TURCHANIN, A. Carborane Nanomembranes. ACS Nano, 2025, roč. 19, č. 8,
s. 8131-8141. ISSN: 1936-0851.
Detail | WWW2024
Zhang, ZH.; Zhou, LW.; Chen, ZX.; Jaros, A.; Kolíbal, M.; Bábor, P.; Zhang, QZ.; Yan, CL.; Qiao, RX.; Zhang, Q.; Zhang, T.; Wei, W.; Cui, Y.; Qiao, JS.; Liu, LW.; Bao, LH; Yang, HT.; Cheng, ZH.; Wang, YL.; Wang, EG.; Liu, Z.; Willinger, M.; Gao, HJ.; Liu, KH.; Ji, W.; Wang, ZJ. Layer-by-layer growth of bilayer graphene single-crystals enabled by proximity catalytic activity. Nano Today, 2024, roč. 59, č. 102482, ISSN: 1878-044X.
Detail | WWW2023
UKROPCOVÁ, I.; DAO, R.; ŠTUBIAN, M.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T.; WILLINGER, M.; WANG, Z.; ZLÁMAL, J.; BÁBOR, P. Electron Tractor Beam: Deterministic Manipulation of Liquid Droplets on Solid Surfaces. Advanced Materials Interfaces, 2023, roč. 10, č. 2, ISSN: 2196-7350.
Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovněWang, ZJ.; Kong, X.; Huang, YA.; Li, J.; Bao, LH.; Cao, KC.; Hu, YX.; Cai, J.; Wang, LF.; Chen, H.; Wu, YS.; Zhang, YW.; Pang, F.; Cheng, ZH.; Babor, P.; Kolibal, M.; Liu, ZK.; Chen, YL.; Zhang, Q.; Cui, Y.; Liu, KH.; Yang, HT.; Bao, XH.; Gao, HJ.; Liu, Z.; Ji, W.; Ding, F.; Willinger, MG. Conversion of chirality to twisting via sequential one-dimensional and two-dimensional growth of graphene spirals. Nature Materials, 2023, roč. 1, č. 1,
s. 1-205. ISSN: 1476-4660.
Detail | WWW2022
Sen, HS.; Daghbouj, N.; Callisti, M.; Vronka, M.; Karlik, M.; Duchon, J.; Cech, J.; Lorincik, J.; Havranek, V.; Babor, P.; Polcar, T. Interface-Driven Strain in Heavy Ion-Irradiated Zr/Nb Nanoscale Metallic Multilayers: Validation of Distortion Modeling via Local Strain Mapping. ACS applied materials & interfaces, 2022, roč. 14, č. 10,
s. 12777-12796. ISSN: 1944-8252.
Detail | WWW2021
DAGHBOUJ, N.; CALLISTI, M.; SEN, H. S.; KARLIK, M.; ČECH, J.; VRONKA, M.; HAVRÁNEK, V.; ČAPEK, J.; MINÁRIK, P.; BÁBOR, P.; POLCAR, T. Interphase boundary layer-dominated strain mechanisms in Cu+ implanted Zr-Nb nanoscale multilayers. Acta materialia, 2021, roč. 202, č. 1,
s. 317-330. ISSN: 1359-6454.
Detail | WWWVANĚK, T., HÁJEK, F., DOMINEC, F., HUBÁČEK, T., KULDOVÁ, K., PANGRÁC, J., KOŠUTOVÁ, T., KEJZLAR, P., BÁBOR, P., LACHOWSKI, A., HOSPODKOVÁ, A. Luminescence redshift of thick InGaN/GaN heterostructures induced by the migration of surface adsorbed atoms. JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, 2021, roč. 565, č. 1,
s. 126151-126151. ISSN: 0022-0248.
Detail | WWWUKRAINTSEV, E.; KROMKA, A.; JANSSEN, W.; HAENEN, K.; TAKEUCHI, D.; BÁBOR, P.; REZEK, B. Electron emission from H-terminated diamond enhanced by polypyrrole grafting. CARBON, 2021, roč. 176, č. 1,
s. 642-649. ISSN: 0008-6223.
Detail | WWWMACKOVÁ, A.; FERNANDES, S.; MATĚJÍČEK, J.; VILÉMOVÁ, M.; HOLÝ, V.; LIEDKE, M.O.; MARTAN, J.; VRONKA, M.; POTOČEK, M.; BÁBOR, P.; BUTTERLING, M.; ATTALLAH, A.G.; HIRSCHMANN, E.; WAGNER, A.; HAVRANEK, V. Radiation damage evolution in pure W and W-Cr-Hf alloy caused by 5 MeV Au ions in a broad range of dpa. Nuclear Materials and Energy, 2021, roč. 29, č. 1,
s. 101085-1 (101085-15 s.) ISSN: 2352-1791.
Detail | WWW2019
HOLEŇÁK, R.; SPUSTA, T.; POTOČEK, M.; SALAMON, D.; ŠIKOLA, T.; BÁBOR, P. 3D localization of spinel (MgAl2O4) and sodium contamination in alumina by TOF-SIMS. MATERIALS CHARACTERIZATION, 2019, roč. 148, č. 1,
s. 252-258. ISSN: 1044-5803.
Detail | WWWGRÉZLOVÁ, V.; MICHLOVSKÁ, L.; ŠMERKOVÁ, K.; KOPEL, P.; ADAM, V.; KOČIOVÁ, S.; BÁBOR, P.; DIVIŠ, P.; VOJTOVÁ, L. Antibacterial Selenium Nanoparticles and their Effect on Properties of Polymer-Phosphate Bone Cement. eCM Periodical. eCM Periodical, 2019.
s. 26-26. ISSN: 2522-235X.
Detail | WWWKUNC, J.; REJHON, M.; DĚDIČ, V.; BÁBOR, P. Thickness of sublimation grown SiC layers measured by scanning Raman spectroscopy. Journal of Alloys and Compounds, 2019, roč. 789, č. 1,
s. 607-612. ISSN: 0925-8388.
Detail | WWWGRÉZLOVÁ, V.; MICHLOVSKÁ, L.; ŠMERKOVÁ, K.; KOPEL, P.; ADAM, V.; KOČIOVÁ, S.; BÁBOR, P.; DIVIŠ, P.; VOJTOVÁ, L. Antibacterial polymer-phosphate bone cement targeted on the osteomyelitis treatment. Czech Chemical Society Symposium Series 17 (1) XIX. Interdisciplinary Meeting of Young Biologists, Biochemists and Chemists. Czech chemical society symposium series. Praha: Czech Chemical Society, 2019.
s. 11-11. ISSN: 2336-7202.
Detail | WWW2018
ŠIK, O.; BÁBOR, P.; POLČÁK, J.; BELAS, E.; MORAVEC, P.; GRMELA, L.; STANĚK, J. Low Energy Ion Scattering as a depth profiling tool for thin layers - Case of bromine Methanol etched CdTe. Vacuum, 2018, č. 152,
s. 138-144. ISSN: 0042-207X.
Detail | WWWBÁBOR, P. Komparativní analýza vrstevnatých struktur metodou SIMS. 2018.
s. 1 (1 s.).
DetailGRÉZLOVÁ, V.; MICHLOVSKÁ, L.; ŠMERKOVÁ, K.; KOPEL, P.; ADAM, V.; KOČIOVÁ, S.; BÁBOR, P.; DIVIŠ, P.; POLÁČEK, P.; VOJTOVÁ, L. The Effect Of Antibacterial Selenium Nanoparticles On The Properties Of Polymer-Phosphate Bone Fillers. 7th Meeting on Chemistry and Life 2018. Book of abstracts. Brno: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta chemická, Purkyňova 464/118, 612 00 Brno, 2018.
s. 136-136. ISBN: 978-80-214-5488-0.
DetailGRÉZLOVÁ, V.; VOJTOVÁ, L.; MICHLOVSKÁ, L.; ŠMERKOVÁ, K.; KOPEL, P.; ADAM, V.; KOČIOVÁ, S.; BÁBOR, P.; DIVIŠ, P. Thixotropic polymer-phosphate bone filler modified with antibacterial selenium nanoparticles. Biomateriály a jejich povrchy XI. Praha: České vysoké učení technické v Praze, 2018.
s. 75-76. ISBN: 978-80-01-06471-9.
Detail2017
JIANG, L.; XIAO, N.; WANG, B.; GRUSTAN-GUTIERREZ, E.; JING, X.; BÁBOR, P.; KOLÍBAL, M.; LU, G.; WU, T.; WANG, H.; HUI, F.; SHI, Y.; SONG, B.; XIE, X.; LANZA, M. High-resolution characterization of hexagonal boron nitride coatings exposed to aqueous and air oxidative environments. Nano Research, 2017, roč. 10, č. 6,
s. 2046-2055. ISSN: 1998-0000.
Detail | WWW2016
ŠIK, O.; BÁBOR, P.; ŠKARVADA, P.; POTOČEK, M.; TRČKA, T.; GRMELA, L.; BELAS, E. Investigation of the effect of argon ion beam on CdZnTe single crystals surface structural properties. Surface and Coatings Technology, 2016, roč. 306, č. A,
s. 75-81. ISSN: 0257-8972.
Detail | WWWBÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIKOLA, T. Příprava vzorků pro testování rozlišení. Brno: 2016.
s. 1-14.
Detail2015
PRŮŠA, S.; PROCHÁZKA, P.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T.; TER VEEN, R.; FARTMANN, M.; GREHL, T.; BRÜNER, P.; ROTH, D.; BAUER, P.; BRONGERSMA, H. Highly Sensitive Detection of Surface and Intercalated Impurities in Graphene by LEIS. Langmuir, 2015, roč. 31, č. 35,
s. 9628-9635. ISSN: 0743-7463.
DetailBÁBOR, P.; DUDA, R.; POLČÁK, J.; PRŮŠA, S.; POTOČEK, M.; VARGA, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Real-time observation of self-limiting SiO2/Si decomposition catalysed by gold silicide droplets. RSC Advances, 2015, roč. 5, č. 123,
s. 101726-101731. ISSN: 2046-2069.
Detail2014
STEVIE, F.; SEDLÁČEK, L.; BÁBOR, P.; JIRUŠE, J.; PRINCIPE, E.; KLOSOVÁ, K. FIB-SIMS quantification using TOF- SIMS with Ar and Xe plasma sources. Surface and Interface Analysis, 2014, roč. 46, č. S1,
s. 285-287. ISSN: 0142- 2421.
Detail2013
BER, B.; BÁBOR, P.; BRUNKOV, P.; CHAPON, P.; DROZDOV, M.; DUDA, R.; KAZANTSEV, D.; POLKOVNIKOV, V.; YUNIN, P.; TOLSTOGOUZOV, A. Sputter depth profiling of Mo/B4C/Si and Mo/Si multilayer nanostructures: A round- robin characterization by different techniques. Thin Solid Films, 2013, roč. 540, č. 1,
s. 96-105. ISSN: 0040- 6090.
Detail2011
BÁBOR, P.; LYSÁČEK, D.; ŠIK, J. Polycrystalline Silicon Layers with Enhanced Thermal Stability. Solid State Phenomena, 2011, roč. 178- 179, č. 385,
s. 385-391. ISSN: 1662- 9779.
DetailBÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Depth resolution enhancement by combined DSIMS and TOF- LEIS profiling. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2011, roč. 269, č. 3,
s. 369-373. ISSN: 0168- 583X.
DetailBÁBOR, P.; MAŠEK, K. Metody povrchové a tenkovrstvové analýzy prvkového složení (XPS, AES, SIMS), dirfrakce elektronů. Materials Structure, 2011, roč. 2011, č. 18,
s. 251-257. ISSN: 1211- 5894.
Detail2010
ČECHAL, J.; POLČÁK, J.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Formation of copper islands on a native SiO2 surface at elevated temperatures. Applied Surface Science, 2010, roč. 256, č. 11,
s. 3636-3641. ISSN: 0169- 4332.
DetailURBÁNEK, M.; UHLÍŘ, V.; BÁBOR, P.; KOLÍBALOVÁ, E.; HRNČÍŘ, T.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Focused ion beam fabrication of spintronic nanostructures: an optimization of the milling process. NANOTECHNOLOGY, 2010, roč. 21, č. 14,
s. 145304- 1 (145304-7 s.) ISSN: 0957-4484.
DetailPOLČÁK, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; URBÁNEK, M.; PRŮŠA, S.; ŠIKOLA, T. Angle-resolved XPS depth profiling of modeled structures: testing and improvement of the method. Surface and Interface Analysis, 2010, roč. 42, č. 5- 6,
s. 649-652. ISSN: 0142- 2421.
DetailMATLOCHA, T.; PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; PRIMETZHOFER, D.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. A study of a LEIS azimuthal scan behavior: Classical dynamics simulation. Surface Science, 2010, roč. 604, č. 21- 22,
s. 1906-1911. ISSN: 0039- 6028.
Detail2009
POLČÁK, J.; BÁBOR, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Manipulátor vzorku pro rentgenovou fotoelekronovou spektroskopii do velmi vysokého vakua. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7- 8,
s. 215-216. ISSN: 0447- 6441.
DetailPOTOČEK, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Využití termální desorpční spektroskopie při studiu povrchové kontaminace. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7- 8,
s. 217-218. ISSN: 0447- 6441.
DetailMAŠEK, K.; VÁCLAVŮ, M.; BÁBOR, P.; MATOLÍN, V. Sn-CeO2 thin films prepared by rf magnetron sputtering: XPS and SIMS study. Applied Surface Science, 2009, roč. 255, č. 13- 14,
s. 6656-6660. ISSN: 0169- 4332.
DetailBÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; KALOUSEK, R.; NEUMAN, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Mechanika iontů jako prostředek k analýze nanosvěta. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7- 8,
s. 209-214. ISSN: 0447- 6441.
Detail2007
PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Analysis of thin films by TOF- LEIS. ACTA PHYSICA POLONICA A, 2007, roč. 111, č. 3,
s. 335-341. ISSN: 0587- 4246.
DetailČECHAL, J.; MACH, J.; VOBORNÝ, S.; KOSTELNÍK, P.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. A study of Ga layers on Si(100)-(2x1) by SR-PES: influence of adsorbed water. Surface Science, 2007, roč. 601, č. 9,
s. 2047-2053. ISSN: 0039- 6028.
Detail2006
KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; TOMANEC, O.; KOSTELNÍK, P.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. In situ Analysis of Ga-ultra Thin Films by ToF- LEIS. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2006, roč. 249, č. 1- 2,
s. 318-321. ISSN: 0168- 583X.
Detail2005
ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. A Study of Gallium Growth on Si(111) 7x7 by SRPES. 1. Vienna: 2005.
s. 259-259.
DetailBÁBOR, P.; POTOČEK, M.; URBÁNEK, M.; MACH, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; SOBOTA, J.; BOCHNÍČEK, Z.; ŠIKOLA, T. Depth Profiling of Ultrathin Films and Their Multilayers by DSIMS. 1. Manchester: 2005.
s. 178-178.
DetailKOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; TOMANEC, O.; POTOČEK, M.; ČECHAL, J.; KOSTELNÍK, P.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. Application of ToF LEIS for Monitoring the growth and thermal treatment of Ga ultrathin films. 1. Vienna: 2005.
s. 191-191.
DetailKOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; TOMANEC, O.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. In situ Analysis of Ga-ultra Thin Films by TOF- LEIS. 1. Seville: 2005.
DetailVOBORNÝ, S.; MACH, J.; POTOČEK, M.; KOSTELNÍK, P.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Analysis of GaN Ultrathin Films grown by Direct Ion Beam Deposition. 1. Vienna: 2005.
s. 117-117.
DetailBÁBOR, P.; POTOČEK, M.; URBÁNEK, M.; MACH, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; SOBOTA, J.; BOCHNÍČEK, Z.; ŠIKOLA, T. Depth Profiling of Ultrathin Films and Their Multilayers by DSIMS. 1. Seville: 2005.
Detail2004
VOBORNÝ, S.; MACH, J.; ČECHAL, J.; KOSTELNÍK, P.; TOMANEC, O.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Application of Complex UHV Apparaturus in a Study of Low-tepmerature Gallium- nitride Ultrathin Film Growth. Jemná mechanika a optika, 2004, roč. 9, č. 9,
s. 265 ( s.) ISSN: 0447- 6441.
DetailKOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis. Jemná mechanika a optika, 2004, roč. 9, č. 9,
s. 262 ( s.) ISSN: 0447- 6441.
DetailVOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; MACH, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; PRŮŠA, S.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Deposition and in-situ charakterization of ultra- thin films. Thin Solid Films, 2004, roč. 459, č. 1- 2,
s. 17 ( s.) ISSN: 0040- 6090.
DetailKOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. ToF-LEIS Analysis of ultra thin films: Ga and Ga-N layer growth on Si(111). Surface Science, 2004, roč. 566- 568, č. 9,
s. 885 ( s.) ISSN: 0039- 6028.
DetailVOBORNÝ, S., MACH, J., KOLÍBAL, M., ČECHAL, J., BÁBOR, P., POTOČEK, M., ŠIKOLA, T. A study of Early Periods of GaN Ultrathin Film Growth. In New Trends in Pysics. Brno: VUT v Brně, 2004.
s. 270 ( s.) ISBN: 80-7355-024- 5.
DetailKOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., BÁBOR, P., BARTOŠÍK, M., TOMANEC, O., ŠIKOLA, T. Growth of gallium on sillicon: A TOF- LEIS and AFM study. In New Trend in Physics. Brno: VUT v Brně, 2004.
s. 230 ( s.) ISBN: 80-7355-024- 5.
Detail2003
PRŮŠA, S., KOLÍBAL, M., BÁBOR, P., MACH, J., JURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T. Analysis of thin films by TOF LEIS. In EVC' 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003.
s. 133 ( s.)
DetailKOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., BÁBOR, P., BAUER, P., ŠIKOLA, T. TOF-LEIS analysis of ultra thin films: Ga- and Ga-N layer growth on Si (111). In ECOSS 22 CD. Praha: FÚ AV ČR, 2003.
s. 0 ( s.)
DetailVOBORNÝ, S., KOLÍBAL, M., MACH, J., ČECHAL, J., BÁBOR, P., PRŮŠA, S., SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T. Deposition and in situ characterization of ultra- thin films. In EVC' 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003.
s. 45 ( s.)
DetailBÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Zobrazení iontovým svazkem a 2D SIMS. Jemná mechanika a optika, 2003, roč. 48, č. 6,
s. 178 ( s.) ISSN: 0447- 6441.
DetailBÁBOR, P. Hloubkové profilování a 2D SIMS – současný stav. In Zpravodaj CVS 11(2). Praha: CVS, 2003.
s. 23 ( s.)
DetailBÁBOR, P., KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T. Application of a simple imaging system in SIMS and TOF LEIS. In ECOSS 22 CD. Praha: FÚ AV ČR, 2003.
s. 0 ( s.)
Detail2002
TICHOPÁDEK, P., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., NAVRÁTIL, K., ČECHAL, J., JURKOVIČ, P., BÁBOR, P. A Study of Thin Oxide Films by Ellipsometry and AR XPS. Surface and Interface Analysis, 2002, roč. 34, č. 1,
s. 531 ( s.) ISSN: 0142- 2421.
DetailŠIKOLA, T., LOPOUR, F., BÁBOR, P., BUŠ, V., ŠKODA, D., DUARTE, J. Application of SPM in surface studies and nanotechnology. 2002, roč. 47, č. 6- 7,
s. 210 ( s.) ISSN: 0447- 6411.
Detail2001
PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., BÁBOR, P. Application of ToF - LEIS for Analysis of Surfaces and Ultra Thin Films. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001.
s. 404 ( s.) ISBN: 80-214-1992- X.
DetailJURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T., BÁBOR, P., ČECHAL, J. Studium ultratenkých vrstevnatých struktur. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001.
s. 364 ( s.) ISBN: 80-214-1992- X.
DetailPRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J. Application of TOF - LEIS and XPS for Surface Studies. In Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3). Brno: Vutium, 2001.
s. 486 ( s.) ISBN: 80-214-1892- 3.
DetailBÁBOR, P. Analýza povrchů a tenkých vrstev metodu SIMS. In Juniormat ' 01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001.
s. 131 ( s.)
DetailPRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P. Ion Scattering Spectrosopy - A Tool for Surface Analysis. In Juniormat ' 01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001.
s. 86 ( s.)
DetailVOBORNÝ, S., ŠIKOLA, T., PRŮŠA, S., ZLÁMAL, J., BÁBOR, P. Diagnostics and optimization of ion source parameters. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001.
s. 304 ( s.) ISBN: 80-214-1992- X.
DetailVOBORNÝ, S., ZLÁMAL, J., BÁBOR, P. Deposition of Ultrathin Films - Optimalisation of Ion Beam Optics. In Juniormat ' 01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001.
s. 281 ( s.)
DetailBÁBOR, P. Analýza povrchů tenkých vrstev metodou SIMS. In Juniormat ' 01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001.
s. 131 ( s.)
Detail2000
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., BÁBOR, P., DUARTE, J., MATĚJKA, F. Etching of Microstructures and Modification of Solid Surfaces by Low Energy Ion Beams. In MicroMat 2000. Berlin: Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht, 2000.
s. 919 ( s.)
DetailBÁBOR, P. In-situ monitorování povrchu pevných látek bombardovaných iontovým svazkem – návrh energiového filtru pro aplikaci v SIMS. In II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI. Brno: Vutium, 2000.
s. 13 ( s.)
Detail
*) Citace publikací se generují jednou za 24 hodin.